检索结果-内蒙古大学图书馆

中国科学（E辑） 2005年第4期35卷 426-438页

作者：丁敏唐璞山周电上海复旦大学微电子系专用集成电路国家重点实验室上海200433

提出了一个可满足性问题解决器,它结合了DPLL(Davis Putnam Loge-mann and Loveland)算法和作为高级推理技术之一的失败性文字检查(FLD,FailedLiteral Detection)技术.在失败性文字检查技术中,又提出了动态筛选方法,它包含了两条规则:... 详细信息

提出了一个可满足性问题解决器,它结合了DPLL(Davis Putnam Loge-mann and Loveland)算法和作为高级推理技术之一的失败性文字检查(FLD,FailedLiteral Detection)技术.在失败性文字检查技术中,又提出了动态筛选方法,它包含了两条规则:内部和外部筛选.在保证能在每个决策层上发现大部分失败性文字的同时,降低了失败性文字检查所测试的文字数目及相应的计算时间.不同于其他类型的预定义的删除标准,在这一方法中文字的删除是动态的,从这点上讲,文中的失败性文字检查算法可以适应不同类型的测试基准实例.许多不必要的测试可以被避免,因而提高了失败性文字检查的计算速度.为了进一步提高失败性文字检查的效率,故此还增加了其他静态的测试约束.实验表明,经过优化后的失败性文字检查算法的效率明显高于其他的高级正向推理技术.

关键词：问题解决可满足性推理过程高级正向推理技术检查技术筛选方法计算时间测试基准计算速度 and 算法决策层中文字动态删除类型

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芯片内互连线计算中的一种算法实现

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微电子学 2005年第6期35卷 600-604,633页

作者：徐帆蔡伟曾璇复旦大学微电子系专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433

文章解决了将“变方向隐式方法的三维时域有限差分法”(3D AD I-FDTD)应用于高速芯片内互连线的电磁场计算中很多关键问题,包括源的产生方案及其数值结构,具体边界吸收条件的差分格式。特别是针对芯片互连线中的多层介质、多导体线的结... 详细信息

文章解决了将“变方向隐式方法的三维时域有限差分法”(3D AD I-FDTD)应用于高速芯片内互连线的电磁场计算中很多关键问题,包括源的产生方案及其数值结构,具体边界吸收条件的差分格式。特别是针对芯片互连线中的多层介质、多导体线的结构,提出了稀疏的矩阵模型和可变网格的划分。数值实验表明,对原有AD I-FDTD方法所做的这些改进,能够在保证适当精度的情况下提高计算速度。

关键词：芯片内互连线时域有限差分法 ADI—FDTD方法吸收边界条件

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基于RSM和均匀试验的IC成品率设计方法

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电路与系统学报 2005年第3期10卷 89-92页

作者：荆明娥周电马晓华马佩军郝跃复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室西安电子科技大学微电子研究所陕西西安710071 西安电子科技大学微电子研究所

本文给出了一种基于均匀试验设计的响应表面模型,同时得到该模型在VLSI集成电路参数成品率中的优化方法。本方法首先对电路的关键参数进行扫描,确定满足电路基本性能时的参数变化范围。在此范围内,可对电路参数进行以数论方法为基础的... 详细信息

本文给出了一种基于均匀试验设计的响应表面模型,同时得到该模型在VLSI集成电路参数成品率中的优化方法。本方法首先对电路的关键参数进行扫描,确定满足电路基本性能时的参数变化范围。在此范围内,可对电路参数进行以数论方法为基础的均匀试验设计和建立响应表面。对拟合得到的响应表面模型进行CV拟合检验,求出最佳的电路设计值。本方法适用于集成电路的工艺、器件和电路级的模拟。

关键词：均匀试验设计响应表面方法(RSM) 参数成品率统计和优化

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深亚微米CMOS运算放大器的综合

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计算机辅助设计与图形学学报 2004年第12期16卷 1631-1639页

作者：易婷洪志良复旦大学微电子学系专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433

利用一种计算电路直流工作点的技术 ,并采用基于BSIM 3v3MOS模型的MOS管评估器来提高基于公式法进行电路综合的精度 ;同时提出一种综合策略 ,使得综合后得出的运算放大器在工艺波动和工作条件 (如电源电压和温度 )变化时 ,仍能满足性能... 详细信息

利用一种计算电路直流工作点的技术 ,并采用基于BSIM 3v3MOS模型的MOS管评估器来提高基于公式法进行电路综合的精度 ;同时提出一种综合策略 ,使得综合后得出的运算放大器在工艺波动和工作条件 (如电源电压和温度 )变化时 ,仍能满足性能要求大量的实验结果表明 :文中方法可以快速综合出可制造的深亚微米CMOS运算放大器。

关键词： CMOS运算放大器模拟电路综合直流工作点可制造性电路设计

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低电压满电源幅度CMOS运算放大器设计

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固体电子学研究与进展 2004年第3期24卷 373-380页

作者：徐栋麟林越杨柯程旭任俊彦许俊复旦大学微电子学系专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433

回顾了在标准 CMOS工艺下 ,满幅度运放设计的各个发展阶段 ,结合笔者实际设计和测试的相关电路 ,较为详细地评述了它们的设计方法和各自的优缺点 ,着重阐述了低工作电压设计思想和如何做到输入级跨导的满幅度范围内恒定 ,使读者清楚了... 详细信息

回顾了在标准 CMOS工艺下 ,满幅度运放设计的各个发展阶段 ,结合笔者实际设计和测试的相关电路 ,较为详细地评述了它们的设计方法和各自的优缺点 ,着重阐述了低工作电压设计思想和如何做到输入级跨导的满幅度范围内恒定 ,使读者清楚了解该类运放的各自特点和发展趋势 ,为数模混合设计和系统级集成设计中采用何种运放结构提供了参考。在此基础上 ,提出了一种共模偏置电压具有严格的对称性能的新型满电源幅度运算放大器结构。

关键词：满电源幅度运算放大器低电压 CMOS

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一种全差分的高速CMOS运算跨导放大器(OTA)的优化设计

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计算机辅助设计与图形学学报 2004年第12期16卷 1640-1644页

作者：迮德东易婷方杰洪志良复旦大学微电子学系专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433

全差分高速CMOS运算跨导放大器由一个折叠级联输入级和一个共源输出增益级构成 ,并采用Cascode补偿技术在对运算跨导放大器的性能做了详细的分析后 ,设计出一个采用单纯形优化算法的优化程序 ,它能够快速地设计出满足指标的运算跨... 详细信息

全差分高速CMOS运算跨导放大器由一个折叠级联输入级和一个共源输出增益级构成 ,并采用Cascode补偿技术在对运算跨导放大器的性能做了详细的分析后 ,设计出一个采用单纯形优化算法的优化程序 ,它能够快速地设计出满足指标的运算跨导放大器

关键词：运算跨导放大器(OTA) 折叠-级联放大器代价函数单纯形算法

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用于模拟电路行为级建模的自动压扩子波方法

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Journal of Semiconductors 2004年第10期25卷 1338-1344页

作者：王健曾璇陶俊童家榕复旦大学微电子系专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433

提出了一种新的自动压扩方法 ,适用于基于子波配置方法的模拟电路行为级建模 .该压扩方法采用的压扩函数根据模块输入 -输出函数的奇异性自动生成 ,因而这一方法具有通用性 ,可应用于任意输入 -输出函数的电路模块的建模 .与已有的建模... 详细信息

提出了一种新的自动压扩方法 ,适用于基于子波配置方法的模拟电路行为级建模 .该压扩方法采用的压扩函数根据模块输入 -输出函数的奇异性自动生成 ,因而这一方法具有通用性 ,可应用于任意输入 -输出函数的电路模块的建模 .与已有的建模方法相比 ,该方法能有效地降低模拟误差并减少使用基函数的个数 .

关键词：行为级模型子波配置方法非线性自动压扩模拟电路

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一种新颖的基于层划分的等价验证方法

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微电子学 2004年第6期34卷 618-623页

作者：李亮唐璞山张忠林复旦大学微电子系专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433

　提出了一种基于SAT问题的组合电路等价验证算法,该算法特别适用于验证有着一定相似部分的两个电路。其主要创新之处为:1)基于层划分的配对点生成方法;2)基于阈值控制的回溯过程。ISCAS'85的实例很好地证明了该算法的有效性。

关键词：组合电路形式验证等价验证电路划分

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用于多相和正交信号产生的RF互耦振荡器原理

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微电子学 2004年第6期34卷 624-627,630页

作者：王健谭俊 Omar Wing 复旦大学微电子系专用集成电路与系统国家重点实验室上海200433

　文章证明了以一定方式相互耦合的多个相同子系统构成的系统在一定条件下能够产生多相或正交振荡信号。根据这一理论,作为例子,给出了一个RC多相互耦振荡器,并推导出了其保持稳定振荡的条件。此外,对于四相位,即正交相位,的情况,也给... 详细信息

　文章证明了以一定方式相互耦合的多个相同子系统构成的系统在一定条件下能够产生多相或正交振荡信号。根据这一理论,作为例子,给出了一个RC多相互耦振荡器,并推导出了其保持稳定振荡的条件。此外,对于四相位,即正交相位,的情况,也给出了具体的数值结果,与前面的理论分析相一致。

关键词：多相信号产生正交信号产生互耦振荡器射频电路

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应用于FPGA芯片的边界扫描电路

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微电子学 2004年第3期34卷 326-329,333页

作者：马晓骏童家榕复旦大学微电子系专用集成电路国家重点实验室上海200433

　针对在FPGA芯片中的应用特点,设计了一种边界扫描电路,应用于自行设计的FPGA新结构之中。该电路侧重于电路板级测试功能的实现,兼顾芯片功能的测试;同时,加入了器件编程功能。在电路设计中采用单触发器链寄存器技术,节省芯片面积。版... 详细信息

　针对在FPGA芯片中的应用特点,设计了一种边界扫描电路,应用于自行设计的FPGA新结构之中。该电路侧重于电路板级测试功能的实现,兼顾芯片功能的测试;同时,加入了器件编程功能。在电路设计中采用单触发器链寄存器技术,节省芯片面积。版图设计采用0.6μm标准CMOS工艺,并实际嵌入FPGA芯片中进行流片。该电路可实现测试、编程功能,并符合IEEE1149.1边界扫描标准的规定,测试结果达到设计要求。

关键词：边界扫描现场可编程门阵列可测试性设计器件编程

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