检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：胡小军崔强肖庆中方文啸吴建飞乔彦彬陈奕旭胡光亮汤海波付君周镒李楠杨红波卞建勇刘星汛刘挺李燕李金龙周雷鞠文静熊璞程江河苏州泰思特电子科技有限公司深圳市北测标准技术服务有限公司上海雷卯电子科技有限公司中国电子技术标准化研究院工业和信息化部电子第五研究所北京智芯微电子科技有限公司天津先进技术研究院中国信息通信研究院广州市诚臻电子科技有限公司扬芯科技(深圳)有限公司东莞职业技术学院北京无线电计量测试研究所重庆邮电大学中国计量大学上海市计量测试技术研究院江苏省计量科学研究院国网电力科学研究院有限公司重庆仕益产品质量检测有限责任公司厦门市产品质量监督检验院

标准类型：国家标准

本文件定义了一种传输线脉冲（TLP）试验方法，用于评估被测半导体器件的电压电流响应，并考量静电放电（ESD）人体模型（HBM）防护的设计参数。本文件建立了一种与TLP有关的试验和报告信息的方法。本文件的范围和重点涉及半导体器件的...

标准号: GB/T 44635-2024

本文件定义了一种传输线脉冲（TLP）试验方法，用于评估被测半导体器件的电压电流响应，并考量静电放电（ESD）人体模型（HBM）防护的设计参数。本文件建立了一种与TLP有关的试验和报告信息的方法。本文件的范围和重点涉及半导体器件的TLP试验技术。本文件不是HBM试验标准（例如IEC 60749 26）的替代方法。本文件的目的是建立TLP方法的指南，以便提取半导体器件的HBM ESD参数。本文件提供了使用TLP正确提取HBM ESD参数的标准测量和程序。

关键词：

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T/R组件高温环境试验方法研究

引用

电子产品可靠性与环境试验 2020年第S02期38卷 13-16页

作者：张毅男杨然高明哲胡巨刚杨司邦工业和信息化部电子第五研究所可靠性与环境工程中心广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所广东广州510610 广东省电子信息产品可靠性与环境工程技术研究开发中心广东广州510610 电子信息产品可靠性分析与测试技术国家地方联合工程研究中心广东广州510610

详细地叙述了带冷板的T/R组件高温环境试验所需收集的信息和实施过程中的注意事项,探讨了一种T/R组件的试验方法。并举例说明了该方法在工程实际中的具体应用。该方法也可以推广到其他带有冷却系统的产品的环境与可靠性试验中,具有一定... 详细信息

详细地叙述了带冷板的T/R组件高温环境试验所需收集的信息和实施过程中的注意事项,探讨了一种T/R组件的试验方法。并举例说明了该方法在工程实际中的具体应用。该方法也可以推广到其他带有冷却系统的产品的环境与可靠性试验中,具有一定的工程实用价值。

关键词： T/R组件环境试验试验程序注意事项

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短文本数据增强方法、系统及检测认证服务平台

短文本数据增强方法、系统及检测认证服务平台

引用

作者：赵国祥刘小茵刘业政朱婷婷李玲菲高智伟尚斌姜元春孙春华孙见山程广明 510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号

本发明涉及一种短文本数据增强方法，包括以下步骤：获取短文本文档合集，打开短文本文档合集内的所有文档，读取各文档的文本内容；将各文本内容作为文本数据增强项分别传送至临时存储区中；将临时存储区中的各文本数据增强项分别写入... 详细信息

标准号: CN107784112B

本发明涉及一种短文本数据增强方法，包括以下步骤：获取短文本文档合集，打开短文本文档合集内的所有文档，读取各文档的文本内容；将各文本内容作为文本数据增强项分别传送至临时存储区中；将临时存储区中的各文本数据增强项分别写入对应的文档中。上述短文本数据增强方法，通过读取文档的文本内容，将文本内容作为文本数据增强项传送至临时存储区中，将文本数据增强项写入文档中，在不引用外部信息的情况下，利用自身数据信息，增加文本长度，增强主题信息，有效提高主题质量，缓解了文本内容过少、文本稀疏性太强而无法深入理解主题信息的问题，有利于文本主题的挖掘。

关键词：文档文本内容文本数据短文本临时存储区读取数据增强主题信息写入传送文本数据信息外部信息文本主题稀疏性引用挖掘缓解

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基于失效物理的集成电路故障定位方法

引用

半导体技术 2019年第4期44卷 307-312页

作者：陈选龙李洁森黎恩良刘丽媛方建明工业和信息化部电子第五研究所广州510610 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心广州510610 中山大学电子与信息工程学院广州510275

超大规模集成电路后道工艺(BEOL)中的失效日益增多,例如多层金属化布线桥连、划伤,栅氧化层的静电放电(ESD)损伤、裂纹等失效模式,由于失效点本身尺寸小加上电路规模大,使得失效分析难度增加。为了能够对故障点进行快速、精确定位,提出... 详细信息

超大规模集成电路后道工艺(BEOL)中的失效日益增多,例如多层金属化布线桥连、划伤,栅氧化层的静电放电(ESD)损伤、裂纹等失效模式,由于失效点本身尺寸小加上电路规模大,使得失效分析难度增加。为了能够对故障点进行快速、精确定位,提出了基于失效物理的集成电路故障定位方法。根据CMOS反相器电路的失效模式提出了4种主要故障模型:栅极电平连接至电源(地)、栅极连接的金属化高阻或者开路、氧化层漏电和pn结漏电。结合故障模型产生的光发射显微镜(PEM)和光致电阻变化(OBIRCH)现象的特征形貌和位置特点,进行合理的失效物理假设。结果表明,基于该方法可对通孔缺陷、多层金属化布线损伤以及栅氧化层静电放电损伤失效进行有效的定位,快速缩小失效范围,提高失效分析的成功率。

关键词：集成电路失效物理失效分析金属化缺陷光发射显微镜

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网页数据获取方法、系统和数据匹配推送方法

网页数据获取方法、系统和数据匹配推送方法

引用

作者：杨晓明刘业政赵国祥刘小茵贺菲菲李尧钱洋李玲菲姜元春孙见山孙春华 510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号

本发明涉及一种网页数据获取方法及系统、数据匹配推送方法、计算机存储介质及设备，其中网页数据获取方法包括：将目标网页的网址与参考网址进行比较，确定所述网址的类型；根据所述网址的类型，确定网页搜索策略；根据所述网页搜索策... 详细信息

标准号: CN107862039B

本发明涉及一种网页数据获取方法及系统、数据匹配推送方法、计算机存储介质及设备，其中网页数据获取方法包括：将目标网页的网址与参考网址进行比较，确定所述网址的类型；根据所述网址的类型，确定网页搜索策略；根据所述网页搜索策略采集所述目标网页的网页数据。上述方案通过将目标网页的网址与预设参考网址进行比较，确定网址的类型，根据网址的类型确定网页搜索策略，通过采取该网页搜索策略对目标网页进行网页数据采集，从而提高了网页数据获取的效率。