检索结果-内蒙古大学图书馆

将Adaboost算法应用到软件缺陷预测模型中是软件缺陷预测的一种新思路,Adaboost算法原理通过训练多个弱分类器构成一个更强的级联分类器,有效地避免了过拟合问题。通过采用美国国家航空航天局(NASA)的软件缺陷数据库的仿真实验,分别对原始BP神经网络算法和Adaboost算法进行分析对比,其中Adaboost的弱分类器采用神经网络。实验结果表明,Adaboost级联分类器有效地提高了软件缺陷预测模型的预测性能。

关键词：软件缺陷软件缺陷预测 BP神经网络 Adaboost 级联分类器

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2012年10～12月颁布的部分电气与电子类IEC标准

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电子产品可靠性与环境试验 2016年第1期 63-64页

作者：陈静工业和信息化部电子第五研究所标准与信息研究中心

791、IEC／TR62357－1（2012年10月25日）电力系统管理和相关信息交换——第1部分：参考架构792、IEC60335－2－71 ***

关键词： IEC标准电子类电气电力系统管理信息交换电加热器安全性

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2013年1月颁布的部分电气与电子类IEC标准

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电子产品可靠性与环境试验 2016年第4期 64-65页

作者：陈静工业和信息化部电子第五研究所标准与信息研究中心

1、ISO/IEC 22536（2013年1月3日）信息技术——系统间远程通讯和信息交换———近场通信接口和协议（NFCIP-1）——射频接口试验方法2、ISO/IEC 20944-1（2013年1月8日）信息技术——元数据登记的互操作性和绑定（MDR-IB）——第1部分... 详细信息

1、ISO/IEC 22536（2013年1月3日）信息技术——系统间远程通讯和信息交换———近场通信接口和协议（NFCIP-1）——射频接口试验方法2、ISO/IEC 20944-1（2013年1月8日）信息技术——元数据登记的互操作性和绑定（MDR-IB）——第1部分：框架、常用词汇、常用规格的一致性3、ISO/IEC 20944-2（2013年1月8日）信息技术——元数据登记的互操作性和绑定，

关键词：电子类互操作性 IEC标准信息交换接口通信远程通讯常用规格通信接口信息技术性能测试

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2013年1-4月颁布的部分电气与电子类IEC标准

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电子产品可靠性与环境试验 2016年第5期34卷 61-64页

作者：陈静工业和信息化部电子第五研究所标准与信息研究中心

35、IEC 60364-7-713（2013年2月6日）低压电气装置——第7-713部分：特殊装置或场所要求——家具36、IEC 61587-3（2013年2月6日）电子仪器用机械结构——IEC 60917和IEC60297用的试验——第3部分：柜子和机架的电磁屏蔽性能试验37、IE... 详细信息

35、IEC 60364-7-713（2013年2月6日）低压电气装置——第7-713部分：特殊装置或场所要求——家具36、IEC 61587-3（2013年2月6日）电子仪器用机械结构——IEC 60917和IEC60297用的试验——第3部分：柜子和机架的电磁屏蔽性能试验37、IEC 61753-051-3（2013年2月6日）光纤互连器件和无源元件——性能标准———第051-3部分：U类单模光纤接插固定衰减器———非受控环境38、IEC 60068-2-65（2013年2月6日）

关键词： IEC标准低压电气装置电子类性能试验单模光纤特殊装置机械结构电子仪器

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2012年12月颁布的部分电气与电子类IEC标准

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电子产品可靠性与环境试验 2016年第4期 63-64页

作者：陈静工业和信息化部电子第五研究所标准与信息研究中心

*** 60191-6-22（2012年12月11日）半导体装置的机械标准化——第6-22部分：表面安装半导体装置组的大纲图纸准备工作总则——半导体组硅细间距球栅阵列与硅细间距连接盘网格阵列（S-FBGA与S-FLGA）的设计指南，

关键词：电子类 IEC标准球栅阵列细间距高压开关装置装置组电开关设计指南四芯电缆连接盘

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电磁兼容试验和测量技术全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量

电磁兼容试验和测量技术全电波暗室中的辐射发射和抗扰度测量

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标准类型：国家标准

GB/T 17626的本部分涉及电子和/或电气设备的辐射发射和辐射抗扰度的测量，规定了在全电波暗室(FAR)内进行的辐射发射和辐射抗扰度的试验程序。

标准号: GB/T 17626.22-2017

GB/T 17626的本部分涉及电子和/或电气设备的辐射发射和辐射抗扰度的测量，规定了在全电波暗室(FAR)内进行的辐射发射和辐射抗扰度的试验程序。

关键词：

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浅谈GJB150A和MIL-STD-810G中的"试验中断"

浅谈GJB150A和MIL-STD-810G中的"试验中断"

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2017年环境技术研讨会

作者：熊伊姚珂江露工业和信息化部电子第五研究所广州510610 广东省电子信息产品可靠性与环境工程技术研究开发中心广州510610 工业和信息化部电子第五研究所广州510610 广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室广州510610 陆军南京军代局驻上海地区军代室上海200000

当前对环境试验中的"试验中断"提出处理要求的标准主要是GJB150系列和MIL-STD-810系列环境试验标准.GJB150A和MIL-STD-810G在旧版本的基础上,对试验中断的处理方法做出了许多修订.本文对标准中的处理办法进行了总结分析,对日... 详细信息

当前对环境试验中的"试验中断"提出处理要求的标准主要是GJB150系列和MIL-STD-810系列环境试验标准.GJB150A和MIL-STD-810G在旧版本的基础上,对试验中断的处理方法做出了许多修订.本文对标准中的处理办法进行了总结分析,对日常环境试验过程中可能遇到的一些中断情况和注意事项进行了阐述,并对各类环境试验中断的处理方法提出了建议.

关键词：电子元件环境试验中断处理技术标准

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