检索结果-内蒙古大学图书馆

高可靠应用的塑封微电路升级筛选和鉴定的探讨

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电子产品可靠性与环境试验 2009年第B10期27卷 76-80页

作者：杨少华来萍工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室广东广州510610

介绍了塑封微电路(PEM)的可靠性问题,以及应用、筛选和鉴定研究状况,探讨了PEM在高可靠应用中的破坏性物理分析(DPA)、筛选、鉴定等技术方法及其注意事项。

关键词：塑封微电路高可靠应用 DPA 筛选鉴定

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梳齿式MEMS加速度计在冲击下的失效分析

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微纳电子技术 2009年第12期46卷 764-768页

作者：林宙峰蔡伟徐爱斌庄志强华南理工大学材料科学与工程学院特种功能材料教育部重点实验室广州510640 工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室广州510610

对Si基梳齿式MEMS加速度计在冲击下进行了失效分析,验证了其主要失效模式,分析了其失效机理。通过机械冲击实验并采用扫描电镜(SEM)、X射线透视系统、扫描声学显微镜(SAM)观察及电性能测试等分析技术,研究了梳齿式MEMS加速度计在冲击载... 详细信息

对Si基梳齿式MEMS加速度计在冲击下进行了失效分析,验证了其主要失效模式,分析了其失效机理。通过机械冲击实验并采用扫描电镜(SEM)、X射线透视系统、扫描声学显微镜(SAM)观察及电性能测试等分析技术,研究了梳齿式MEMS加速度计在冲击载荷下的结构与封装失效,运用材料力学理论加以分析论证,发现悬臂梁断裂是较为主要的失效模式,且此类器件的封装失效主要表现为气密性失效和装配工艺失效,为MEMS器件的可靠性设计提供了重要依据。

关键词：微电子机械系统加速度计失效分析梳齿冲击

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黑焊盘有关问题探讨及失效案例分析

黑焊盘有关问题探讨及失效案例分析

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2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会

作者：马丽利工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室

本文从化学镍金的原理出发,探讨了黑焊盘的形成机理、影响因素及控制措施,并结合实际案例详细介绍了有关黑焊盘失效分析的思路和方法。

关键词：化学镍金黑焊盘失效分析

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