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  • 1 篇 期刊文献

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  • 1 篇 电子文献
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主题

  • 1 篇 带电器件模型
  • 1 篇 器件级
  • 1 篇 测试标准

机构

  • 1 篇 中国电子科技集团...
  • 1 篇 无锡市集成电路测...

作者

  • 1 篇 jiang hui
  • 1 篇 万永康
  • 1 篇 虞勇坚
  • 1 篇 唐震
  • 1 篇 yu yongjian
  • 1 篇 wang qianqian
  • 1 篇 江徽
  • 1 篇 wan yongkang
  • 1 篇 tang zhen
  • 1 篇 王倩倩

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"机构=无锡市集成电路测试和可靠性重点实验室"
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排序:
器件级带电器件模型静电放电测试标准分析及应用
收藏 引用
电子技术应用 2025年 第4期51卷 35-39页
作者: 江徽 唐震 王倩倩 万永康 虞勇坚 中国电子科技集团公司第五十八研究所 江苏无锡214035 无锡市集成电路测试和可靠性重点实验室 江苏无锡214035
针对器件级带电器件模型(CDM)静电放电国内外主要测试标准进行了整理、分析与解读。梳理了各标准之间的差异和关联,明确了各标准的应用范围与技术要点。深入研究了影响器件级带电器件模型(CDM)静电放电测试结果的因素与控制方法,提... 详细信息
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