在反射阵天线设计中,反射阵阵面上的反射相位分布是决定天线的方向性、旁瓣电平等特性的主要因素。天线口面的反射相位分布是由反射阵中每个单元的相位延迟组合构成的,每个单元相位延迟则依据馈源位置和设计出射波束方向计算得到。在这个基础上给每个单元的设计相位值加上一个常数——全局参考相位,在传统设计理念中这样的操作将不会对天线的性能造成显著的影响。在本研究中我们以典型方形贴片为单元构造了665单元反射阵天线,在对全波仿真结果进行分析中,我们观察到全局参考相位会影响由相位范围限制和准周期效应带来的相位误差,进而较为明显的影响整个天线的性能。我们比较了不同参考相位下,由相位范围限制和准周期效应造成的相位误差情况。全波仿真实验表明,通过改变全局参考相位?φ的取值,反射阵天线的增益变化多达1.3 d B,对应口面效率可以从49.4%提升到66.6%。
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