检索结果-内蒙古大学图书馆

清华大学学报（自然科学版） 2007年第8期47卷 1304-1307页

作者：窦高峰邓焱邢继海苍利民清华大学精密仪器及机械学系精密计量测试技术与仪器国家重点实验室北京100084 河南安彩集团安阳450004

玻璃池炉碹顶拉条的张力检测具有重要的实用价值。该文探讨了用频率法测量碹顶拉条张力的原理,根据碹顶拉条的结构特点确定了频率和张力的具体算法,基于L abV IEW虚拟仪器开发平台,开发了一套拉条张力测试系统。对系统的现场性能测试试... 详细信息

玻璃池炉碹顶拉条的张力检测具有重要的实用价值。该文探讨了用频率法测量碹顶拉条张力的原理,根据碹顶拉条的结构特点确定了频率和张力的具体算法,基于L abV IEW虚拟仪器开发平台,开发了一套拉条张力测试系统。对系统的现场性能测试试验结果表明:该系统能够满足企业进行拉条张力测试的精度要求,同时具有操作简便、经济实用等优点。

关键词：玻璃池炉碹顶拉条张力测试 LabVIEW

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SDS胶束溶液在石油类污染物荧光光谱测量中的应用

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光谱学与光谱分析 2015年第6期35卷 1618-1623页

作者：杨丽丽王玉田鲁信琼燕山大学河北省测试计量技术及仪器重点实验室河北秦皇岛066004 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084

提出了一种以十二烷基硫酸钠（SDS）胶束溶液为溶剂增溶、增敏、增稳石油类物质的新方法。研究了石油类物质的荧光强度随SDS胶束溶液浓度的变化规律,确定了其溶剂SDS胶束溶液的最佳浓度为0.1mol·L-1。使用FLS920荧光光谱仪测量得... 详细信息

提出了一种以十二烷基硫酸钠（SDS）胶束溶液为溶剂增溶、增敏、增稳石油类物质的新方法。研究了石油类物质的荧光强度随SDS胶束溶液浓度的变化规律,确定了其溶剂SDS胶束溶液的最佳浓度为0.1mol·L-1。使用FLS920荧光光谱仪测量得到不同稀释浓度的汽油、柴油、煤油SDS胶束溶液的三维荧光光谱矩阵（EEMs）,分析了瑞利（Rayleigh）散射、拉曼（Raman）散射以及仪器光谱特性对测量光谱的影响,经过光谱校正,建立了三种油的SDS胶束溶液在激发波长为250-400nm、发射波长为260-500nm范围内的三维荧光光谱图,并确定了在一定浓度范围内荧光强度与浓度具有良好的线性关系。在相同条件下,用同样的方法配制各种浓度汽油、柴油、煤油水溶液作对比,验证了SDS胶束溶液作为石油类物质的溶剂可以使水中石油类物质的溶解度增加、荧光强度增大、稳定性更好,实现了石油类物质可以不依赖于某些有毒溶剂萃取,又解决了其水中溶解度低不宜定量的问题。

关键词：三维荧光光谱石油类污染物十二烷基硫酸钠胶束溶液

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三维荧光光谱结合二阶校正法用于石油类污染物的识别和检测

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中国激光 2013年第6期40卷 298-303页

通过三维荧光光谱技术和平行因子分析法相结合,提出了一种石油类污染物的识别和检测方法。以97#汽油、0#柴油和普通煤油的不同浓度CCl4溶液为测量样品,不考虑每种油的具体成分,仅将其视为一个整体作为一种组分来研究,通过汽油、柴油不... 详细信息

通过三维荧光光谱技术和平行因子分析法相结合,提出了一种石油类污染物的识别和检测方法。以97#汽油、0#柴油和普通煤油的不同浓度CCl4溶液为测量样品,不考虑每种油的具体成分,仅将其视为一个整体作为一种组分来研究,通过汽油、柴油不同比例的混合以及存在煤油作为干扰物的情况下,利用FLS920全功能型荧光光谱仪测量得到样品的三维荧光光谱数据。经过激发与发射校正以及空白扣除,去除了仪器误差和散射的影响并得到了样品的真实光谱。实验采用基于平行因子的二阶校正算法分析测得的光谱数据,体现了算法的二阶优势,验证了在未知干扰存在的情况下依然能够对混合样品各成分进行准确的识别和浓度测量,并得到满意的回收率。

关键词：光谱学三维荧光光谱二阶校正平行因子分析法石油类污染物

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一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法

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物理学报 2010年第1期59卷 186-191页

作者：张继涛李岩罗志勇清华大学精密仪器与机械学系、精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084 中国计量科学研究院北京100013

提出了一种用X射线反射术标定光谱椭偏仪的方法.作为一种间接测量方法,光谱椭偏术测得的薄膜厚度依赖于其光学常数,不具有可溯源性.在掠入射条件下,X射线反射术能测得薄膜的物理厚度,测量结果具有亚纳米量级的精密度且与薄膜光学常数无... 详细信息

提出了一种用X射线反射术标定光谱椭偏仪的方法.作为一种间接测量方法,光谱椭偏术测得的薄膜厚度依赖于其光学常数,不具有可溯源性.在掠入射条件下,X射线反射术能测得薄膜的物理厚度,测量结果具有亚纳米量级的精密度且与薄膜光学常数无关.在单晶硅基底上制备了厚度分别为2nm,18nm,34nm,61nm及170nm的SiO2薄膜标样,并用强制过零点的直线拟合了两种方法的标样测量结果,拟合直线的斜率为1.013±0.013,表明该方法可在薄膜厚度测量中标定光谱椭偏仪.

关键词：光谱椭偏术 X射线反射术膜厚标定

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大台阶高度测量的外差共焦方法

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中国激光 2005年第3期32卷 389-393页

作者：闫聚群柳忠尧林德教张蕊殷纯永徐毅许婕清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084 中国计量科学研究院北京100013

台阶高度是微电子产品的一个重要性能参数.基于双频激光干涉共焦显微系统(DICM)提出了一种微电子掩膜板台阶高度测量的扫描方法,在共焦显微扫描样品表面,当光强达到最大值时,将采样外差干涉的相位作为精确对准的判据.该扫描方法集中融... 详细信息

台阶高度是微电子产品的一个重要性能参数.基于双频激光干涉共焦显微系统(DICM)提出了一种微电子掩膜板台阶高度测量的扫描方法,在共焦显微扫描样品表面,当光强达到最大值时,将采样外差干涉的相位作为精确对准的判据.该扫描方法集中融合了外差干涉测量和共焦显微测量的优点,同时实现了高分辨率与较大量程的测量,该系统测量台阶高度的范围取决于Z向位移扫描仪PI Foc的扫描范围,可达数十甚至近百微米.实验结果表明该系统在普通恒温的实验条件下1 h内的漂移不超过5 nm,该系统已经用于20μm高台阶的测量,对准分辨率为0 1 nm,实验结果与台阶高度实际值有很好的一致性.

关键词：测量与计量共焦显微术外差干涉相位测量台阶

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基于光谱椭偏术的Si球表面氧化层厚度测量

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光电子．激光 2011年第9期22卷 1376-1379页

作者：吴学健张继涛李岩罗志勇尉昊贇清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084 中国计量科学研究院北京100013

为改善X射线晶体密度法测得的阿伏伽德罗常数的标准不确定度,研制了一种基于光谱椭偏术和二维Si球扫描机构的Si球表面氧化层厚度自动扫描测量系统,用于测量直径约93.6 mm、质量约1 kg的单晶Si球表面氧化层平均厚度。用本文系统对标准Si... 详细信息

为改善X射线晶体密度法测得的阿伏伽德罗常数的标准不确定度,研制了一种基于光谱椭偏术和二维Si球扫描机构的Si球表面氧化层厚度自动扫描测量系统,用于测量直径约93.6 mm、质量约1 kg的单晶Si球表面氧化层平均厚度。用本文系统对标准Si球表面进行400点扫描测量实验,得到氧化层厚度分布,且测得其平均厚度为6.00(22)nm。测量结果可将由氧化层导致的阿伏伽德罗常数测量相对不确定度降低至2.5×10-8。

关键词：测量氧化层光谱椭偏扫描机构 Si球

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冷原子束在线检测系统

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中国激光 2012年第5期39卷 206-211页

作者：王晓佳冯焱颖薛洪波中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室山西太原030051 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084 中国计量科学研究院-清华大学精密测量联合实验室北京100084

应用荧光法和飞行时间(TOF)法实现了冷原子束纵向速度谱、通量及原子能态分布的在线检测。设计用于荧光收集的光学系统和机械结构,实现了焦距可微调的即插即用式荧光检测装置,实现了冷原子束检测系统的集成性和检测结果的高信噪比(SNR)... 详细信息

应用荧光法和飞行时间(TOF)法实现了冷原子束纵向速度谱、通量及原子能态分布的在线检测。设计用于荧光收集的光学系统和机械结构,实现了焦距可微调的即插即用式荧光检测装置,实现了冷原子束检测系统的集成性和检测结果的高信噪比(SNR)。利用LabView软件实现对光电倍增管(PMT)、飞行时间法检测时序及检测激光的扫频范围等的控制,可在线得到原子束性能参数,并对数据进行平滑处理。检测结果表明,检测系统检测信号的信噪比为57:1(在20ms内)。

关键词：原子与分子物理学冷原子束飞行时间法荧光法能态检测

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阿伏加德罗常数测量研究最新进展

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计量学报 2012年第1期33卷 39-42页

作者：张继涛罗志勇赵克功清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084 中国计量科学研究院北京100013

综述了阿伏加德罗常数（NA）测量研究的最新进展。介绍了目前测NA准确度较高的方法-x射线晶体密度法，该方法通过测量单晶硅的摩尔质量、宏观密度和晶格常数得到NA。采用x射线晶体密度法有望实现NA相对测量不确定度达到2×10^-8。... 详细信息

综述了阿伏加德罗常数（NA）测量研究的最新进展。介绍了目前测NA准确度较高的方法-x射线晶体密度法，该方法通过测量单晶硅的摩尔质量、宏观密度和晶格常数得到NA。采用x射线晶体密度法有望实现NA相对测量不确定度达到2×10^-8。分析了当前限制NA测量准确度提高的关键研究内容：单晶硅摩尔质量、硅球直径和表面氧化层厚度的测量。并展望了NA测量未来的工作方向。

关键词：计量学阿伏加德罗常数硅球摩尔质量直径氧化层

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阿伏加德罗常数测量与千克重新定义

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科学通报 2011年第10期56卷 717-724页

作者：李岩张继涛罗志勇清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084 中国计量科学研究院北京100013

阿伏加德罗常数(NA)是一个联系微观尺度和宏观尺度的基本物理常数,它的精确测量可用于重新定义国际基本单位千克和摩尔,因而有助于推动国际单位制的发展.现代NA测量方法为X射线晶体密度法,它以单晶硅为材料,通过测量其摩尔质量、宏观密... 详细信息

阿伏加德罗常数(NA)是一个联系微观尺度和宏观尺度的基本物理常数,它的精确测量可用于重新定义国际基本单位千克和摩尔,因而有助于推动国际单位制的发展.现代NA测量方法为X射线晶体密度法,它以单晶硅为材料,通过测量其摩尔质量、宏观密度和晶格常量得到NA,该方法涉及到的关键技术包括单晶硅材料的生长、大尺寸单晶硅球加工、硅原子量测量技术、X射线干涉术、精密光学干涉技术、超薄膜厚度及成份测量技术等.本文综述了现代NA测量的研究进展、研究难点和未来的研究方向,并以千克重新定义为例,分析了NA测量研究在基础计量学领域的重要作用.

关键词：计量学阿伏加德罗常数 X射线晶体密度法单晶硅球千克重新定义

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新型高精度绝对重力仪

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物理学报 2012年第9期61卷 542-549页

作者：胡华伍康申磊李刚王力军中国计量科学研究院-清华大学精密测量联合实验室清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室清华大学精密仪器与机械学系北京100084

精密测量地球表面的重力加速度(g,常用值9.81 m/s^2)是探测地球重力场的重要途径,已广泛应用于计量、测绘、地质、地震与资源勘探等领域.随着我国"2000国家重力基本网"和"中国地壳运动观测网络"的建成,对高精度绝... 详细信息

精密测量地球表面的重力加速度(g,常用值9.81 m/s^2)是探测地球重力场的重要途径,已广泛应用于计量、测绘、地质、地震与资源勘探等领域.随着我国"2000国家重力基本网"和"中国地壳运动观测网络"的建成,对高精度绝对重力测量的需求日益增加.为深入研究现有绝对重力测量技术可能存在的系统误差,并满足国内多个领域对高精度绝对重力仪的迫切需求,自主研制T-1型可搬运式高精度绝对重力仪样机,采用经典的真空自由落体方案,通过激光干涉测量和数据拟合方法获得重力加速度值.T-l型绝对重力仪主要包括以下几部分:高真空度自由落体装置、小型化激光干涉测量装置、超低频垂直隔振系统、高速信号采集系统、仪器控制与数据处理系统.绝对重力测量的长度基准为稳频He-Ne激光器,时间基准为铷原子钟,这两项现有基准的测量不确定度都优于1×10^(-9).测试结果表明,T-1型绝对重力仪在12 h内重力测值的标准差可优于1μGal(1μGal=10^(-8)m/s^2),测量结果的复现性优于3μGal,可实现微伽量级不确定度的精密重力测量,有望在我国多个关键领域发挥重要应用.

关键词：绝对重力测量激光干涉仪自由落体方法

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