检索结果-内蒙古大学图书馆

光学技术 1998年第5期24卷 11-14页

作者：刘海松邬敏贤何庆声金国藩成罡清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室

设计了一种用于快速人脸识别的光学协处理器。提出正负图像组合编码方法，一步实现了通常需要三步的数学形态学击中击不中变换，提高了识别速度。改进传统的识别判据，改善了识别效果。采用一个液晶投影板同时显示待识别图像和参考图像... 详细信息

设计了一种用于快速人脸识别的光学协处理器。提出正负图像组合编码方法，一步实现了通常需要三步的数学形态学击中击不中变换，提高了识别速度。改进传统的识别判据，改善了识别效果。采用一个液晶投影板同时显示待识别图像和参考图像，简化了结构。给出了实验结果。

关键词：人脸识别图像组合编码光学协处理器

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

超外差干涉绝对距离测量研究综述

引用

光学技术 1998年第1期24卷 7-9,23页

作者：张存满赵洋李达成清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室

近几年来，基于多波长干涉理论的绝对距离测量技术取得了很大的进展。其中，超外差绝对距离干涉测量可以克服光学元件引起的模耦合误差，这是普通的外差干涉测量所不能避免的。超外差测量还能够实现合成波长相位的实时检测。本文简要介... 详细信息

近几年来，基于多波长干涉理论的绝对距离测量技术取得了很大的进展。其中，超外差绝对距离干涉测量可以克服光学元件引起的模耦合误差，这是普通的外差干涉测量所不能避免的。超外差测量还能够实现合成波长相位的实时检测。本文简要介绍了多波长干涉测量（也叫小数重合法）的基本原理，论述和分析了超外差干涉测量的原理，指出了超外差测量的优点。最后，对超外差测量的方案进行了综述，并指出了它们在实际测量中的特点。

关键词：绝对距离测量超外差干涉仪综述测长系统

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

方形单元衍射光学阵列器件实现近圆形均匀焦斑

引用

光子学报 1998年第8期27卷 119-123页

作者：谭峭峰严瑛白金国藩邬敏贤清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室

本文以方形激光输入、圆形均匀焦斑输出为例，分析比较了整体式和阵列式衍射光学器件获取圆形均匀焦斑的能力通过在阵列式器件方形单元间附加线性相移来改变各子焦斑的相互位置、重叠区域，从而逼近于一定直径的近圆形均匀焦斑该方... 详细信息

本文以方形激光输入、圆形均匀焦斑输出为例，分析比较了整体式和阵列式衍射光学器件获取圆形均匀焦斑的能力通过在阵列式器件方形单元间附加线性相移来改变各子焦斑的相互位置、重叠区域，从而逼近于一定直径的近圆形均匀焦斑该方法将二维问题转化为一维，减少计算量采用基于爬山法与模拟退火法相结合的混合算法设计相位分布结果表明了该方法的有效性。

关键词：近圆形均匀焦斑衍射光学阵列器件激光

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

几种二元光学器件的设计与研制

引用

中国科学基金 1998年第3期12卷 211-214页

作者：严瑛白邬敏贤金国藩毛文炜包红春清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084

二元光学被誉为“90年代的光学”。它是基于光波的衍射理论,利用计算机辅助设计以及超大规模集成电路制作工艺,在基片(或传统光学器件表面)上刻蚀产生具有多个微小台阶深度的浮雕结构,形成纯位相、同轴再现并具有极高衍射效率的一类衍... 详细信息

二元光学被誉为“90年代的光学”。它是基于光波的衍射理论,利用计算机辅助设计以及超大规模集成电路制作工艺,在基片(或传统光学器件表面)上刻蚀产生具有多个微小台阶深度的浮雕结构,形成纯位相、同轴再现并具有极高衍射效率的一类衍射光学器件。它以多阶位相结构近似相息图的连续浮雕结构。这种平面浮雕结构的二元光学器件具有重量轻、易复制、造价低等特点,而且在实现微小、阵列、集成以及任意波面变换等功能方面独具优势,从而使光学工程与技术在空间技术、激光加工、计算技术与信息处理、光纤通信及生物医学等众多领域中显示出重要作用及广阔的应用前景。以下简介我们所研究的几种有代表性的二元光学器件。

关键词：二元光学 Dammann光栅光学器件发光器件

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种位相板衍射图样的图像处理新方法

引用

光学技术 1998年第4期24卷 25-27页

作者：郝群赵洋李达成曹芒王红日北京理工大学光电工程系清华大学精仪系精密测试技术与仪器国家重点实验室长城计量测试技术研究所

本文介绍了在半导体激光光纤和位相板相结合的准直情况下，利用ＣＣＤ探测器测量大尺寸形位误差的原理，并针对位相板衍射图像的特点，提出了一种处理此类衍射图样的图像处理新方法——投影法。同在时间上采用的多次平均的方法相比较，... 详细信息

本文介绍了在半导体激光光纤和位相板相结合的准直情况下，利用ＣＣＤ探测器测量大尺寸形位误差的原理，并针对位相板衍射图像的特点，提出了一种处理此类衍射图样的图像处理新方法——投影法。同在时间上采用的多次平均的方法相比较，投影法相当于采用了空间上的平均，消除了ＣＣＤ表面保护玻璃形成的干涉条纹的影响，对空气扰动也起到了很好的抑制作用。并且使二维图像处理变为一维计算。

关键词：位相板衍射图样图像处理形位误差

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

用同步辐射实现X射线干涉技术的实验研究

引用

光电工程 1998年第4期25卷 22-27页

作者：王林赵洋曹芒李达成蒋建华韩勇王州光田玉莲王功利清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室中国科学院高能物理研究所同步辐射室

根据Ｘ射线干涉的特点，制出ＬＬＬ型Ｘ射线干涉器件。Ｘ射线源选用同步辐射光，充分利用其强度大、波长丰富和准直性好的优点，在北京同步辐射实验室（ＢＳＲＬ）利用４Ｗ１Ａ束线进行了Ｘ射线干涉实验，在拍摄的底片上比较清楚地观察... 详细信息

根据Ｘ射线干涉的特点，制出ＬＬＬ型Ｘ射线干涉器件。Ｘ射线源选用同步辐射光，充分利用其强度大、波长丰富和准直性好的优点，在北京同步辐射实验室（ＢＳＲＬ）利用４Ｗ１Ａ束线进行了Ｘ射线干涉实验，在拍摄的底片上比较清楚地观察到了Ｘ射线干涉条纹。

关键词： X射线干涉术同步辐射实验研究干涉仪

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

LD泵浦Nd<'+3>:YVO<,4>微片激光线性调频外差干涉测量绝对距离的研究

LD泵浦Nd<'+3>:YVO<,4>微片激光线性调频外差干涉测量绝对距离的...

引用

全国计量测试学术大会

作者：赵洋陈艳李达成大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室(北京)

该文提出频率调谐ＬＣ泵浦Ｎｄ〈’＋３〉微片激光器用于线性调频外差干涉绝对距离测量的原理，建立了由ＬＤ泵浦Ｎｄ：ＹＶＯ〈，４〉微片激光器和以此为基础的绝对距离干涉仪，考察和分析了Ｎｄ：ＹＶＯ〈，４〉微片激光器的应用可行... 详细信息

该文提出频率调谐ＬＣ泵浦Ｎｄ〈’＋３〉微片激光器用于线性调频外差干涉绝对距离测量的原理，建立了由ＬＤ泵浦Ｎｄ：ＹＶＯ〈，４〉微片激光器和以此为基础的绝对距离干涉仪，考察和分析了Ｎｄ：ＹＶＯ〈，４〉微片激光器的应用可行性，给出了实验测试结果。

关键词： LD泵浦激光器微片激光器线性调频外差干涉绝对距离测量

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

打印机喷墨技术

引用

清华大学学报（自然科学版） 1997年第11期37卷 94-99页

作者：侯卫兵冯冠平清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室

系统地介绍了喷墨技术的发展过程、现状，发展方向与研究方向以及它在打印机中所处的地位。重点叙述了墨滴不偏转型中的ｂｕｂｂｌｅ原理型、压电晶体型和连续喷射法中的电荷控制型等喷墨技术的原理和实现的关键，并对它们的优缺点进行... 详细信息

系统地介绍了喷墨技术的发展过程、现状，发展方向与研究方向以及它在打印机中所处的地位。重点叙述了墨滴不偏转型中的ｂｕｂｂｌｅ原理型、压电晶体型和连续喷射法中的电荷控制型等喷墨技术的原理和实现的关键，并对它们的优缺点进行了比较。其中主要就墨滴形成频率，墨滴飞行速度，驱动信号及驱动电路等关键参数进行了比较。同时对墨水和纸张的要求、喷墨头结构对墨滴的影响也作了阐述。

关键词：喷墨技术喷墨头打印机计算机外部设备

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

一种新型声表面波温度传感器的研究

引用

清华大学学报（自然科学版） 1997年第11期37卷 100-103页

作者：李源冯冠平丁天怀清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室

利用声表面波技术（ｓｕｒｆａｃｅａｃｏｕｓｔｉｃｗａｖｅ，ＳＡＷ）研究传感器，能使传感器无源且易于实现遥测，从而可以使其应用于某些普通传感器无法应用的特殊场合。研究设计了一种ＳＡＷ无源温度传感器以及相应的遥测系统，指... 详细信息

利用声表面波技术（ｓｕｒｆａｃｅａｃｏｕｓｔｉｃｗａｖｅ，ＳＡＷ）研究传感器，能使传感器无源且易于实现遥测，从而可以使其应用于某些普通传感器无法应用的特殊场合。研究设计了一种ＳＡＷ无源温度传感器以及相应的遥测系统，指出了其中的几项关键技术，计算了该传感器的灵敏度。实验证实，这种温度传感器及其系统是完全可行的。它不仅具有灵敏度高、测温范围广等特点，而且由于传感器的无源和遥测，可望用于转子温度测量等特殊场合。

关键词：传感器声表面波遥测温度传感器

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

五角棱镜角度误差对建立大尺寸平面基准的影响

引用

光学技术 1997年第4期23卷 49-51页

作者：郝群赵洋曹芒李达成清华大学精仪系精密测试技术与仪器国家重点实验室

用一准直光束作为基线，通过９０°折转的五角棱镜扫描，建立一个参考基准面在大尺寸测量中是一种行之有效的方法。在理想条件下，五角棱镜的折转角不受入射角的影响。由于有加工误差，光束的折转角将偏离９０°，且入射光线与... 详细信息

用一准直光束作为基线，通过９０°折转的五角棱镜扫描，建立一个参考基准面在大尺寸测量中是一种行之有效的方法。在理想条件下，五角棱镜的折转角不受入射角的影响。由于有加工误差，光束的折转角将偏离９０°，且入射光线与扫描轴间的角运动也会影响该偏转角。本文分析了五角棱镜角度误差和扫描精度对光束折转角的影响。结果表明，五角棱镜的制造误差和工作状态将引起测量带误差，该误差是一个固定的系统误差，可以通过预先对所用的五角棱镜进行标定，在数据处理中予以修正。实验结果表明。

关键词：五角棱镜平面基准光束平面形位误差

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：