检索结果-内蒙古大学图书馆

高技术通讯 2001年第3期11卷 41-44页

作者：李岩张书练韩艳梅清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084

报道了自行研制的 3～ 4 0MHz频差的双频激光器。用两种方法成功地得到 3～4 0MHz的频差 :第一种方法是将寻常光 (o光 )和非寻常光 (e光 )在空间分离 ,使其各自使用各自行进路径上的放大Ne原子介质 ;第二种方法是对双折射双频激光器外... 详细信息

报道了自行研制的 3～ 4 0MHz频差的双频激光器。用两种方法成功地得到 3～4 0MHz的频差 :第一种方法是将寻常光 (o光 )和非寻常光 (e光 )在空间分离 ,使其各自使用各自行进路径上的放大Ne原子介质 ;第二种方法是对双折射双频激光器外加横向磁场 ,将放大Ne原子介质分成两类 ,一类只放大o光。

关键词：双频激光器频差 HeNe激光器石英晶体调谐

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焊接缺陷实时成像自动检测技术的研究

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清华大学学报（自然科学版） 2001年第2期41卷 25-29页

作者：任大海尤政孙长库叶声华清华大学精密仪器与机械学系北京100084 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072

对射线实时成像检测技术的发展现状进行了分析 ,指出了目前存在的主要问题。以焊接缺陷的射线实时成像检测为对象 ,简要介绍了图像增强及去噪声等预处理方法。对缺陷提取技术进行了研究 ,设计了基于灰度梯度的焊缝边界提取方法 ,采用基... 详细信息

对射线实时成像检测技术的发展现状进行了分析 ,指出了目前存在的主要问题。以焊接缺陷的射线实时成像检测为对象 ,简要介绍了图像增强及去噪声等预处理方法。对缺陷提取技术进行了研究 ,设计了基于灰度梯度的焊缝边界提取方法 ,采用基于分离焊缝的拟合 DSA方法进行特征提取 ,详细介绍了有关算法并给出了实际处理结果。另外 ,提出了提取结果相关性修正的概念及算法并对缺陷类型识别方法进行了研究。

关键词：焊缝实时成像焊接缺陷无损检测特征提取焊接结构

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基于近场光学超衍射分辨力的高密度光存储

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光电子．激光 2001年第6期12卷 646-652页

作者：孙利群章恩耀王佳田芊清华大学精密仪器系精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084

本文从近场光学的基本理论出发 ,在介绍近场光学超衍射分辨存储原理的基础上 ,对探针扫描显微术、超分辨力近场结构两种主要方案的实现方法和研究状况作了详细的阐述。

关键词：近场光学高密度光存储超分辨力近场结构超衍射分辨力

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表面等离子体波亚纳米指零系统

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中国激光 2001年第12期28卷 1079-1081页

作者：吴健殷纯永郭继华清华大学精密仪器系精密测量技术与仪器国家重点实验室北京100084 清华大学应用物理系北京100084

提出了一种基于表面等离子体波(SPW)的纳米定位指零新方法。一个光纤探头可以等效于一个四层介质棱镜金属膜空气光纤系统。分析了探头得到的近场光强度。分析表明光纤耦合到的光通量随空气层间距变化,利用这个特点可以建立纳米定位... 详细信息

提出了一种基于表面等离子体波(SPW)的纳米定位指零新方法。一个光纤探头可以等效于一个四层介质棱镜金属膜空气光纤系统。分析了探头得到的近场光强度。分析表明光纤耦合到的光通量随空气层间距变化,利用这个特点可以建立纳米定位指零系统。实验表明该系统在 1℃恒温条件下 2 0min内的定位重复性标准偏差可以达到 2nm,分辨率为 0 1nm nV。

关键词：纳米指零系统表面等离子体波非接触测量纳米测量温度漂移

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大频差双折射双频Nd∶YAG激光器

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中国激光 2001年第2期28卷 100-102页

作者：焦明星张书练梁晋文西安理工大学机械与精密仪器工程学院西安710048 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084

提出并论证了一种新型双频激光器研究方案 ,即在激光二极管 (LD)抽运Nd∶YAG激光器的谐振腔内 ,插入一只集纵模选择与纵模分裂于一体的多功能元件———晶体石英F P标准具。因腔内存在双折射效应 ,每一激光纵模分裂为两个相互正交的线... 详细信息

提出并论证了一种新型双频激光器研究方案 ,即在激光二极管 (LD)抽运Nd∶YAG激光器的谐振腔内 ,插入一只集纵模选择与纵模分裂于一体的多功能元件———晶体石英F P标准具。因腔内存在双折射效应 ,每一激光纵模分裂为两个相互正交的线偏振模 ,即o模和e模 ;同样 ,Nd∶YAG激光增益带宽范围内标准具的唯一透射极大峰也一分为二 ,即分裂为o峰和e峰。使一个o模位于o峰的峰顶处 ,并使一个e模位于e峰的峰顶处 ,即可实现o模和e模的同时运转。将厚度为 0 6 45mm ,切割角 (晶体光轴与晶体表面法线间的夹角 )为 10°的晶体石英F P标准具 ,置于腔长为 40mm的Nd∶YAG激光谐振腔内 ,获得了双纵模同时振荡输出 ,其频差约为 2GHz。

关键词：大频差双频激光器双折射效应二极管抽运 ND:YAG激光器

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He-Ne激光光阱及对微粒子的操纵

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高技术通讯 2001年第10期11卷 83-87页

作者：孟祥旺李岩张书练张志诚清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084 清华大学生物膜与膜生物国家重点实验室北京100084

分析了He Ne激光光阱对微粒子的作用。在所建立的He Ne激光微束的实验装置上用光阱捕获了酵母细胞和空心电介小球 ,实验验证了光阱的力学效应。实验表明该光阱能实现对微粒子的捕捉、旋转和翻转 ,能同时捕获多个粒子。从理论和实验上研... 详细信息

分析了He Ne激光光阱对微粒子的作用。在所建立的He Ne激光微束的实验装置上用光阱捕获了酵母细胞和空心电介小球 ,实验验证了光阱的力学效应。实验表明该光阱能实现对微粒子的捕捉、旋转和翻转 ,能同时捕获多个粒子。从理论和实验上研究了He Ne激光光阱作用于微粒子的力学效应。

关键词：光阱 He-Ne激光微粒子操纵氦-氖激光力学效应基因工程量子光学

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光纤布喇格光栅反射波长移位的探测

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光电工程 2001年第4期28卷 22-25页

作者：张爱华李岩张书练谢芳清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084

综述了光纤布喇格光栅反射波长移位的探测方法。提出一种新的压电陶瓷 -应变片组合探测光纤布喇格光栅反射波长的方法 ,它具有波长移位探测精度高、线性度好、结构紧凑等优点。

关键词：光纤光栅反射波长移位波长探测布喇格光栅

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近场光学在高密度存储中的应用

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光学技术 2001年第3期27卷 255-259页

作者：洪涛王佳李达成清华大学精密仪器系精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084

近场光学在高密度存储方面有着很大的潜力 ,使得近场光学存储近年来得到了广泛的关注。近场光学存储具有高密度大容量及可以利用许多已有相关技术等优点 ,预计近场光学存储密度能达到 7Gbit/ cm2 ;它还可以采用硬盘驱动器中的空气悬浮... 详细信息

近场光学在高密度存储方面有着很大的潜力 ,使得近场光学存储近年来得到了广泛的关注。近场光学存储具有高密度大容量及可以利用许多已有相关技术等优点 ,预计近场光学存储密度能达到 7Gbit/ cm2 ;它还可以采用硬盘驱动器中的空气悬浮磁头技术和磁光存储中的技术等 ,使近场存储的研究和开发更加迅速。目前 ,近场光学存储主要有三种方案 :探针型方案、超分辨率近场结构、固体浸没透镜方案 ,这三种方案都是通过不同的方法缩小记录光斑来实现高密度的存储。介绍了近场光学存储的原理、研究现状及材料 ,并对三种近场存储方案的实现方法和发展概况作了详细的阐述。

关键词：近场光学光学数据存储固体浸没透镜超分辨率近场结构高密度存储

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实现AT切石英晶体振荡器微处理器温度补偿的新方法

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电子学报 2001年第2期29卷 215-217页

作者：王喆垚朱惠忠董永贵冯冠平清华大学微电子所北京100084 精密测试技术与仪器国家重点实验室清华大学精密仪器系北京100084

本文介绍实现AT切石英晶体振荡器微处理器温度补偿的新方法———双频温度自测法 .AT切石英谐振器各泛音次数的频率温度曲线不同 ,利用基频与 3次泛音除一阶温度系数不同外其他各阶温度系数相等的特性 ,基频的 3倍频与 3次泛音频率的差... 详细信息

本文介绍实现AT切石英晶体振荡器微处理器温度补偿的新方法———双频温度自测法 .AT切石英谐振器各泛音次数的频率温度曲线不同 ,利用基频与 3次泛音除一阶温度系数不同外其他各阶温度系数相等的特性 ,基频的 3倍频与 3次泛音频率的差频输出与温度近似成线性关系 .同时激励并测量基频和 3次泛音频率 ,经过微处理器计算差频实现谐振器温度自测并进行晶体振荡器的微处理器温度补偿 .与使用分立温度传感器相比 ,消除了测温元件与石英谐振器温度时间常数不同以及温度场梯度造成的测温误差 ,提高了测温和补偿精度 .

关键词：石英谐振器温度补偿微处理器振荡器

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焦斑形态精细化设计及其性能分析

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强激光与粒子束 2001年第5期13卷 611-614页

作者：谭峭峰严瑛白金国藩邬敏贤徐端颐清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084

对实现焦斑形态控制的衍射光学器件进行了精细化设计 ,模拟计算结果表明 ,可同时满足洞口附近旁瓣光强峰值不超过主瓣平均光强的 0 .0 1 % ,且主瓣顶部不均匀性小于 1 0 %。选取不同的采样间隔对比说明了精细化设计相对于传统设计 ,能... 详细信息

对实现焦斑形态控制的衍射光学器件进行了精细化设计 ,模拟计算结果表明 ,可同时满足洞口附近旁瓣光强峰值不超过主瓣平均光强的 0 .0 1 % ,且主瓣顶部不均匀性小于 1 0 %。选取不同的采样间隔对比说明了精细化设计相对于传统设计 ,能真实准确地获得焦斑形态的性能参数。最后 ,采用功率谱密度 (PSD)方法初步分析了器件几何结构与焦斑性能。

关键词：衍射光学器件焦斑形态精细化设计旁瓣功率谱密度惯性约束聚变

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