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  • 360 篇 中文
检索条件"机构=清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器全国重点实验室"
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光频梳在精密测量中的应用
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仪器仪表学报 2017年 第8期38卷 1841-1858页
作者: 李岩 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
光学频率梳在过去17年间极大地促进了精密科学领域的发展。光学频率梳首先建立了微波频率与光学频率的直接联,为时频领域的相关研究带来了突破性的进展;在此基础上,利用光学频率梳稳定的频域梳齿特性极大地推动了激光精密计量与测试... 详细信息
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基于热扩散率的微尺度特性表征方法研究进展
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功能材料 2014年 第8期45卷 8001-8006页
作者: 郑伯昱 董慧龙 陈非凡 清华大学精密仪器系、精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
材料其界面的许多微尺度特性的改变常常会导致其热扩散率的变化,反之,则可以通过材料热扩散率参量的实际变化来表征这些特性。如在微尺度条件下,热扩散率会因为材料所受辐照剂量的改变而改变,亦和正电子的泯灭寿命存在着某些关;在... 详细信息
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基于双光子聚合的片上光学互连(特邀)
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光子学报 2022年 第8期51卷 213-223页
作者: 赵曜 林琳涵 孙洪波 清华大学精密仪器系 精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084
集成光子芯片是将激光光源、低损耗波导、调制器、探测器等多类光电器件结合在一起,实现功能化集成,在高速光通讯、量子信息处理、光学传感等领域有具有重要的应用。然而由于不同的光电器件基于不同材料体,实现多材料体的光电器件... 详细信息
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硅微振梁式加速度计的温度检测闭环控制
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光学精密工程 2014年 第6期22卷 1590-1597页
作者: 王帆 董景新 赵淑明 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
为实现硅微振梁式加速度计统芯片级温度测量统闭环,本文针对统的非惯性结构部分提出了微机电统(MEMS)结构温度的芯片级测量和闭环控制优化方法。与以温控罩的温度作为参考温度的方法不同,该方法提出了供芯片级温度测量的MEMS... 详细信息
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癫痫发作瞬态带宽特征自适应检测方法
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仪器仪表学报 2016年 第6期37卷 1390-1397页
作者: 张鹏博 王雪 张蔚航 戴逸翔 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
癫痫是常见的神经统疾病之一。癫痫发作的识别通常采用脑电测量记录中的癫痫发作起始点,以辅助医生进行诊断并对患者的发作状态报警。利用脑电信号的瞬态参数提出了一种自适应带宽特征,可用于提高癫痫发作检测精度。首先,利用经验模... 详细信息
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疏水网覆盖的开放微管道中的液体输运
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光学精密工程 2013年 第8期21卷 1988-1994页
作者: 马增帅 叶雄英 商院芳 杜敏 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
考虑完全开放的微管道中液体输运不稳定,不利于生物气溶胶采样和监测的自动化集成,本文提出了用覆盖有疏水网的开放微管道来实现液体的可靠输运。通过理论分析得到了该微管道液体输运特性的估计公式,并用水作为试验介质对其输运特性进... 详细信息
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无源线圈在电磁感应溶液测量中的增强效应
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仪器仪表学报 2016年 第4期37卷 721-729页
作者: 熊浩 董永贵 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
将一只由线圈与电容元件共同组成的无源线圈放置于探测线圈与待测电解质溶液组成的测量统中,借助无源线圈与两者之间的电磁感应耦合,可在谐振频率点附近提高测量统的探测性能。以塑料容器内0—5%质量分数浓度的NaCl溶液为探测目... 详细信息
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平面叉指电极溶液阻抗的低频三角波测量
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仪器仪表学报 2016年 第2期37卷 387-394页
作者: 胥善治 王鹏 董永贵 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
针对低浓度电解质溶液中生物细胞阻抗微弱变化过程的测量问题,研究了一种三角波电压激励结合主元分析(PCA)的测量方法。用三角波电压信号作为激励,采集单周期响应电流信号构成测量向量,由不同时刻所得测量向量组成测量矩阵,PCA处理后的... 详细信息
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近场拉曼光谱在纳米结构表征中的应用
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光谱学与光谱分析 2006年 第7期26卷 1253-1259页
作者: 王阳 吴晓斌 王佳 郁鉴源 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084 清华大学分析中心 北京100084
近场拉曼光谱是近场光学领域中的新型技术,因其可对纳米结构进行光谱表征而备受科学研究者的关注。文章从光学的角度简述了将近场光学与拉曼光谱相结合成为近场拉曼光谱的原理,介绍了近场拉曼光谱技术的优势,详细阐述了近场拉曼光谱在... 详细信息
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提高离子束刻蚀亚微米光栅侧壁陡直度的方法
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光学学报 2008年 第1期28卷 189-193页
作者: 孟祥峰 李立峰 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
现代亚微米光栅的应用通常要求栅脊侧壁陡直。通过比较两种配备不同离子源的刻蚀机的反应离子束刻蚀结果,认为影响亚微米光栅侧壁陡直度的一个重要因素是离子束发散角(束散角),且小束散角有利于获得陡直的光栅侧壁。国内应用最广泛的双... 详细信息
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