检索结果-内蒙古大学图书馆

生物物理学报 2001年第2期17卷 399-406页

作者：王佳村松宏山本典孝 K.SAKATA-SOGAWA N.SHIMAMOTO 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084 日本精工仪器公司基础研究部日本国家基因研究所

介绍了扫描近场光学(SNOM -Scanning Near-FieldOpticalMicroscope)/原子力显微镜(AFM -AtomicForceMicroscope)系统 (SNO/AM)的工作原理。在AFM模式和SNOM模式下对DNA分子进行成像和荧光探测 ,得到了清晰的DNA单分子的形貌像和荧光像。由形貌图像得到的DNA分子尺寸横向为20nm ,高度为2nm ,其中包含了探针形貌的影响。实验中采用Tapping模式的AFM成像 ,样品经多次搜索扫描无明显损坏。AFM模式的分辨率优于1nm。SNOM模式下DNA分子形貌像和荧光像清晰 ,由近场荧光分布可以确定分子取向和浓度。用YOYO -1染料对λDNA分子进行染色和荧光探测。通过对DNA分子多个截面进行测量 ,分析染料与DNA结合状态。

关键词： DNA单分子探测近场光学荧光探测近场光学显微镜原子力显微镜

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双激光束干涉条纹处理方法的研究

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光学技术 2001年第4期27卷 310-312页

作者：李直赵洋李达成清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084

在分析了双激光束干涉条纹特点的基础上 ,提出了基于遗传算法的最小二乘非线性曲线拟合法 ,以实现对双激光束干涉条纹的高精度细分定位。该算法以高斯调制余弦平方函数为拟合模型 ,为克服目标函数在参数空间上存在多极 (小 )值现象 ,引... 详细信息

在分析了双激光束干涉条纹特点的基础上 ,提出了基于遗传算法的最小二乘非线性曲线拟合法 ,以实现对双激光束干涉条纹的高精度细分定位。该算法以高斯调制余弦平方函数为拟合模型 ,为克服目标函数在参数空间上存在多极 (小 )值现象 ,引入了具有全局优化能力的遗传算法以实现对目标函数寻优。仿真及实验研究表明

关键词：双光束干涉仪干涉条纹曲线拟合遗传算法

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高效、高分辨光纤微探针的制备及检验

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光学学报 2000年第5期20卷 659-665页

作者：刘秀梅王佳李达成清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084

提出两种同时满足高分辨、高传光效率的探针模型以及制备方法 :先用自制热拉装置将光纤拉制成过渡区为双曲线或抛物线形的探针 ,然后用 4 0 %氢氟酸进行快速腐蚀 ,使探针孔径变小而保持过渡区域形状和锥度基本不变。所获探针孔径变化范... 详细信息

提出两种同时满足高分辨、高传光效率的探针模型以及制备方法 :先用自制热拉装置将光纤拉制成过渡区为双曲线或抛物线形的探针 ,然后用 4 0 %氢氟酸进行快速腐蚀 ,使探针孔径变小而保持过渡区域形状和锥度基本不变。所获探针孔径变化范围为 2 0～ 2 0 0 nm,锥度 2 0°～ 6 0°。为检验探针性能 ,将两种探针的出射光分布与用传统热拉法所得到探针进行对比 ;探测了光子扫描隧道显微镜状态下的倏逝波衰减曲线 ;给出了用集光式扫描近场光学显微镜得到的近场光学图像 ;同时 ,验证了探针对剪切力控制的适用性。

关键词：扫描近场光学显微镜光子扫描隧道显微镜扫描探

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光栅投影式轮廓测量中两种误差的分析

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光学学报 2000年第3期20卷 376-379页

作者：郝煜栋赵洋李达成清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084

以像点位移的概念阐述了光学投影式轮廓测量法的原理和关键任务 ,详细分析了从相位到像点位移和从像点位移到高度的两项不可忽略的误差源 ,并给出了误差补偿方法。

关键词：光栅投影轮廓测量像点位移

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用于扫描探针显微镜的复合型三维压电扫描器

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压电与声光 2000年第1期22卷 30-32,51页

作者：洪涛王佳刘秀梅丁琳清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084

三维压电陶瓷扫描器是扫描探针显微镜的关键部件。本文作者设计制作了一种复合型三维压电陶瓷扫描器，并对扫描器的性能进行了检测。当激励电压为±４００Ｖ时其扫描范围达到１３μｍ×１３μｍ。其ｘ，ｙ方向的非线性度小于０... 详细信息

三维压电陶瓷扫描器是扫描探针显微镜的关键部件。本文作者设计制作了一种复合型三维压电陶瓷扫描器，并对扫描器的性能进行了检测。当激励电压为±４００Ｖ时其扫描范围达到１３μｍ×１３μｍ。其ｘ，ｙ方向的非线性度小于０．３６％，ｚ方向的非线性度小于０．１４％。这种扫描器被用于扫描近场光学显微镜探测系统中。

关键词：扫描探针显微镜压电扫描器压电陶瓷

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He-Ne激光器功率调谐位移传感激光器

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激光技术 2000年第6期24卷 337-340页

作者：李岩傅杰张书练韩艳梅金国藩清华大学精密仪器系精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084

阐述了一种新型的He Ne激光位移传感器 ,具有自校准功能以及没有原理上的误差。利用频率分裂技术 ,将一个纵模间隔分为 4个宽度相等的区间 ,在这 4个区间内激光器具有不同的光功率输出。当一个频率移动过这样的一个区间 ,相当于激光器... 详细信息

阐述了一种新型的He Ne激光位移传感器 ,具有自校准功能以及没有原理上的误差。利用频率分裂技术 ,将一个纵模间隔分为 4个宽度相等的区间 ,在这 4个区间内激光器具有不同的光功率输出。当一个频率移动过这样的一个区间 ,相当于激光器的一个腔镜移动了λ/ 8。可移动的反射镜与被测工件相连。这样 ,一支He Ne激光器变成了一个不用干涉现象的位移传感器 ,其测量范围可达 10mm ,测量精度可达 0 .0 79μm ,并具有判向的功能。

关键词： He-Ne激光器功率调谐位移传感激光器

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一种采用面阵彩色CCD及视频信号接口的光谱仪

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光学技术 2000年第1期26卷 1-4页

作者：何树荣肖宗扬栾文魁清华大学精密仪器系精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084

介绍了一种使用面阵彩色ＣＣＤ摄像机和体全息光栅设计的小型光谱仪。该光谱仪使用普通模拟视频信号输出格式，经过带有视频输入接口的计算机显示卡采集信号并实现图像信号的数字化，利用面阵彩色ＣＣＤ的二维图像特点采用软件去除背... 详细信息

介绍了一种使用面阵彩色ＣＣＤ摄像机和体全息光栅设计的小型光谱仪。该光谱仪使用普通模拟视频信号输出格式，经过带有视频输入接口的计算机显示卡采集信号并实现图像信号的数字化，利用面阵彩色ＣＣＤ的二维图像特点采用软件去除背景噪声，在达到使用分辨率和精度要求的前提下降低了对ＣＣＤ器件性能的要求。从而降低了整机的造价。利用特别设计的局部缩放机构和ＣＣＤ采集的色彩信息实现了对全光谱的频段细分，在有效像素数不变的情况下提高了系统的物理分辨率。

关键词：光谱仪 CCD 全息光栅图像处理

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虚拟坐标激光动态跟踪测量系统中光路的琼斯矩阵分析

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光学技术 2000年第5期26卷 413-417页

作者：刘永东王佳胡朝晖梁晋文清华大学精密仪器及机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084

激光跟踪测量系统应用于工业领域 ,实现动态目标的实时跟踪和虚拟坐标的测量 ,是测控一体化的计算机集成系统。推导出该系统中光学系统的琼斯矩阵 ,采用矢量分析的方法 ,分析了光学系统 (包括分束器、平面跟踪镜和角锥棱镜 )对于任意方... 详细信息

激光跟踪测量系统应用于工业领域 ,实现动态目标的实时跟踪和虚拟坐标的测量 ,是测控一体化的计算机集成系统。推导出该系统中光学系统的琼斯矩阵 ,采用矢量分析的方法 ,分析了光学系统 (包括分束器、平面跟踪镜和角锥棱镜 )对于任意方向入射光偏振态的影响以及光强变化的影响。在数值仿真的基础上 ,对光学系统进行优化设计 ,提高整个系统的跟踪测量性能。

关键词：琼斯矩阵激光跟踪测量虚拟坐标矢量分析

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射线实时成像检测中图像增强方法的研究

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光学技术 2000年第1期26卷 43-45页

作者：任大海尤政段发阶孙长库叶声华清华大学精密仪器与机械学系北京100084 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072

以射线实时成像检测系统为研究对像，根据射线实时成像的特点，对其图像预处理部分进行了较为详细的研究，结合射线衰减的特点，提出了使图像灰度与工件厚度变化成线性关系的处理方法；为进一步进行特征提取的需要，设计了模糊变换法，... 详细信息

以射线实时成像检测系统为研究对像，根据射线实时成像的特点，对其图像预处理部分进行了较为详细的研究，结合射线衰减的特点，提出了使图像灰度与工件厚度变化成线性关系的处理方法；为进一步进行特征提取的需要，设计了模糊变换法，使图像得到有效增强。为提高处理速度，设计了快速变换法。并对以上方法均进行了详细分析并给出了处理结果。实际应用表明，以上方法对射线实时成像图像的处理具有很好的效果。

关键词：实时成像图像增强无损检测射线检测

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射线实时成像检测系统透视变换模型

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光学技术 2000年第2期26卷 134-135页

作者：任大海尤政邾继贵孙长库叶声华清华大学精密仪器与机械学系北京100084 天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室天津300072

以射线实时成像检测系统为研究对像 ,从透视成像的角度对射线实时成像检测系统的各个组成部分进行了较为详细的分析。将系统划分为射线透射环节、增强器成像环节、摄像系统变换环节和采集量化环节。从摄像机出发组建统一的坐标系 ,以此... 详细信息

以射线实时成像检测系统为研究对像 ,从透视成像的角度对射线实时成像检测系统的各个组成部分进行了较为详细的分析。将系统划分为射线透射环节、增强器成像环节、摄像系统变换环节和采集量化环节。从摄像机出发组建统一的坐标系 ,以此为基础 ,较为完整地建立了各成像环节的透视变换模型 ,为进一步进行缺陷的精确定位及定量分析打下了良好的基础。

关键词：无损检测实时成像透视变换射线检测

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