目的探究3种不同定义的下颌平面MP(G)(额顶点Gn与下颌角点Go连线)、MP(T)(下颌下缘最低部的切线)、MP(Me)(过额下点Me与下颌角下缘切线)对下颌平面角测量的影响。方法本研究为回顾性研究,收集我院正畸科初诊患者400例,测量分析头侧位片并进行高、低角筛选,分析影响下颌平面角测量的相关因素。结果①在MP-SN组和MP-FH组中,MP(T)所成下颌平面角与MP(G)、MP(Me)所成下颌平面角差异有统计学意义[MP(G)-SN:37.00°±6.25°,MP(T)-SN:39.44°±7.08°,MP(Me)-SN:37.04°±7.12°;MP(G)-SN vs MP(T)-SN:P<0.001,MP(T)-SN vs MP(Me)-SN:P<0.001;MP(G)-FH:28.21°±5.58°,MP(T)-FH:30.65°±6.35°,MP(Me)-FH:28.25°±6.40°,MP(G)-FH vs MP(T)-FH:P<0.001,MP(T)-FH vs MP(Me)-FH:P<0.001].而MP(G)与MP(Me)所成下颌平面角差异无统计学意义[MP(G)-SN vs MP(Me)-SN:P=0.653;MP(G)-FH vs MP(Me)-FH:P=0.620];MP(G)、MP(T)、MP(Me)平面在MP-SN、MP-FH两组组内及组间筛出高角、低角病例数不一致;③高角组中,MP(G)-FH与额部形态无明显相关性(额厚度/高度:r=-0.090,P=0.381;额角:r=-0.135,P=0.189);低角组中,MP(Me)-FH与额部形态无明显相关性(额厚度:r=-0.258,P=0.194;额角:r=-0.229,P=0.109;额前点高度/额高度:r=-0.318,P=0.100)。结论医师在诊断分析中应注意MP(T)、MP(G)、MP(Me)所构成的下颌平面角存在差异,同组中MP(T)所构成的下颌平面角最大,MP(G)与MP(Me)所构成下颌平面角差异无统计学意义;建议可将MP(G)-FH、MP(Me)-FH分别作为筛选高角、低角病例时测量下颌平面的参考指标。
目的 应用石膏模型牙槽嵴中心点(center of the alveolar crest,CAC)测量法、头颅正位片Ricketts测量法和宾夕法尼亚大学锥形束CT(University of Pennsylvania cone beam CT,Penn CBCT)测量法对上下颌宽度关系进行分析诊断及一致性评价...
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目的 应用石膏模型牙槽嵴中心点(center of the alveolar crest,CAC)测量法、头颅正位片Ricketts测量法和宾夕法尼亚大学锥形束CT(University of Pennsylvania cone beam CT,Penn CBCT)测量法对上下颌宽度关系进行分析诊断及一致性评价。方法 选择2017—2021年于中国医科大学附属口腔医院拟行正畸治疗的恒牙期初诊患者93例,应用石膏模型CAC测量法、头颅正位片Ricketts测量法和Penn CBCT测量法分别测量患者上下颌宽度并得出宽度差值,再与理论上的理想参考值比较得出宽度不调量。宽度不调量> 0诊断为上颌宽度不足,≤0诊断为无上颌宽度不足,并对3种方法的测量结果进行一致性评价。结果 在上下颌宽度关系分析诊断方面,3种方法的一致性中等(Kappa值为0.445),石膏模型CAC测量法和Penn CBCT测量法的一致性较高(Kappa值为0.710),头颅正位片Ricketts测量法和Penn CBCT测量法的一致性一般(Kappa值为0.353),石膏模型CAC测量法和头颅正位片Ricketts测量法的一致性一般(Kappa值为0.289)。结论 对于无CBCT资料的患者,应用石膏模型CAC测量法进行上下颌宽度关系的分析诊断具有较高的准确性,且临床中不建议单独使用头颅正位片进行上下颌宽度关系的分析。
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