检索结果-内蒙古大学图书馆

功能材料 2013年第7期44卷 1043-1047页

作者：李静玲陈文哲余华梁吴波林伟庄琼阳张劭锦福州大学材料科学与工程学院福建福州350108 福建工程学院环境与设备工程系福建福州350108 闽江学院物理系福建福州350108 福建省微电子集成电路重点实验室福建福州350108

常压下,采用强碱熔融-水热法,制备了Ag修饰复合TiO2纳米管,并就材料的组织与形貌进行了表征。XRD表征显示复合TiO2纳米管由锐钛矿和金红石相组成。TiO2纳米管形貌清晰,较均匀整齐,管径约为3～5nm,由3～5层单壁组成,管壁壁厚约为0.5nm,其... 详细信息

常压下,采用强碱熔融-水热法,制备了Ag修饰复合TiO2纳米管,并就材料的组织与形貌进行了表征。XRD表征显示复合TiO2纳米管由锐钛矿和金红石相组成。TiO2纳米管形貌清晰,较均匀整齐,管径约为3～5nm,由3～5层单壁组成,管壁壁厚约为0.5nm,其中,Ti和Ag纳米颗粒清晰地附着在纳米管之间以及最外层纳米管壁上。在350nm波长以内,均出现带-带跃迁。表面光电压谱(surface photovoltagespectroscopy,SPS)和场致诱导表面光电压谱(electricfield-induced surface photovoltage spectroscopy,FISPS)光伏响应强度随着外电场极性的改变作不对称变化,出现束缚激子亚带隙跃迁的特征。Ag修饰对TiO2纳米管光伏响应影响大。

关键词： Ag修饰强碱熔融-水热法复合TiO2纳米管 SPS FISPS

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基于Sobel边缘检测和双线性算法的图像缩放实现

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中国集成电路 2013年第9期22卷 45-49页

作者：黄世震郭光宝福州大学微电子集成电路重点实验室福建福州350002

针对传统图像缩放算法的不足,本文提出一种边缘检测和双线性插值结合的方案,用以实现图像缩放的功能。借助FPGA并行高速处理的优势,搭建各功能模块,最后通过仿真工具和板级验证,结果表明该设计能够有较理想的图像放大效果。

关键词： scaler FPGA 双线性插值算法边缘检测图像处理

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基于塞贝克效应的甲烷气敏传感器的研究

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福建工程学院学报 2013年第4期11卷 349-353页

作者：李巍余华梁黄世震陈文哲福建工程学院福建福州350118 闽江学院福建福州350108 福建省微电子集成电路重点实验室福建福州350002

基于塞贝克效应的启发,利用温差电动势的原理及催化剂对性能的影响,对载体催化元件进行简化和改进,设计出了一种全新结构的载体催化元件。它的特点是将两元件间的温差电动势的变化量作为衡量甲烷气体浓度变化的标准,直接进行测试,有别... 详细信息

基于塞贝克效应的启发,利用温差电动势的原理及催化剂对性能的影响,对载体催化元件进行简化和改进,设计出了一种全新结构的载体催化元件。它的特点是将两元件间的温差电动势的变化量作为衡量甲烷气体浓度变化的标准,直接进行测试,有别于传统的利用电阻变化引起惠斯登电桥输出电动势变化的测试模式。试验结果显示,该新型的结构元件具有高灵敏度、小型、简单、低耗等优点。

关键词：塞贝克效应温差电动势载体催化元件甲烷

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N∶ZnO薄膜的受主性质研究

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固体电子学研究与进展 2012年第2期32卷 175-179页

作者：黄世震翁坤福州大学福建省微电子集成电路重点实验室福州350002

使用溶胶-凝胶法制备N∶ZnO薄膜,用X射线衍射仪(XRD)对晶体结构进行表征,用扫描电子显微镜(SEM)观察薄膜表面形貌,用荧光光谱仪测量低温(8K)及变温条件(8～200K)下的光致发光(PL)光谱。分析了各个发射峰的形成机理,通过薄膜缺陷态发光... 详细信息

使用溶胶-凝胶法制备N∶ZnO薄膜,用X射线衍射仪(XRD)对晶体结构进行表征,用扫描电子显微镜(SEM)观察薄膜表面形貌,用荧光光谱仪测量低温(8K)及变温条件(8～200K)下的光致发光(PL)光谱。分析了各个发射峰的形成机理,通过薄膜缺陷态发光和受主能级的关联性,计算出了N作为受主所需电离能的大小在0.255～0.31eV范围内。研究结果为以后P型ZnO薄膜的制备和研究提供了依据。

关键词： N∶ZnO薄膜掺杂溶胶-凝胶法受主电离能

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基于MATLAB的一种高精度级联Sigma-Delta调制器的结构设计

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电子器件 2012年第3期35卷 327-330页

作者：张敏林伟福州大学福建省微电子集成电路重点实验室福州35002

过采样技术给在VLSI领域的高精度数模转化器的实现提供帮助。该文提供了一个在时间上连续的2-2-2级联Sigma-Delta调制器结构设计。该级联调制器由3级二阶振荡环路滤波器,1-bit量化器和反馈部分的数模转化器组成。在MATLAB环境下,通过大... 详细信息

过采样技术给在VLSI领域的高精度数模转化器的实现提供帮助。该文提供了一个在时间上连续的2-2-2级联Sigma-Delta调制器结构设计。该级联调制器由3级二阶振荡环路滤波器,1-bit量化器和反馈部分的数模转化器组成。在MATLAB环境下,通过大量仿真验证最后得出:在采样率为50 MHz、5 V工作电压、过采样比为32的条件下,利用CMOS 0.18μm工艺,该调制器其SQNR为87 dB。

关键词：模数转换器 MASH MATLAB 过采样

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基于Matlab的小波去噪算法研究

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电子器件 2012年第1期35卷 103-106页

作者：齐敏黄世震福州大学福建省微电子集成电路重点实验室福州350002

小波阈值去噪是通过小波变换技术将含噪信号分解及重构,通过一个阈值限定小波分解后的小波系数来去除噪声的方法。在小波分析域中分析了传统的软阈值法和硬阈值去噪方法的特点,同时指出传统分析法中存在的缺点,提出了软硬阈值折衷的去... 详细信息

小波阈值去噪是通过小波变换技术将含噪信号分解及重构,通过一个阈值限定小波分解后的小波系数来去除噪声的方法。在小波分析域中分析了传统的软阈值法和硬阈值去噪方法的特点,同时指出传统分析法中存在的缺点,提出了软硬阈值折衷的去噪方法。采用雷达信号用Matlab对去噪效果进行仿真,证明了改进方法的去噪效果优于单纯的软阈值与硬阈值方法。

关键词：小波变换阈值降噪阈值函数 Matlab

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SOC中嵌入式存储器阴影逻辑的可测性设计

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电子器件 2012年第3期35卷 317-321页

作者：施文龙林伟福州大学福建省微电子集成电路重点实验室福州350002

在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障。通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进了其存储器周围逻辑的设... 详细信息

在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障。通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进了其存储器周围逻辑的设计,为阴影逻辑提供了可测试路径,提高了整个芯片的测试覆盖率和故障覆盖率。分析了设计的功耗、面积,确定了设计的有效性。

关键词：可测性设计扫描设计阴影逻辑故障覆盖率自动测试图形生成

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高速SPI接口在OSD中的应用

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电子器件 2012年第2期35卷 227-231页

作者：施根勇黄世震福州大学福建省微电子集成电路重点实验室福州350002

面对日益华丽的OSD开发,出现了加载OSD信息的速度瓶颈。设计基于SPI总线,在FLASH与视频字符处理模块之间建立一条高速通道。该设计使用Verilog HDL语言实现RTL设计,详细阐述了高速SPI的设计思路,详细说明了IP核的系统架构,接口信号和子... 详细信息

面对日益华丽的OSD开发,出现了加载OSD信息的速度瓶颈。设计基于SPI总线,在FLASH与视频字符处理模块之间建立一条高速通道。该设计使用Verilog HDL语言实现RTL设计,详细阐述了高速SPI的设计思路,详细说明了IP核的系统架构,接口信号和子模块设计。经过FPGA验证结果表明,传输速率大幅度提高,满足在了OSD应用中高带宽的速度要求。

关键词： IP核高速SPI 视频字符叠加 Verilog HDL 硬件设计语言

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基于TotalRecall技术ASIC的FPGA原型验证

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电子器件 2012年第3期35卷 313-316页

作者：郭安华黄世震福州大学福建省微电子集成电路重点实验室福州350002

芯片设计中一个非常重要的环节是验证。随着FPGA技术的迅速发展使基于FPGA的原型验证被广泛的用于ASIC的开发过程,FPGA原型验证是ASIC有效的验证途径,但传统FPGA原型验证的可视性非常差。为了解决传统FPGA原型验证可视性的问题,验证工... 详细信息

芯片设计中一个非常重要的环节是验证。随着FPGA技术的迅速发展使基于FPGA的原型验证被广泛的用于ASIC的开发过程,FPGA原型验证是ASIC有效的验证途径,但传统FPGA原型验证的可视性非常差。为了解决传统FPGA原型验证可视性的问题,验证工程师采用了结合TotalRecall技术的FPGA原型验证方法对一款鼠标芯片进行验证。获得该方法不仅能提供100%的可视性,还确保FPGA原型验证以实时硬件速度运行。该方法创新了ASIC的验证方法学。

关键词：专用集成电路 TotalRecall技术现场可编程门阵列验证平台

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通用存储装置设计

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电子器件 2012年第3期35卷 304-308页

作者：张颖林伟福州大学福建省微电子集成电路重点实验室福州350002

提出了一种多接口的通用存储装置,该装置具有良好的NAND Flash管理。它向用户提供线性的NAND Flash地址空间,使用户可以对NAND Flash进行透明的访问,而不需要深入了解NAND Flash的具体技术细节。同时,该装置具有多种接口,可以在多种不... 详细信息

提出了一种多接口的通用存储装置,该装置具有良好的NAND Flash管理。它向用户提供线性的NAND Flash地址空间,使用户可以对NAND Flash进行透明的访问,而不需要深入了解NAND Flash的具体技术细节。同时,该装置具有多种接口,可以在多种不同接口的电子产品中作为数据存储介质使用。这样,不同接口的电子产品不用通过额外的设计或者转接器就可以使用本装置,给电子设备的设计和使用带来便利。

关键词：通用存储存储介质 NAND Flash 存储访问接口

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