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  • 408 篇 中文
检索条件"机构=精密测试技术与仪器国家重点实验室精密仪器与机械学系清华大学"
408 条 记 录,以下是161-170 订阅
排序:
鼓形AT-切石英谐振器的力频特性
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压电与声光 1999年 第6期21卷 433-438页
作者: 王喆垚 朱惠忠 董永贵 冯冠平 清华大学精密仪器与机械学系 精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084
讨论了鼓形AT-切石英谐振器的力频特性。理论基础是初始有限变形上叠加弹性增量变形,并且使用了Mindlin所提出的把应变应力展开成板厚的级数的方法。在把三维运动方程简化为二维运动方程后。推导了带有电极的AT-切石英谐... 详细信息
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布里渊散射分布式光纤传感器研究热点跟踪
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激光技术 2009年 第5期33卷 473-477,481页
作者: 任成 张书练 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
综述了基于布里渊散射的分布式光纤传感技术最新进展。介绍了其测量原理和研究现状;阐述了该领域目前的热点研究问题,包括空间分辨率提高、解决多参量测量的交叉敏感问题、消偏振衰落提高测量精度等;比较了各种解决方案的利弊;展望了今... 详细信息
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大台阶高度测量的外差共焦方法
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中国激光 2005年 第3期32卷 389-393页
作者: 闫聚群 柳忠尧 林德教 张蕊 殷纯永 徐毅 许婕 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室 北京100084 中国计量科学研究院 北京100013
台阶高度是微电子产品的一个重要性能参数.基于双频激光干涉共焦显微系统(DICM)提出了一种微电子掩膜板台阶高度测量的扫描方法,在共焦显微扫描样品表面,当光强达到最大值时,将采样外差干涉的相位作为精确对准的判据.该扫描方法集中融... 详细信息
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一种消除伴生调幅的光源调频型相位生成载波解调方法
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光电子.激光 2011年 第2期22卷 180-184页
作者: 施清平 王利威 张敏 田芊 廖延彪 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084 清华大学电子工程系光纤传感研究中心 北京100084
为了克服伴生调幅对光源调频型相位生成载波(PGC)解调方法的影响,提出一种基于双路干涉信号和微分-交叉相乘(DCM,differential-cross multiply)的PGC解调方法。通过3×2耦合器引入双路干涉信号,直接调制光源频率获得相位载波。实验... 详细信息
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角抽运Nd:YAG复合板条946nm连续运转激光器
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物理学报 2013年 第14期62卷 189-192页
作者: 刘欢 王巍 巩马理 清华大学精密仪器与机械学系 摩擦学国家重点实验室激光与光子技术研究室北京100084
报道了一种适合中小功率输出的全固态激光器的角抽运方法,抽运光从板条激光器中板条晶体的角部入射,可获得较高的抽运效率和较好的抽运均匀性.采用单角抽运方式,首次进行了角抽运Nd:YAG复合板条946nm连续运转激光器的实验研究.激光腔采... 详细信息
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光纤Bragg光栅反射波长移位探测的一种新方法
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压电与声光 2002年 第3期24卷 180-182页
作者: 张爱华 李岩 张书练 谢芳 清华大学精密仪器与机械学系 精密测试技术与仪器国家重点实验室北京100084
提出了一种用计算机实现的光纤 Bragg光栅反射波长移位的探测方法。由计算机经 D/ A转换器产生一个扫描三角波 ,驱动 PZT周期拉伸参考光纤光栅。当参考光纤光栅栅距与传感光纤光栅栅距匹配时 ,探测器输出峰值 ,由此可测得传感光纤光栅... 详细信息
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双频激光干涉仪技术现状与发展
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激光与红外 2004年 第4期34卷 251-253页
作者: 所睿 范志军 李岩 张书练 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室 北京100084
文章概述了国内外双频激光干涉仪产品的现状,介绍了近年来双频激光干涉仪向高分辨率、高精度、高测速等几个方向的发展趋势。
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毛细管直接进样质谱仪在液体样品分析中的应用
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分析化学 2013年 第8期41卷 1287-1290页
作者: 余泉 倪凯 唐飞 王晓浩 清华大学深圳研究生院先进制造学部 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室
毛细管进样是目前小型质谱中常见的进样方式,它主要用于在大气压条件下对气态样品直接进行成分分析。本研究将自行搭建的一台基于毛细管进样和电子轰击电离源的小型四极杆质谱仪用于液体样品的分析研究,主要通过对甲苯样品的测定来验证... 详细信息
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基于光谱椭偏术的Si球表面氧化层厚度测量
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光电子.激光 2011年 第9期22卷 1376-1379页
作者: 吴学健 张继涛 李岩 罗志勇 尉昊贇 清华大学精密仪器与机械学系 精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084 中国计量科学研究院 北京100013
为改善X射线晶体密度法测得的阿伏伽德罗常数的标准不确定度,研制了一种基于光谱椭偏术和二维Si球扫描机构的Si球表面氧化层厚度自动扫描测量系统,用于测量直径约93.6 mm、质量约1 kg的单晶Si球表面氧化层平均厚度。用本文系统对标准Si... 详细信息
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基于跳变线估测的相位包裹去除法
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光电子.激光 2003年 第7期14卷 745-748页
作者: 惠梅 邓年茂 王东生 李庆祥 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室 北京100084 中国科学院西安光学精密机械研究所 陕西西安710068
针对相移干涉术中噪声点产生的相位跳变,提出一种基于跳变线估测的相位包裹去除法。该方法简单实用、与去包裹路径无关,可以有效地消除干涉图噪声所产生的位相跳变,消除噪声包裹导致的相位图上的"拉线"现象,恢复真实相位。用... 详细信息
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