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  • 114 篇 期刊文献
  • 15 篇 会议

馆藏范围

  • 129 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

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学科分类号

  • 127 篇 工学
    • 110 篇 电子科学与技术(可...
    • 62 篇 材料科学与工程(可...
    • 5 篇 光学工程
    • 2 篇 机械工程
    • 2 篇 计算机科学与技术...
    • 2 篇 核科学与技术
    • 1 篇 仪器科学与技术
    • 1 篇 控制科学与工程
    • 1 篇 化学工程与技术
    • 1 篇 软件工程
  • 10 篇 理学
    • 10 篇 物理学

主题

  • 10 篇 高电子迁移率晶体...
  • 8 篇 algan/gan
  • 7 篇 cmos
  • 7 篇 多芯片组件
  • 6 篇 温度分布
  • 5 篇 压电薄膜
  • 5 篇 1/f噪声
  • 5 篇 延时
  • 4 篇 衬底驱动
  • 4 篇 击穿电压
  • 4 篇 微传感器
  • 3 篇 多晶硅
  • 3 篇 sic
  • 3 篇 自热效应
  • 3 篇 4h-sic
  • 3 篇 超低压
  • 3 篇 异质结晶体管
  • 3 篇 解析模型
  • 3 篇 xps
  • 3 篇 泄漏电流

机构

  • 123 篇 西安电子科技大学
  • 11 篇 宽禁带半导体材料...
  • 6 篇 教育部宽禁带半导...
  • 5 篇 北京微电子技术研...
  • 3 篇 中国电子科技集团...
  • 2 篇 工业和信息化部电...
  • 2 篇 国防科技大学
  • 2 篇 中国科学院苏州纳...
  • 2 篇 陕西科技大学
  • 2 篇 西北工业大学
  • 2 篇 中国电子科技集团...
  • 2 篇 宽禁带半导体材料...
  • 2 篇 西北大学
  • 2 篇 模拟集成电路国家...
  • 2 篇 湘潭大学
  • 1 篇 西安宽禁带半导体...
  • 1 篇 中国科学院半导体...
  • 1 篇 西北核技术研究所
  • 1 篇 西安微电子技术研...
  • 1 篇 河北工程大学

作者

  • 66 篇 杨银堂
  • 22 篇 董刚
  • 21 篇 张义门
  • 19 篇 张玉明
  • 18 篇 郝跃
  • 13 篇 朱樟明
  • 11 篇 李跃进
  • 10 篇 柴常春
  • 9 篇 吴振宇
  • 9 篇 娄利飞
  • 9 篇 庄奕琪
  • 9 篇 汪家友
  • 9 篇 冯倩
  • 7 篇 王冲
  • 7 篇 曹全君
  • 6 篇 包军林
  • 6 篇 杨燕
  • 6 篇 张林
  • 5 篇 蔡伟
  • 5 篇 陆铁军

语言

  • 129 篇 中文
检索条件"机构=西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室"
129 条 记 录,以下是111-120 订阅
排序:
蓝宝石衬底上AlGaN/GaN HEMT自热效应研究
收藏 引用
固体电子研究与进展 2005年 第3期25卷 290-293页
作者: 杨燕 郝跃 西安电子科技大学微电子所 西安710071 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
建立了包含“自热效应”的A lG aN/G aN HEM T(高电子迁移率晶体管)直流I-V特性解析模型。从理论的角度分析了自热效应对A lG aN/G aN HEM T器件的影响,并同已有的实验结果进行了对比,符合较好。证明基于这种模型的理论分析适于A lG aN/... 详细信息
来源: 评论
AlGaN基PIN光电探测器的模型与模拟
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2005年 第8期26卷 1610-1615页
作者: 张春福 郝跃 张金凤 龚欣 西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
在漂移扩散方程的基础上建立了AlGaNp-i-n光电探测器的物理模型,分析了多种结构AlGaNp-i-n光电探测器的光谱响应,并讨论了AlGaN/GaN异质结界面极化效应对太阳盲区p-GaN/i-Al0.33Ga0.67N/n-GaN倒置异质结结构p-i-n光电探测器(invertedhet... 详细信息
来源: 评论
Ansys在PZT压电薄膜微传感器压电分析中的应用
收藏 引用
机械科学与技术 2005年 第7期24卷 875-878页
作者: 娄利飞 杨银堂 张军琴 李跃进 西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
研究的PZT压电薄膜微传感器采用的弹性敏感元件为微悬臂梁结构,在压电原理和材料力学理论的基础上,采用简化的等效微器件结构建立了数学分析模型,将有限元方法发展应用于压电材料的结构分析中,并运用有限元软件Ansys7.0对PZT压电薄膜微... 详细信息
来源: 评论
压电薄膜微传感器的动态特性分析
收藏 引用
机械设计与研究 2005年 第3期21卷 65-67页
作者: 娄利飞 杨银堂 李跃进 张军琴 西安电子科技大学微电子所 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室西安710071
论述了压电薄膜微传感器的结构和工作原理,应用有限元方法对压电膜微传感器进行了动力学分析。利用有限元软件ANSYS7.0对压电薄膜微传感器结构的振动模态进行了仿真,并拟合了感应电压和动态外力幅度、频率以及结构几何参数之间的关系,... 详细信息
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数字显示电路的设计与多芯片组件封装实现
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电路与系统学报 2005年 第3期10卷 129-131页
作者: 畅艺峰 杨银堂 柴常春 马涛 西安电子科技大学微电子所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 陕西西安710071
由于MCM自身的特点,物理设计已成其瓶颈问题。本文在已有方案的基础上,设计实现了一个数字显示电路,并计算了各单元电路的相关参数,最后对电路进行多芯片组件(MCM)封装。仿真结果表明,该电路的最大电容量和响应时间等参数均能满足电路... 详细信息
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低介电常数a-C:F薄膜结构和热稳定性研究
收藏 引用
真空科学与技术学报 2005年 第5期25卷 355-357,377页
作者: 吴振宇 杨银堂 汪家友 西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
采用电子回旋共振等离子体化学气相沉积的方法以C4F8和CH4为源气体制备了非晶氟化碳(a-C:F)薄膜.采用傅里叶变换红外光谱(FTIR)和X光电子能谱(XPS)技术分析了a-C:F薄膜化学组分.FTIR分析表明a-C:F薄膜中存在CF=C(1680 cm-1)和位于a-C:F... 详细信息
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Growth of Strained Si_(1-x)Ge_x Layer by UV/UHV/CVD
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2005年 第4期26卷 641-644页
作者: 胡辉勇 张鹤鸣 戴显英 李开成 王伟 朱永刚 王顺祥 崔晓英 王喜媛 西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071 国家模拟电路实验室 重庆400060
Strained Si_ 1-xGe_x and Si materials are successfully grown on Si substrate by ultraviolet light chemical vapor deposition under ultrahigh vacuum at a low substrate temperature of 450℃ and 480℃,*** such low tempera... 详细信息
来源: 评论
深亚微米pMOS器件HCI退化建模与仿真方法
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2005年 第11期26卷 2169-2174页
作者: 李康 郝跃 刘红侠 方建平 薛鸿民 西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071 陕西教育学院计算机系 西安710061
研究了深亚微米pMOS器件HCI(hotcarrierinjection)退化模型.采用流函数分析方法提出一种时变栅电流物理描述,基于这一栅电流模型改进了pMOS器件的HCI退化模型,并在该模型基础上提出一种HCI退化可靠性仿真方法,用于对静态应力条件下器件... 详细信息
来源: 评论
低k层间介质研究进展
收藏 引用
微纳电子技术 2005年 第10期42卷 463-468页
作者: 苏祥林 吴振宇 汪家友 杨银堂 西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
介绍了低k介质材料研究和发展状况,从制备方法和材料特性等不同角度对低k材料进行分类,并结合ULSI对低k材料的要求讨论了低k材料在ULSI中的应用前景。
来源: 评论
非晶氟化碳膜的制备与性能研究
收藏 引用
微细加工技术 2005年 第3期 42-47页
作者: 吴振宇 杨银堂 汪家友 西安电子科技大学微电子研究所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
采用电子回旋共振等离子体化学气相沉积(ECR-CVD)的方法,以C4F8和CH4为源气体,在不同气体质量流量比R(R=m(CH4):m(CH4+C4F8))条件下制备了非晶氟化碳(a-C:F)薄膜.采用X光电子能谱(XPS)和傅里叶变换红外(FTIR)光谱技术分析了a-C:F薄膜的... 详细信息
来源: 评论