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文献类型

  • 17 篇 期刊文献

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  • 17 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

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学科分类号

  • 16 篇 工学
    • 10 篇 电子科学与技术(可...
    • 3 篇 材料科学与工程(可...
    • 3 篇 计算机科学与技术...
    • 2 篇 光学工程
    • 2 篇 信息与通信工程
    • 2 篇 软件工程
    • 1 篇 机械工程
    • 1 篇 仪器科学与技术
  • 4 篇 理学
    • 3 篇 物理学
    • 1 篇 化学

主题

  • 3 篇 自动测试系统
  • 2 篇 测试向量
  • 2 篇 单晶石墨烯
  • 2 篇 芯片测试
  • 2 篇 液晶显示驱动芯片
  • 1 篇 qplus传感器
  • 1 篇 tms320f28xx系列d...
  • 1 篇 散射式扫描近场光...
  • 1 篇 工业以太网
  • 1 篇 table
  • 1 篇 多通道同步测试
  • 1 篇 测试向量工具
  • 1 篇 大尺寸
  • 1 篇 测试向量匹配测试
  • 1 篇 labwindows/cvi
  • 1 篇 色阶测试
  • 1 篇 修调
  • 1 篇 全码测试
  • 1 篇 工艺误差
  • 1 篇 超分辨

机构

  • 8 篇 北京自动测试技术...
  • 6 篇 集成电路测试技术...
  • 5 篇 中国科学院大学
  • 5 篇 北京市微电子制备...
  • 3 篇 北京交通大学
  • 3 篇 中国科学院微电子...
  • 2 篇 集成电路测试技术...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 北京自动测试技术...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 北方工业大学

作者

  • 7 篇 高剑
  • 6 篇 gao jian
  • 5 篇 xia yang
  • 5 篇 夏洋
  • 4 篇 李杰
  • 3 篇 刘涛
  • 3 篇 liu tao
  • 3 篇 li jie
  • 2 篇 刘春来
  • 2 篇 王玥
  • 2 篇 张东
  • 2 篇 chen nan
  • 2 篇 王延伟
  • 2 篇 wang yanwei
  • 2 篇 wang yue
  • 2 篇 陈楠
  • 2 篇 卢维尔
  • 1 篇 lu xinchao
  • 1 篇 liu hongyao
  • 1 篇 于明

语言

  • 17 篇 中文
检索条件"机构=集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所"
17 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究
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电子测量技术 2017年 第6期40卷 47-52页
作者: 韩东 郭士瑞 高剑 李杰 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境.设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制... 详细信息
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散射式扫描近场光学显微系统的研制及应用测试
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光子学报 2021年 第11期50卷 195-203页
作者: 陈楠 王玥 刘涛 夏洋 中国科学院微电子研究所 北京100029 中国科学院大学 北京100049 北京市微电子制备仪器设备工程技术研究中心 北京100029 集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100029
基于扫描探针技术设计搭建了一套散射式扫描近场光学显微系统。基于搭建的系统结构和近场信号探测原理,理论分析和实验讨论了不同因素的干扰、解调阶次、聚焦光斑等因素对近场光学信号提取的影响。为进一步验证装置性能,对纳米金颗粒和... 详细信息
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TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现
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电子测试 2016年 第7期27卷 9-12页
作者: 于明 集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所 100088
本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Co... 详细信息
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一种HDMI测试系统的设计与实现
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电子测量技术 2017年 第5期40卷 99-103页
作者: 高剑 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
高清晰度多媒体接口(HDMI)在数字多媒体领域中被广泛应用,由于其传输速度快,传统ATE无法直接测试。为此设计了一种针对HDMI的高速测试方法,开发了以芯片解码和同步校验为核心的功能测试模块,该模块可实现对HDMI传输数据的控制、分析、... 详细信息
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圆片测试中的熔丝修调方法研究
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电子测量技术 2016年 第6期39卷 15-19页
作者: 高剑 赵影 李杰 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展... 详细信息
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电容式触摸屏感应芯片测试方法研究
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电子测量技术 2020年 第5期43卷 156-160页
作者: 高剑 张晨阳 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
电容式触摸屏感应芯片由于具备接触感应特性,难以用自动测试系统直接测试,为此,设计了扩展电路自动测试系统相结合的方法实现此类芯片测试。通过切换偏置电阻实现了芯片电容敏感度、感应频率及偏置电流的设置,并通过电容继电器矩阵控... 详细信息
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DA转换器全码测试研究与实现
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电子测试 2015年 第8X期26卷 24-26 17,17页
作者: 杜宇 北京自动测试技术研究所 集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088
本文主要探讨DA转换器全码测试的原理及实现方法,并说明基于国产JC-3165测试系统完成对DA转换器静态参数的测试。DA转换器全码测试模块包含码型发生器、程控电压基准、波形分析模块三大部分。码型发生器提供DA转换器的输入数码;程控电... 详细信息
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基于EtherCAT的液晶驱动测试数字化管理技术
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电子测量技术 2016年 第10期39卷 1-5页
作者: 刘春来 张东 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,... 详细信息
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基于测试系统的测试向量工具设计研究
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电子测量技术 2019年 第6期42卷 12-16页
作者: 赵霞 高剑 李杰 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Table和ReportX控件设计向量工具的方法... 详细信息
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一种MCU的测试解决方案
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电子测试 2017年 第1X期28卷 23-25,27页
作者: 陈元 高剑 集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所 北京100088
对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决... 详细信息
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