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文献类型

  • 17 篇 期刊文献

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  • 17 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 16 篇 工学
    • 10 篇 电子科学与技术(可...
    • 3 篇 材料科学与工程(可...
    • 3 篇 计算机科学与技术...
    • 2 篇 光学工程
    • 2 篇 信息与通信工程
    • 2 篇 软件工程
    • 1 篇 机械工程
    • 1 篇 仪器科学与技术
  • 4 篇 理学
    • 3 篇 物理学
    • 1 篇 化学

主题

  • 3 篇 自动测试系统
  • 2 篇 测试向量
  • 2 篇 单晶石墨烯
  • 2 篇 芯片测试
  • 2 篇 液晶显示驱动芯片
  • 1 篇 qplus传感器
  • 1 篇 tms320f28xx系列d...
  • 1 篇 散射式扫描近场光...
  • 1 篇 工业以太网
  • 1 篇 table
  • 1 篇 多通道同步测试
  • 1 篇 测试向量工具
  • 1 篇 大尺寸
  • 1 篇 测试向量匹配测试
  • 1 篇 labwindows/cvi
  • 1 篇 色阶测试
  • 1 篇 修调
  • 1 篇 全码测试
  • 1 篇 工艺误差
  • 1 篇 超分辨

机构

  • 8 篇 北京自动测试技术...
  • 6 篇 集成电路测试技术...
  • 5 篇 中国科学院大学
  • 5 篇 北京市微电子制备...
  • 3 篇 北京交通大学
  • 3 篇 中国科学院微电子...
  • 2 篇 集成电路测试技术...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 北京自动测试技术...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 北方工业大学

作者

  • 7 篇 高剑
  • 5 篇 夏洋
  • 4 篇 李杰
  • 3 篇 刘涛
  • 2 篇 刘春来
  • 2 篇 王玥
  • 2 篇 张东
  • 2 篇 王延伟
  • 2 篇 陈楠
  • 2 篇 卢维尔
  • 1 篇 于明
  • 1 篇 张凌云
  • 1 篇 杜宇
  • 1 篇 张明烨
  • 1 篇 王博雨
  • 1 篇 孙旭晴
  • 1 篇 路鑫超
  • 1 篇 刘媛媛
  • 1 篇 陈元
  • 1 篇 赵影

语言

  • 17 篇 中文
检索条件"机构=集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所"
17 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
基于激光驱动等离子体光源的近红外傅里叶变换光谱系统
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光谱学与光谱分析 2022年 第6期42卷 1666-1673页
作者: 王玥 陈楠 王博雨 刘涛 夏洋 中国科学院微电子研究所 北京100190 中国科学院大学 北京100049 北京市微电子制备仪器设备工程技术研究中心 北京100029 集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100089 北京交通大学研究生院 北京100044
近红外傅里叶变换光谱仪作为一种常用的科研级近红外光谱检测仪器,广泛应用于各个科研领域。目前的近红外光谱仪着重于光谱分辨率方面的提升,在光谱信噪比提升方面关注较少。光谱信噪比直接影响光谱线指数测量精度的优劣,光谱信噪比越高... 详细信息
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散射式扫描近场光学显微系统的研制及应用测试
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光子学报 2021年 第11期50卷 195-203页
作者: 陈楠 王玥 刘涛 夏洋 中国科学院微电子研究所 北京100029 中国科学院大学 北京100049 北京市微电子制备仪器设备工程技术研究中心 北京100029 集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100029
基于扫描探针技术设计搭建了一套散射式扫描近场光学显微系统。基于搭建的系统结构和近场信号探测原理,理论分析和实验讨论了不同因素的干扰、解调阶次、聚焦光斑等因素对近场光学信号提取的影响。为进一步验证装置性能,对纳米金颗粒和... 详细信息
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Qplus传感器工艺误差影响的仿真分析
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传感器与微系统 2022年 第10期41卷 5-9页
作者: 李磊 张明烨 冷兴龙 张凌云 夏洋 刘涛 中国科学院大学 北京100049 中国科学院微电子研究所 北京100029 北京市微电子制备仪器设备工程技术研究中心 北京100176 集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100084
为了探究微纳加工中的工艺误差对Qplus传感器性能指标的影响,采用基于COMSOL的多物理场有限元数值分析方法建立了包含工艺误差的Qplus传感器仿真模型,评估了湿法刻蚀后侧壁产生的晶棱、双面光刻对准偏差等典型工艺误差对传感器本征频率... 详细信息
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电容式触摸屏感应芯片测试方法研究
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电子测量技术 2020年 第5期43卷 156-160页
作者: 高剑 张晨阳 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
电容式触摸屏感应芯片由于具备接触感应特性,难以用自动测试系统直接测试,为此,设计了扩展电路自动测试系统相结合的方法实现此类芯片测试。通过切换偏置电阻实现了芯片电容敏感度、感应频率及偏置电流的设置,并通过电容继电器矩阵控... 详细信息
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基于ATE的MCU芯片并行测试技术研究
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电子测量技术 2020年 第4期43卷 116-120页
作者: 刘媛媛 高剑 蒋常斌 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088 北方工业大学 北京100144
讨论了MCU芯片测试需求及难点,针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案。以FPGA为主控器件设计继电器矩阵控制电路,并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求。解决了测试系统接口板的单一... 详细信息
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化学气相沉积技术制备亚厘米尺寸单晶石墨烯的工艺研究
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材料导报 2020年 第6期34卷 1-5页
作者: 王延伟 卢维尔 闫美菊 夏洋 中国科学院微电子研究所仪器设备研发中心 北京100029 北京交通大学理学院 北京100044 北京市微电子制备仪器设备工程技术研究中心 北京100029 集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100029 中国科学院大学 北京101407
实验以多晶铜为基底,研究了利用化学气相沉积(CVD)技术制备不同尺寸的单晶石墨烯的工艺。对比了铜基底预处理方法、气体流量、压强和生长时间对单晶石墨烯尺寸及表面形貌的影响,结果表明,Ar和O2预处理可以降低石墨烯的成核密度,适当的... 详细信息
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基于测试系统的测试向量工具设计研究
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电子测量技术 2019年 第6期42卷 12-16页
作者: 赵霞 高剑 李杰 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Table和ReportX控件设计向量工具的方法... 详细信息
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利用表面等离激元成像检测化学气相沉积法生长石墨烯
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光学学报 2019年 第11期39卷 313-318页
作者: 魏茹雪 王延伟 江丽雯 孙旭晴 刘虹遥 王畅 路鑫超 卢维尔 夏洋 黄成军 中国科学院微电子研究所健康电子研发中心 北京100029 中国科学院大学 北京100029 中国科学院微电子研究所微电子仪器设备研发中心 北京100049 北京交通大学 北京100044 北京市微电子制备仪器设备工程技术研究中心 北京100029 集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
提出一种对化学气相沉积法生长石墨烯缺陷的快速检测方法。利用化学气相沉积法制备石墨烯并将其转移到目标基底上,制备出应用于表面等离激元(SPP)成像的石墨烯-金基底。SPP对界面处折射率变化具有高灵敏度,可以实现石墨烯边缘检测,并且... 详细信息
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基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究
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电子测量技术 2017年 第6期40卷 47-52页
作者: 韩东 郭士瑞 高剑 李杰 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境.设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制... 详细信息
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一种HDMI测试系统的设计与实现
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电子测量技术 2017年 第5期40卷 99-103页
作者: 高剑 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
高清晰度多媒体接口(HDMI)在数字多媒体领域中被广泛应用,由于其传输速度快,传统ATE无法直接测试。为此设计了一种针对HDMI的高速测试方法,开发了以芯片解码和同步校验为核心的功能测试模块,该模块可实现对HDMI传输数据的控制、分析、... 详细信息
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