检索结果-内蒙古大学图书馆

电子测量技术 2017年第6期40卷 47-52页

作者：韩东郭士瑞高剑李杰北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境.设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制... 详细信息

为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境.设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换,通过对比转换生成的文本和标准ATD文本.验证了程序转换结果的正确性,最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50,从而实现测试数据标准化。测试实验结果表明,该算法能够高效的实现双向转换,规范了测试数据的结构.提升了测试数据的可分析性。

关键词：自动测试系统二进制文件测试数据标准化

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散射式扫描近场光学显微系统的研制及应用测试

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光子学报 2021年第11期50卷 195-203页

作者：陈楠王玥刘涛夏洋中国科学院微电子研究所北京100029 中国科学院大学北京100049 北京市微电子制备仪器设备工程技术研究中心北京100029 集成电路测试技术北京市重点实验室北京100029

基于扫描探针技术设计搭建了一套散射式扫描近场光学显微系统。基于搭建的系统结构和近场信号探测原理,理论分析和实验讨论了不同因素的干扰、解调阶次、聚焦光斑等因素对近场光学信号提取的影响。为进一步验证装置性能,对纳米金颗粒和... 详细信息

基于扫描探针技术设计搭建了一套散射式扫描近场光学显微系统。基于搭建的系统结构和近场信号探测原理,理论分析和实验讨论了不同因素的干扰、解调阶次、聚焦光斑等因素对近场光学信号提取的影响。为进一步验证装置性能,对纳米金颗粒和机械剥离的六方氮化硼样品进行了测试。结果表明,所搭建的装置实现了10 nm的空间分辨率,可以清晰地观察到六方氮化硼表面声子极化激元在传播-反射过程中形成的驻波现象,展示了该技术在低维纳米材料光学表征中应用的巨大应用潜力。

关键词：散射式扫描近场光学显微镜扫描探针技术近场光学衍射极限超分辨

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TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

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电子测试 2016年第7期27卷 9-12页

作者：于明集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所 100088

本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Co... 详细信息

本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。

关键词： TMS320F28xx系列DSP ATE 串行通信测试向量匹配测试

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一种HDMI测试系统的设计与实现

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电子测量技术 2017年第5期40卷 99-103页

作者：高剑北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

高清晰度多媒体接口(HDMI)在数字多媒体领域中被广泛应用,由于其传输速度快,传统ATE无法直接测试。为此设计了一种针对HDMI的高速测试方法,开发了以芯片解码和同步校验为核心的功能测试模块,该模块可实现对HDMI传输数据的控制、分析、... 详细信息

高清晰度多媒体接口(HDMI)在数字多媒体领域中被广泛应用,由于其传输速度快,传统ATE无法直接测试。为此设计了一种针对HDMI的高速测试方法,开发了以芯片解码和同步校验为核心的功能测试模块,该模块可实现对HDMI传输数据的控制、分析、通信与监测。将模块嵌入到具备VXI总线的集成电路测试系统中,可实现较完整的功能和直流参数测试。测试实验提示,本方法稳定可靠,测试效率高。

关键词：高清晰度多媒体接口功能测试自动测试系统校验

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圆片测试中的熔丝修调方法研究

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电子测量技术 2016年第6期39卷 15-19页

作者：高剑赵影李杰北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展... 详细信息

熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展示了减小测试误差的计算方法,最后,改进了传统测试流程,提出了以合并测试步骤及并行测试为基础的简化方法。测试结果表明,该方法操作性强,能够有效提高测试效率和准确率。

关键词：混合信号电路修调熔丝圆片测试

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DA转换器全码测试的研究与实现

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电子测试 2015年第8X期26卷 24-26 17,17页

作者：杜宇北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

本文主要探讨DA转换器全码测试的原理及实现方法,并说明基于国产JC-3165测试系统完成对DA转换器静态参数的测试。DA转换器全码测试模块包含码型发生器、程控电压基准、波形分析模块三大部分。码型发生器提供DA转换器的输入数码;程控电... 详细信息

本文主要探讨DA转换器全码测试的原理及实现方法,并说明基于国产JC-3165测试系统完成对DA转换器静态参数的测试。DA转换器全码测试模块包含码型发生器、程控电压基准、波形分析模块三大部分。码型发生器提供DA转换器的输入数码;程控电压基准提供DA转换器所需的基准电压;波形分析模块用于测试DA转换器的输出电压;最后利用测试系统的图形控制器和定时产生器与全码测试模块同步工作,同时记录全码产生的输出电压;分析输出电压即可得出DNL、INL等参数。

关键词：全码测试微分非线性误差积分非线性误差

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电容式触摸屏感应芯片测试方法研究

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电子测量技术 2020年第5期43卷 156-160页

作者：高剑张晨阳北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

电容式触摸屏感应芯片由于具备接触感应特性,难以用自动测试系统直接测试,为此,设计了扩展电路与自动测试系统相结合的方法实现此类芯片测试。通过切换偏置电阻实现了芯片电容敏感度、感应频率及偏置电流的设置,并通过电容继电器矩阵控... 详细信息

电容式触摸屏感应芯片由于具备接触感应特性,难以用自动测试系统直接测试,为此,设计了扩展电路与自动测试系统相结合的方法实现此类芯片测试。通过切换偏置电阻实现了芯片电容敏感度、感应频率及偏置电流的设置,并通过电容继电器矩阵控制调节触点电容,引起芯片输出波形的频率变化,用以高速计数器为核心的频率测量单元测试输出通道频率,从而实现了较完整的直流、交流和功能项的测试。测试实验提示,该方法稳定性好,易于实现模块化,适于并行测试,测试效率较高。

关键词：电容式触摸屏感应电路自动测试系统

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基于EtherCAT的液晶驱动测试数字化管理技术

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电子测量技术 2016年第10期39卷 1-5页

作者：刘春来张东北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,... 详细信息

液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,管理成本高昂。有必要针对整个测试系统开发数字化管理技术,利用该技术可以将系统中所有的设备、人员、数据进行数字化管理。为实现数据交换的实时性和高效性,系统采用了工业以太网EtherCAT技术,实现服务器与设备客户端的紧密工作。经验证表明,通过使用这些技术,能够提高记录测试历史数据的方便性、快捷性、提高系统可扩展性,使得系统只需添加设备客户端或给客户端添加硬件模块并升级系统软件,便可方便的完成系统升级。

关键词：液晶显示驱动芯片数字化管理芯片测试工业以太网

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基于测试系统的测试向量工具设计研究

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电子测量技术 2019年第6期42卷 12-16页

作者：赵霞高剑李杰北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Table和ReportX控件设计向量工具的方法... 详细信息

测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Table和ReportX控件设计向量工具的方法。经过分析,利用ReportX组件完成了测试向量工具的开发,并将其嵌入到国产测试系统BC3192。最后在实际环境中进行了测试,并验证了测试向量工具的良好性能。通过对ActiveX Control技术的应用,可以使虚拟仪器开发变得更为完善和强大。

关键词：测试向量工具测试向量 LabWindows/CVI 表格 Table ActiveX

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一种MCU的测试解决方案

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电子测试 2017年第1X期28卷 23-25,27页

作者：陈元高剑集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所北京100088

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决... 详细信息

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案。使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本。

关键词：单片机 MCU测试测试向量

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