咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 17 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 17 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 16 篇 工学
    • 10 篇 电子科学与技术(可...
    • 3 篇 材料科学与工程(可...
    • 3 篇 计算机科学与技术...
    • 2 篇 光学工程
    • 2 篇 信息与通信工程
    • 2 篇 软件工程
    • 1 篇 机械工程
    • 1 篇 仪器科学与技术
  • 4 篇 理学
    • 3 篇 物理学
    • 1 篇 化学

主题

  • 3 篇 自动测试系统
  • 2 篇 测试向量
  • 2 篇 单晶石墨烯
  • 2 篇 芯片测试
  • 2 篇 液晶显示驱动芯片
  • 1 篇 qplus传感器
  • 1 篇 tms320f28xx系列d...
  • 1 篇 散射式扫描近场光...
  • 1 篇 工业以太网
  • 1 篇 table
  • 1 篇 多通道同步测试
  • 1 篇 测试向量工具
  • 1 篇 大尺寸
  • 1 篇 测试向量匹配测试
  • 1 篇 labwindows/cvi
  • 1 篇 色阶测试
  • 1 篇 修调
  • 1 篇 全码测试
  • 1 篇 工艺误差
  • 1 篇 超分辨

机构

  • 8 篇 北京自动测试技术...
  • 6 篇 集成电路测试技术...
  • 5 篇 中国科学院大学
  • 5 篇 北京市微电子制备...
  • 3 篇 北京交通大学
  • 3 篇 中国科学院微电子...
  • 2 篇 集成电路测试技术...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 北京自动测试技术...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 中国科学院微电子...
  • 1 篇 北方工业大学

作者

  • 7 篇 高剑
  • 5 篇 夏洋
  • 4 篇 李杰
  • 3 篇 刘涛
  • 2 篇 刘春来
  • 2 篇 王玥
  • 2 篇 张东
  • 2 篇 王延伟
  • 2 篇 陈楠
  • 2 篇 卢维尔
  • 1 篇 于明
  • 1 篇 张凌云
  • 1 篇 杜宇
  • 1 篇 张明烨
  • 1 篇 王博雨
  • 1 篇 孙旭晴
  • 1 篇 路鑫超
  • 1 篇 刘媛媛
  • 1 篇 陈元
  • 1 篇 赵影

语言

  • 17 篇 中文
检索条件"机构=集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所"
17 条 记 录,以下是11-20 订阅
排序:
一种MCU的测试解决方案
收藏 引用
电子测试 2017年 第1X期28卷 23-25,27页
作者: 陈元 高剑 集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所 北京100088
对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决... 详细信息
来源: 评论
实时测试波形采显技术研究
收藏 引用
电子测试 2017年 第5期28卷 27-28,24页
作者: 尚磊 李杰 集成电路测试技术北京市重点实验室 北京自动测试技术研究所北京100088
介绍了两种传统等效采样的意义、原理和方法,指出其局限性,在精准测量上存在难度并分析了其原因,提出了实时测试波形采显技术研究,通过找准跳变点及时间延两方面,结合芯片电学性能和结构特点,快速开发出芯片的测试程序。
来源: 评论
TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现
收藏 引用
电子测试 2016年 第7期27卷 9-12页
作者: 于明 集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所 100088
本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Co... 详细信息
来源: 评论
圆片测试中的熔丝修调方法研究
收藏 引用
电子测量技术 2016年 第6期39卷 15-19页
作者: 高剑 赵影 李杰 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展... 详细信息
来源: 评论
基于EtherCAT的液晶驱动测试数字化管理技术
收藏 引用
电子测量技术 2016年 第10期39卷 1-5页
作者: 刘春来 张东 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,... 详细信息
来源: 评论
液晶屏显示驱动芯片测试技术研究
收藏 引用
数字技术与应用 2016年 第4期34卷 59-61页
作者: 濮德龙 刘春来 张东 北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室 北京100088
液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用... 详细信息
来源: 评论
DA转换器全码测试研究与实现
收藏 引用
电子测试 2015年 第8X期26卷 24-26 17,17页
作者: 杜宇 北京自动测试技术研究所 集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088
本文主要探讨DA转换器全码测试的原理及实现方法,并说明基于国产JC-3165测试系统完成对DA转换器静态参数的测试。DA转换器全码测试模块包含码型发生器、程控电压基准、波形分析模块三大部分。码型发生器提供DA转换器的输入数码;程控电... 详细信息
来源: 评论