检索结果-内蒙古大学图书馆

电子测试 2017年第1X期28卷 23-25,27页

作者：陈元高剑集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所北京100088

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决... 详细信息

对MCU进行测试时,如何高效生成测试向量是测试的难点。文章以8位MCU STC12C5410AD为例,详细地介绍了通过使用仿真环境,以C语言编写功能测试程序,完成芯片寄存器控制和主要逻辑单元运算,然后使用集成电路测试系统直接生成测试向量的解决方案。使用此解决方案,可根据测试要求,在较短时间内开发出MCU测试程序,节约测试开发成本。

关键词：单片机 MCU测试测试向量

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实时测试波形采显技术的研究

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电子测试 2017年第5期28卷 27-28,24页

作者：尚磊李杰集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所北京100088

介绍了两种传统等效采样的意义、原理和方法,指出其局限性,在精准测量上存在难度并分析了其原因,提出了实时测试波形采显技术的研究,通过找准跳变点及时间延两方面,结合芯片电学性能和结构特点,快速开发出芯片的测试程序。

关键词：等效采样实时采样波形采显

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TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

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电子测试 2016年第7期27卷 9-12页

作者：于明集成电路测试技术北京市重点实验室北京自动测试技术研究所 100088

本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Co... 详细信息

本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。

关键词： TMS320F28xx系列DSP ATE 串行通信测试向量匹配测试

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圆片测试中的熔丝修调方法研究

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电子测量技术 2016年第6期39卷 15-19页

作者：高剑赵影李杰北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展... 详细信息

熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展示了减小测试误差的计算方法,最后,改进了传统测试流程,提出了以合并测试步骤及并行测试为基础的简化方法。测试结果表明,该方法操作性强,能够有效提高测试效率和准确率。

关键词：混合信号电路修调熔丝圆片测试

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基于EtherCAT的液晶驱动测试数字化管理技术

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电子测量技术 2016年第10期39卷 1-5页

作者：刘春来张东北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,... 详细信息

液晶屏显示驱动芯片测试环节贯穿在显示驱动芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于测试系统需要匹配的驱动芯片型号较多,单个型号芯片的测试项以及测试信号数量巨大,若使用人工记录的方式,则测试效率低下,管理成本高昂。有必要针对整个测试系统开发数字化管理技术,利用该技术可以将系统中所有的设备、人员、数据进行数字化管理。为实现数据交换的实时性和高效性,系统采用了工业以太网EtherCAT技术,实现服务器与设备客户端的紧密工作。经验证表明,通过使用这些技术,能够提高记录测试历史数据的方便性、快捷性、提高系统可扩展性,使得系统只需添加设备客户端或给客户端添加硬件模块并升级系统软件,便可方便的完成系统升级。

关键词：液晶显示驱动芯片数字化管理芯片测试工业以太网

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液晶屏显示驱动芯片测试技术研究

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数字技术与应用 2016年第4期34卷 59-61页

作者：濮德龙刘春来张东北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用... 详细信息

液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。

关键词：液晶显示驱动芯片芯片测试多通道同步测试色阶测试

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DA转换器全码测试的研究与实现

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电子测试 2015年第8X期26卷 24-26 17,17页

作者：杜宇北京自动测试技术研究所集成电路测试技术北京市重点实验室北京100088

本文主要探讨DA转换器全码测试的原理及实现方法,并说明基于国产JC-3165测试系统完成对DA转换器静态参数的测试。DA转换器全码测试模块包含码型发生器、程控电压基准、波形分析模块三大部分。码型发生器提供DA转换器的输入数码;程控电... 详细信息

本文主要探讨DA转换器全码测试的原理及实现方法,并说明基于国产JC-3165测试系统完成对DA转换器静态参数的测试。DA转换器全码测试模块包含码型发生器、程控电压基准、波形分析模块三大部分。码型发生器提供DA转换器的输入数码;程控电压基准提供DA转换器所需的基准电压;波形分析模块用于测试DA转换器的输出电压;最后利用测试系统的图形控制器和定时产生器与全码测试模块同步工作,同时记录全码产生的输出电压;分析输出电压即可得出DNL、INL等参数。

关键词：全码测试微分非线性误差积分非线性误差

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