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IPF: In-place X-filling to mitigate soft errors in SRAM-based FPGAs
IPF: In-place X-filling to mitigate soft errors in SRAM-base...
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21st International Conference on Field Programmable Logic and applications, FPL 2011
作者： Feng, Zhe Jing, Naifeng Chen, Gengsheng Hu, Yu He, Lei Electrical Engineering Department University of California Los Angeles United States School of Microelectronics Shanghai Jiao Tong University China State Key Lab. of Application Specific Circuits and Systems Fudan University Shanghai China Electrical and Computer Engineering Department University of Alberta Canada
SRAM-based Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) are vulnerable to Single Event Upsets (SEUs). We show that a large portion (40%-60% for the circuits in our experiments) of the total used LUT configuration bits are d... 详细信息
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