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Prolog to Defect tolerance in VLSI circuits: Techniques and yield analysis
出 版 物：《PROCEEDINGS OF THE IEEE》 (Proc. IEEE)
年 卷 期：1998年第86卷第9期
页 面：1817-1818页
核心收录：
主 题：Very large scale integration Redundancy Integrated circuit yield Chip scale packaging Circuit faults Programmable logic arrays Pulp manufacturing Microprocessors Prototypes Circuit synthesis
