A Heuristic Algorithm for the Testing of Asynchronous Circuits

作     者：Putzolu, Gianfranco R. Roth, J. Paul 

作者机构：IBM Thomas J. Watson Research Center Yorktown Heights N.Y. 10598 United States 

出 版 物：《IEEE Transactions on Computers》 (IEEE Trans Comput)

年 卷 期：1971年第C-20卷第6期

页      面：639-647页

学科分类：0808[工学-电气工程] 08[工学] 0835[工学-软件工程] 0701[理学-数学] 0811[工学-控制科学与工程] 0812[工学-计算机科学与技术（可授工学、理学学位）] 

主　　题：Circuit testing D-algorithm diagnosis LSI simulation test generation 

摘      要：This paper describes an algorithm for the computation of tests to detect failures in asynchronous sequential logic circuits. It is based upon an extension of the D-algorithm [1]. Discussion of experience with a program of the procedure is given. © 1971, IEEE. All rights reserved.