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文献类型

  • 12 篇 专利

馆藏范围

  • 12 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

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机构

  • 2 篇 苏州浪潮智能科技...
  • 2 篇 芯海科技股份有限...
  • 2 篇 合肥芯碁微电子装...
  • 2 篇 四川恒湾科技有限...
  • 2 篇 成都爱旗科技有限...
  • 1 篇 中兴通讯股份有限...
  • 1 篇 广州晶维天腾微电...

作者

  • 2 篇 季冬冬
  • 2 篇 魏旻
  • 2 篇 李亮
  • 2 篇 王晓维
  • 2 篇 请求不公布姓名
  • 2 篇 王金友
  • 2 篇 庞新洁
  • 2 篇 韩威
  • 1 篇 雷洪涛
  • 1 篇 宋玉龙
  • 1 篇 杨春宝
  • 1 篇 田平
  • 1 篇 于若愚
  • 1 篇 邹四
  • 1 篇 濮津
  • 1 篇 毕泽红
  • 1 篇 许鹏

语言

  • 12 篇 中文
检索条件"主题词=寄存器读写模块"
12 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
Win2000/XP下读写数据终端设备PCI寄存器的方法及系统
Win2000/XP下读写数据终端设备PCI寄存器的方法及系统
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作者: 毕泽红 518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部
本发明公开了一种Win2000/XP下读写数据终端设备PCI寄存器的方法及系统,所述方法包括:Win32应用程序通过虚拟设备驱动为自身所在进程向Win2000/XP操作系统申请IO端口读写权限,Win32应用程序向Win2000/XP操作系统发出读写PCI寄存器的... 详细信息
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一种前传接口数据包监测系统
一种前传接口数据包监测系统
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作者: 王晓维 魏旻 雷洪涛 610041 四川省成都市高新区科园南路1号2栋3层01号
本发明提供了一种前传接口数据包监测系统,应用于O‑RU中,包括处理与监测模块主体;所述监测模块主体包括寄存器读写模块以及与寄存器读写模块连接的控制模块、统计模块、多个处理模块;所述处理模块用于完成传输路径中数据包识别,... 详细信息
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一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备
一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备
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作者: 请求不公布姓名 610094 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天华二路219号C12栋17层
本申请公开一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备,涉及芯片测试技术领域。系统包括:仪配置模块寄存器读写模块、单元测试模块、数据分析处理模块和自动化测试模块;所述仪配置模块分别和所述单元测试模块和所述寄存器读写模... 详细信息
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一种O-RU中前传接口数据采集系统及方法
一种O-RU中前传接口数据采集系统及方法
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作者: 王晓维 濮津 魏旻 610041 四川省成都市高新区科园南路1号2栋3层01号
本发明提供了一种O‑RU中前传接口数据采集系统及方法,设置于O‑RU中,包括:寄存器读写模块,用于将处理的配置命令转换成寄存器写入或读取的控制指令,并发送给存取控制模块;存取控制模块,用于根据接收的控制指令以及触发信号,采... 详细信息
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一种用于卫星导航芯片验证和测试的信号模拟源装置
一种用于卫星导航芯片验证和测试的信号模拟源装置
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作者: 宋玉龙 杨春宝 邹四 许鹏 田平 于若愚 510000 广东省广州市黄埔区南翔二路23号A栋209房
本申请涉及卫星导航信号模拟与测试技术领域,公开了一种用于卫星导航芯片验证和测试的信号模拟源装置,其包括载波发生、码发生、噪声生成、干扰生成、信号生成模块寄存器读写模块;信号生成模块接收载波发生、码发生、... 详细信息
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一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备
一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备
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作者: 请求不公布姓名 610094 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天华二路219号C12栋17层
本申请公开一种芯片物理IP测试系统、方法及电子设备,涉及芯片测试技术领域。系统包括:仪配置模块寄存器读写模块、单元测试模块、数据分析处理模块和自动化测试模块;所述仪配置模块分别和所述单元测试模块和所述寄存器读写模... 详细信息
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Serdes多速率动态重配系统和一种现场可编程门阵列
Serdes多速率动态重配系统和一种现场可编程门阵列
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作者: 王金友 韩威 季冬冬 215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
本发明提出了Serdes多速率动态重配系统和一种现场可编程门阵列,该系统包括I2C从模块寄存器读写模块、时钟供应模块和若干转换模块;I2C从模块的输出端通过寄存器读写模块与时钟供应模块输入端相连;时钟供应模块的输出端分别连接转... 详细信息
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一种能够对多个Σ-△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法
一种能够对多个Σ-△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法
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作者: 庞新洁 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
本发明公开了一种能够对多个Σ‑△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法,该系统包括有USB通信模块寄存器读写模块、输入信号测量模块、动态信号输入模块、信号控制模块、差错处理模块,上述的模块均集成于ARM处理中。该系统及方法能... 详细信息
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一种能够对多个Σ‑△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法
一种能够对多个Σ‑△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法
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作者: 庞新洁 518067 广东省深圳市南山区南海大道1079号花园城数码大厦A座9层
本发明公开了一种能够对多个Σ‑△ADC芯片测试和温度控制的系统及方法,该系统包括有USB通信模块寄存器读写模块、输入信号测量模块、动态信号输入模块、信号控制模块、差错处理模块,上述的模块均集成于ARM处理中。该系统及方法能... 详细信息
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Serdes多速率动态重配系统和一种现场可编程门阵列
Serdes多速率动态重配系统和一种现场可编程门阵列
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作者: 王金友 韩威 季冬冬 215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
本发明提出了Serdes多速率动态重配系统和一种现场可编程门阵列,该系统包括I2C从模块寄存器读写模块、时钟供应模块和若干转换模块;I2C从模块的输出端通过寄存器读写模块与时钟供应模块输入端相连;时钟供应模块的输出端分别连接转... 详细信息
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