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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

59 篇 专利

馆藏范围

59 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

5 篇 惠科股份有限公司
5 篇 京东方科技集团股...
4 篇 中山市佑崴自动化...
4 篇 深圳市华星光电技...
3 篇 珠海市运泰利自动...
3 篇 深圳市金亿莱科技...
2 篇 合肥京东方显示技...
2 篇 永新县博硕电子有...
2 篇 建信金融科技有限...
2 篇 伟创力电子技术有...
2 篇 成都京东方光电科...
2 篇 东莞市良讯电子科...
2 篇 三星显示有限公司
1 篇 吉安县众兴电子科...
1 篇 武汉联胜光电技术...
1 篇 中山佑腾电子科技...
1 篇 联纲光电科技股份...
1 篇 上海与德通讯技术...
1 篇 武冈市合兴达电子...
1 篇 东莞市劲锐自动化...

作者

5 篇 宋明生
4 篇 黄北洲
4 篇 甘启明
4 篇 朱海
3 篇 刘国辉
3 篇 陈龙
3 篇 谢礼有
3 篇 王珂
2 篇 华明
2 篇 王文娟
2 篇 唐凌峰
2 篇 夏晴
2 篇 朴度昤
2 篇 成本泽
2 篇 李国栋
2 篇 曹威
2 篇 陆尉勇
2 篇 蒋军
2 篇 尹明华
2 篇 黄鹂

语言

59 篇 中文

检索条件"主题词=数据线测试"

共 59 条记录，以下是51-60 订阅

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详细简洁

排序：

显示面板及其测试方法

显示面板及其测试方法

引用

作者：常红燕韩丙袁海江 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区工业二路1号惠科工业园厂房1栋一层至三层、五至七层 6栋七层

本申请提供了一种显示面板及测试方法。显示面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在阵列基板和彩膜基板之间的液晶层。阵列基板具有显示区以及与显示区相邻的非显示区。显示区具有多根数据线以及第一公共电极。非显示区具有数据线测试垫... 详细信息

标准号: CN113448131A

本申请提供了一种显示面板及测试方法。显示面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在阵列基板和彩膜基板之间的液晶层。阵列基板具有显示区以及与显示区相邻的非显示区。显示区具有多根数据线以及第一公共电极。非显示区具有数据线测试垫，数据线测试垫通过第一测试引线与多根数据线电连接。非显示区还具有第一公共电极测试垫、第一控制垫以及第一薄膜晶体管，第一公共电极测试垫通过第一薄膜晶体管连接到第一公共电极，第一控制垫与第一薄膜晶体管的控制端电连接。以上显示面板将数据线测试垫通过薄膜晶体管连接到公共电极，可以避免水汽腐蚀第一公共电极测试垫时，水汽沿第一公共电极扩散至显示面板的显示区域内。

关键词：公共电极薄膜晶体管显示面板数据线测试非显示区阵列基板测试垫显示区彩膜基板根数据控制垫测试引线水汽腐蚀显示区域水汽电连接控制端液晶层线电测试扩散申请

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用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路

用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路

引用

作者：甘启明 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号

本发明提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，所述测试线路包括第一数据线测试短棒、第二数据线测试短棒，所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒均包括红色信号线、绿色信号线及蓝色信号线，所述数据线... 详细信息

标准号: CN105759521B

本发明提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，所述测试线路包括第一数据线测试短棒、第二数据线测试短棒，所述第一数据线测试短棒及第二数据线测试短棒均包括红色信号线、绿色信号线及蓝色信号线，所述数据线的一端依照蓝、红、红、绿、绿、蓝色信号线的顺序与所述第一数据线测试短棒连接，所述数据线的另一端依照红、红、绿、绿、蓝、蓝色信号线的顺序与所述第二数据线测试短棒连接。本发明的优点在于，提供一种用于具有半源极驱动像素阵列的液晶显示面板的测试线路，其能够实现纯色画面，提高测试精确度。

关键词：短棒数据线测试测试线路第一数据蓝色信号测试液晶显示面板半源极驱动像素阵列数据线红色信号线绿色信号线纯色

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液晶显示装置及其测试方法

液晶显示装置及其测试方法

引用

作者：黄贤军 201201 上海市浦东新区汇庆路889号

本发明公开了一种液晶显示装置及其测试方法，所述液晶显示装置消除了数据线测试部分的过孔，从而消除了过孔缺陷对液晶显示装置带来的不利影响，保证电性测试顺利进行；并且，所述液晶显示装置还可减小数据线测试部分占用的面积，有利... 详细信息

标准号: CN102955306B

本发明公开了一种液晶显示装置及其测试方法，所述液晶显示装置消除了数据线测试部分的过孔，从而消除了过孔缺陷对液晶显示装置带来的不利影响，保证电性测试顺利进行；并且，所述液晶显示装置还可减小数据线测试部分占用的面积，有利于生产小尺寸的液晶显示装置；此外，与现有技术相比，本发明减少了与数据线开关控制线交叠的数据线的数量，从而降低了开关元件的开关的信号延迟。

关键词：液晶显示装置过孔数据线开关控制线数据线测试测试部分测试方法电性测试减小数据开关元件信号延迟缺陷对数据线小尺寸交叠一种消除占用公开减少保证生产进行

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阵列基板及液晶模组

阵列基板及液晶模组

引用

作者：黄北洲 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园厂房1、2、3栋九州阳光1号厂房5、7楼

本公开实施例公开了一种阵列基板及一种液晶模组。该阵列基板包括：多个单元显示区域，在阵列基板上呈阵列设置；非显示区域，环绕显示区域且与显示区域邻接；多个第一测试垫组，位于非显示区域内、且一个第一测试垫组对应邻接一个单元... 详细信息

标准号: CN108983461B

本公开实施例公开了一种阵列基板及一种液晶模组。该阵列基板包括：多个单元显示区域，在阵列基板上呈阵列设置；非显示区域，环绕显示区域且与显示区域邻接；多个第一测试垫组，位于非显示区域内、且一个第一测试垫组对应邻接一个单元显示区域，第一测试垫组包括多个第一数据线测试垫、多个第一扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和多个第一空接测试垫；多个第二测试垫组，位于非显示区域内、且一个第二测试垫组对应邻接一个单元显示区域，第二测试垫组包括多个第二数据线测试垫、多个第二扫描线测试垫、第二公共电极测试垫和多个第二空接测试垫；在多个单元显示区域呈阵列排布的列方向上，第一测试垫组和第二测试垫组隔行交错设置。

关键词：测试垫显示区域非显示区域阵列基板邻接公共电极扫描线空接数据线测试第一数据交错设置液晶模组阵列排布阵列设置列方向隔行环绕

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一种旋转夹持装置

一种旋转夹持装置

引用

作者：郑华瑞宋明生 528400 广东省中山市火炬开发区民园路7号二楼

本发明公开了一种旋转夹持装置，包括用于连接固定的连接部和用于夹持数据线的夹持部，所述夹持部包括上壳体和下壳体，下壳体扣合在上壳体中，且二者通过螺钉固定连接；该夹持装置的夹持部包括上壳体和下壳体，通过上壳体和下壳体的配... 详细信息

标准号: CN105758716A

本发明公开了一种旋转夹持装置，包括用于连接固定的连接部和用于夹持数据线的夹持部，所述夹持部包括上壳体和下壳体，下壳体扣合在上壳体中，且二者通过螺钉固定连接；该夹持装置的夹持部包括上壳体和下壳体，通过上壳体和下壳体的配合可以实现多种型号的数据线测试。

关键词：上壳体下壳体夹持部旋转夹持装置数据线测试夹持装置连接固定螺钉固定数据线夹持配合

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测试电路开关控制单元、方法、测试电路和显示装置

测试电路开关控制单元、方法、测试电路和显示装置

引用

作者：莫再隆青海刚黄鹂 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

本发明提供一种测试电路开关控制单元、方法、测试电路和显示装置，所述测试电路开关控制单元包括偏压控制模块，用于在非测试时间段，在每一偏压周期内，控制栅线测试开关晶体管处于正偏压的第一正偏压时间和栅线测试开关晶体管处于负... 详细信息

标准号: CN106297617A

本发明提供一种测试电路开关控制单元、方法、测试电路和显示装置，所述测试电路开关控制单元包括偏压控制模块，用于在非测试时间段，在每一偏压周期内，控制栅线测试开关晶体管处于正偏压的第一正偏压时间和栅线测试开关晶体管处于负偏压的第一负偏压时间之间的差值的绝对值小于第一预定时间差值，并控制数据线测试开关晶体管处于正偏压的第二正偏压时间和数据线测试开关晶体管处于负偏压的第二负偏压时间之间的差值的绝对值小于第二预定时间差值；偏压周期持续的时间小于预定周期时间。本发明可以改善栅线测试开关晶体管的特性和数据线测试开关晶体管的特性裂化的情况。

关键词：测试开关负偏压正偏压晶体管测试电路开关控制单元开关晶体管数据线测试栅线裂化偏压控制模块测试时间段控制数据线控制栅线偏压周期显示装置预定周期

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阵列基板、液晶模组及液晶显示设备

阵列基板、液晶模组及液晶显示设备

引用

作者：黄北洲 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园厂房1、2、3栋九州阳光1号厂房5、7楼

本公开提供一种阵列基板、一种液晶模组及一种液晶显示设备。该阵列基板包括显示区域、非显示区域和测试垫组；非显示区域环绕包围显示区域且与显示区域邻接；测试垫位于非显示区域内且远离显示区域设置，每一个测试垫组对应一个显示区... 详细信息

标准号: CN109031723B

本公开提供一种阵列基板、一种液晶模组及一种液晶显示设备。该阵列基板包括显示区域、非显示区域和测试垫组；非显示区域环绕包围显示区域且与显示区域邻接；测试垫位于非显示区域内且远离显示区域设置，每一个测试垫组对应一个显示区域，测试垫组包括数据线测试垫、多个扫描线测试垫、第一公共电极测试垫和第二公共电极测试垫；数据线测试垫用于连接液晶模组的数据线，扫描线测试垫用于连接液晶模组的扫描线，第一公共电极测试垫用于连接液晶模组的第一公共电极，第二公共电极测试垫用于连接液晶模组的第二公共电极。本公开实施例提供的阵列基板能够提高点灯测试效率。

关键词：测试垫公共电极显示区域液晶模组非显示区域阵列基板扫描线数据线测试液晶显示设备测试效率数据线邻接点灯环绕包围

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测试电路开关控制单元、方法、测试电路和显示装置

测试电路开关控制单元、方法、测试电路和显示装置

引用

作者：莫再隆青海刚黄鹂 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

标准号: CN106297617B

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一种DMI总线信号完整性测试方法

一种DMI总线信号完整性测试方法

引用

作者：贾永涛 250014 山东省济南市高新区舜雅路1036号

本发明公开了一种DMI总线信号完整性测试方法，在设计的板卡上增加一个CPU？XDP接口，通过该接口形成一个完整的DMI数据采集回路；测试软件使用Intel？EVTS，通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接；通过测试软件不断调整电压及时... 详细信息

标准号: CN104182317B

本发明公开了一种DMI总线信号完整性测试方法，在设计的板卡上增加一个CPU？XDP接口，通过该接口形成一个完整的DMI数据采集回路；测试软件使用Intel？EVTS，通过USB-XDP3实现测试软件和被测平台的连接；通过测试软件不断调整电压及时序，找出电压的余量和时序的余量，再根据Intel规范中，对电压及时序余量值的要求，来确认实际DMI信号是否符合设计要求。该测试方法不像传统的测试方法依赖示波器，仅用一个XDP治具和测试软件便能完成测试，相对于用示波器进行测试，这种方法大大减小了人为操作带来的误差，提升了测试的准确度；且一次就可以把4条数据线测试完成，避免了重复操作，提高了测试效率。

关键词：测试方法测试软件示波器测试电压数据线测试完整性测试准确度时序采集回路测试效率调整电压接口形成人为操作实现测试通过测试重复操作总线信号板卡减小量值一种治具软件完成连接依赖提升完整设计公开符合进行

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