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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

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AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

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范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
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一种纳米样品表面形貌三维重建及显微操作系统

一种纳米样品表面形貌三维重建及显微操作系统

引用

作者：肖晓晖吴志科黄俊何政 430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号

本发明提供一种纳米样品表面形貌三维重建及显微操作系统，包括通过控制样品固定台、温控平台和探针以等步距沿显微镜物镜轴向移动，由显微相机拍摄纳米样品的多景深图像序列即聚焦栈作为三维重建的数据输入，使用自编码器提取聚焦栈深... 详细信息

标准号: CN118135120A

本发明提供一种纳米样品表面形貌三维重建及显微操作系统，包括通过控制样品固定台、温控平台和探针以等步距沿显微镜物镜轴向移动，由显微相机拍摄纳米样品的多景深图像序列即聚焦栈作为三维重建的数据输入，使用自编码器提取聚焦栈深度特征，引入注意力模块以提高特征提取能力，通过训练更新自编码器参数，使编码器输出具有深层特征的多张特征图像，通过聚焦评价将编码器输出的多张特征图像融合为1张深度特征图像，进而得到处理后的聚焦栈生成3D形貌图像，并基于该方法设置显微操作系统，可视化控制样品固定台、温控平台和探针移动实现纳米材料真空恒温环境下焊接、转移、弯曲、扭转等操作，避免了大气环境下操作纳米样品存在的诸多风险。

关键词：聚焦显微操作系统编码器输出样品固定台三维重建深度特征特征图像温控平台探针样品表面形貌编码器参数可视化控制显微镜物镜大气环境方法设置景深图像纳米材料特征提取相机拍摄形貌图像真空恒温轴向移动编码器等步距显微焊接注意力图像扭转融合引入移动更新

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一种纳米样品表面形貌三维重建及显微操作系统

一种纳米样品表面形貌三维重建及显微操作系统

引用

作者：肖晓晖吴志科黄俊何政 430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号

标准号: CN118135120B

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交流驱动型背光源在表征薄膜样品表面形貌中的应用和薄膜表面形貌的表征系统

交流驱动型背光源在表征薄膜样品表面形貌中的应用和薄膜表面形貌...

引用

作者：陶涛洪永升孙天娇杨书杰智婷严羽刘斌 210023 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号

本发明公开了交流驱动型背光源在表征薄膜样品表面形貌中的应用。还公开了一种薄膜表面形貌的表征系统，包括输入区组件、测试区组件和输出区组件，以及相应的薄膜表面形貌的表征方法。本发明可以实现在无探针接触、无电流注入的情况下... 详细信息

标准号: CN116678303A

本发明公开了交流驱动型背光源在表征薄膜样品表面形貌中的应用。还公开了一种薄膜表面形貌的表征系统，包括输入区组件、测试区组件和输出区组件，以及相应的薄膜表面形貌的表征方法。本发明可以实现在无探针接触、无电流注入的情况下对薄膜样品的表面形貌进行表征测试的功能，并且可以通过探针的横纵扫描实现构建薄膜上表面三维图像的功能。利用本发明的装置可以进行高效测量，并且交变电场驱动纳米LED阵列可以达到样品表面零损伤的效果。

关键词：薄膜表面形貌样品表面形貌交流驱动型薄膜样品表面形貌表征薄膜表征测试表征系统高效测量交变电场三维图像探针接触样品表面背光源测试区上表面输出区输入区构建探针薄膜扫描损伤驱动应用

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一种无标记三维超分辨显微方法与装置

一种无标记三维超分辨显微方法与装置

引用

作者：匡翠方张宇森何敏菲周国尊刘旭李海峰 310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

本发明公开一种无标记三维超分辨显微方法，包括步骤：利用实心照明光束和空心照明光束对无标记样品同时进行二维扫描，得到由实心光斑调制得到的正共聚焦反射光强度图和由空心光斑调制得到的负共聚焦反射光强度图，并进行差分计算；采... 详细信息

标准号: CN113532271A

本发明公开一种无标记三维超分辨显微方法，包括步骤：利用实心照明光束和空心照明光束对无标记样品同时进行二维扫描，得到由实心光斑调制得到的正共聚焦反射光强度图和由空心光斑调制得到的负共聚焦反射光强度图，并进行差分计算；采用差动测量扫描方法对样品进行扫描测量实现轴向超分辨，一个光电探测器置于焦平面的离焦距离‑u_M处，另一个光电探测器置于焦平面的离焦距离+u_M处，分别测得反映样品表面形貌变化大小的强度曲线，进行差动相减并进行归一化处理，后得到一个差分强度信号；根据强度曲线在零点附近AB线性测量范围内的光强大小，重构出样品表面形貌和微观尺度；并得到三维超分辨显微图像。

关键词：样品表面形貌光电探测器三维超分辨光斑强度曲线照明光束反射光共聚焦焦平面强度图无标记离焦调制归一化处理差动测量差分计算二维扫描强度信号扫描测量微观尺度显微图像线性测量超分辨差动显微相减重构轴向扫描

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一种高真空下绝缘材料表面电位控制方法

一种高真空下绝缘材料表面电位控制方法

引用

作者：徐焱林聂翔宇杜嘉余王思展刘业楠王志浩 100094 北京市海淀区友谊路104号

本发明公开了一种高真空下绝缘材料表面电位控制方法，采用紫外光源辐照绝缘材料试样，使其产生辐射诱导电导率，通过电荷对地泄放的方式将电荷排出。本发明中，采用紫外光源辐照绝缘材料试样，使其产生辐射诱导电导率，通过电荷对地泄... 详细信息

标准号: CN115996506A

本发明公开了一种高真空下绝缘材料表面电位控制方法，采用紫外光源辐照绝缘材料试样，使其产生辐射诱导电导率，通过电荷对地泄放的方式将电荷排出。本发明中，采用紫外光源辐照绝缘材料试样，使其产生辐射诱导电导率，通过电荷对地泄放的方式将电荷排出，可有效消除绝缘材料试样表面积累电荷形成的表面电位，无需另外配备电子枪、离子源等价格昂贵的设备，降低了电位控制的成本，无复杂的外部电路设计，增加了测试可靠性；利用紫外辐照方式实现高真空条件下绝缘材料表面电位控制，无需接触样品表面即可完成中和表面电位操作，避免破坏样品表面形貌进而影响其二次电子发射特性，增加了测试稳定性，提高二次电子发射系数测量的准确性。

关键词：电荷电位控制绝缘材料绝缘材料表面电导率辐照辐射诱导紫外光源排出泄放二次电子发射系数电子发射特性样品表面形貌电位测试可靠性测试稳定性高真空条件表面电位积累电荷试样表面外部电路样品表面中和表面紫外辐照电子枪高真空离子源测量配备

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一种测量材料非线性光学性质的系统及方法

一种测量材料非线性光学性质的系统及方法

引用

作者：王俊王梓鑫陈晨端董宁宁 201800 上海市嘉定区清河路390号

本发明提供了一种测量材料非线性光学性质的系统及方法，其中，测量方法是将Z扫描技术和共焦显微成像集成在一起，采用显微物镜进行激发光聚焦、信号光收集、样品表面形貌成像以及光斑同步成像，实现光斑大小的实时监测；使用三维精密... 详细信息

标准号: CN115128002B

本发明提供了一种测量材料非线性光学性质的系统及方法，其中，测量方法是将Z扫描技术和共焦显微成像集成在一起，采用显微物镜进行激发光聚焦、信号光收集、样品表面形貌成像以及光斑同步成像，实现光斑大小的实时监测；使用三维精密平移台控制样品位置，可以实现对微米级样品非线性光学性质的测量。本发明方法可以同步测量材料非线性吸收和非线性折射数据，同时适用于均匀和非均匀、宏观和微观样品的测量，解决了非均匀不规则小尺寸样品非线性性质测试难题，扩展了Z扫描技术的应用及测试范围。

关键词：非线性光学性质光斑测量非均匀共焦显微成像样品表面形貌材料非线性非线性性质非线性折射精密平移台小尺寸样品测试测量材料实时监测同步测量同步成像显微物镜样品位置不规则激发光微米级信号光成像三维聚焦微观宏观吸收应用

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一种基于三维可移动光路的偏振分辨荧光测试系统

一种基于三维可移动光路的偏振分辨荧光测试系统

引用

作者：韦可隋沂臻江天唐宇翔刘祺瑞李思维程湘爱 410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

本发明公开了一种基于三维可移动光路的偏振分辨荧光测试系统，包括激光产生组件，用于产生激发光；激光偏振调节组件，用于调节所述激发光的偏振状态；滤光片，用于反射所述激发光并透射经样品出射的荧光；三维独立光路位移组件，用于... 详细信息

标准号: CN114674795A

本发明公开了一种基于三维可移动光路的偏振分辨荧光测试系统，包括激光产生组件，用于产生激发光；激光偏振调节组件，用于调节所述激发光的偏振状态；滤光片，用于反射所述激发光并透射经样品出射的荧光；三维独立光路位移组件，用于三维调整光路以聚焦光斑在所述样品表面进行x、y、z三轴的独立移动；显微镜系统，用于对所述样品表面形貌、激发光和荧光进行照明和显微成像；荧光偏振调节组件，用于调整荧光的偏振状态；以及光谱探测模块，用于探测所述荧光的光谱和寿命。本发明具有样品不动而光路动的特点，可与市面上大部分不可位移的低温恒温器兼容，同时采用偏振可调元器件和小角度入射的方式，实现任意圆偏振或线偏振荧光探测。

关键词：激发光荧光光路调节组件偏振状态三维样品表面形貌荧光测试系统低温恒温器显微镜系统独立光路独立移动光谱探测激光产生激光偏振聚焦光斑偏振分辨三维调整位移组件显微成像样品表面荧光偏振荧光探测可移动滤光片线偏振圆偏振透射元器件出射光谱可调偏振入射三轴反射兼容探测

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一种提高MnO₂铵离子储能性能的方法

一种提高MnO<Sub>2</Sub>铵离子储能性能的方法

引用

作者：肖婷唐灿谭新玉向鹏姜礼华肖业权李欣义杨雄波 443002 湖北省宜昌市大学路8号

本发明公开了一种提高MnO2铵离子储能性能的方法。首先采用水热法在碳布上生长MnO2纳米片纳米针复合阵列；然后对MnO2进行恒流充放电活化处理，活化过程中使大量NH4+嵌入MnO2晶格，并在晶格中产生氧空位，样品表面形貌变成纳米片；最后... 详细信息

标准号: CN118062898A

本发明公开了一种提高MnO₂铵离子储能性能的方法。首先采用水热法在碳布上生长MnO₂纳米片纳米针复合阵列；然后对MnO₂进行恒流充放电活化处理，活化过程中使大量NH₄⁺嵌入MnO₂晶格，并在晶格中产生氧空位，样品表面形貌变成纳米片；最后对MnO₂进行循环伏安活化处理，调整Mn的配位情况，使MnO₂结构更加稳固，样品表面形貌由纳米针与纳米片复合而成。在1 M CH₃COOH电解液中对电极进行电化学性能测试，发现在10 mA/cm²电流密度下，是未经活化处理的MnO₂电极容量的2.3倍及以上。电化学处理后的MnO₂在25 mA/cm²的电流下，反复充放电20000次后，容量保持率仍然高达95%及以上。

关键词：活化处理纳米片样品表面形貌纳米针晶格电化学处理电化学性能反复充放电容量保持率电极容量复合阵列电解液对电极水热法氧空位铵离子放电储能活化配位碳布嵌入复合稳固测试生长发现

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一种并行光学线层析显微测量方法

一种并行光学线层析显微测量方法

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作者：杨树明王通刘涛蒋庄德时新宇 710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号

本发明公开了一种并行光学线层析显微测量方法，属于光学显微成像及精密测量技术领域。本发明首先利用<maths num="0001"></maths>计算得到标准平面反射镜的显微层析像场，其中I1、I2和I3分别是... 详细信息

标准号: CN105466358A

本发明公开了一种并行光学线层析显微测量方法，属于光学显微成像及精密测量技术领域。本发明首先利用<maths num="0001"></maths>计算得到标准平面反射镜的显微层析像场，其中I₁、I₂和I₃分别是三幅结构光调制像场，绘制上述计算得到的显微层析像场中心点对应的轴向层析响应强度曲线；然后截取该曲线的单侧线性区间，建立强度场与样品表面高度的理论关联模型，得到测量校准线性曲线，形成高度——强度查找表；进而更换标准平面反射镜为实际待测样品，根据高度——强度查找表，得到单次扫描显微像场内所有点的表面高度值，实现一定轴向量程范围内样品表面形貌立体结构的层析检测。本发明可用于无轴向机械扫描、并行、立体层析快速检测。

关键词：层析像场标准平面反射镜查找表显微并行光学显微成像样品表面形貌表面高度测量校准层析检测待测样品单次扫描关联模型机械扫描精密测量快速检测立体结构量程范围显微测量线性区间线性曲线响应强度样品表面光学线结构光立体层所有点显微像中心点轴向层计算截取场内单侧可用无轴一种轴向调制对应绘制更换公开建立

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用于光滑表面形貌测量的窄带非单色光n+1幅相移测试算法

用于光滑表面形貌测量的窄带非单色光n+1幅相移测试算法

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作者：袁群于颢彪高志山毕津慈孙一峰刘威剑徐伟胡乔伟黄旭曹鑫第五蔻蔻 210094 江苏省南京市玄武区孝陵卫200号

本发明公开了一种用于光滑表面形貌测量的窄带非单色光n+1幅相移测试算法，本算法通过窄带非单色光干涉测量实现对光滑样品表面形貌的复原，适用于光源为白光加窄带滤光片的干涉测试系统。驱动相移器按照π/2的相移间隔进行z轴垂直扫描... 详细信息

标准号: CN111121661A

本发明公开了一种用于光滑表面形貌测量的窄带非单色光n+1幅相移测试算法，本算法通过窄带非单色光干涉测量实现对光滑样品表面形貌的复原，适用于光源为白光加窄带滤光片的干涉测试系统。驱动相移器按照π/2的相移间隔进行z轴垂直扫描，共采集连续的干涉图N幅，并对干涉图进行相位φ(z)求解，再根据φ(z)求解对比度U(z)，找出对比度最大的干涉图；以对比度最大的干涉图为第(n+1)/2幅干涉图，在其前后共取连续的n+1幅干涉图，第1幅至n幅相移干涉图采用n幅相移算法复原得到相位φ₁，第2幅至n+1幅相移干涉图同样采用n幅相移算法复原得到相位φ₂，将φ₁和φ₂的平均值作为最终相位。本算法能够有效消除相位复原误差，是一种实用、快速、高精度的形貌复原算法。

关键词：干涉图相移算法复原非单色光相移干涉求解窄带样品表面形貌形貌窄带滤光片测试算法垂直扫描复原算法干涉测量干涉测试光滑表面形貌测量相移器白光光滑光源采集驱动

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