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文献类型

  • 7 篇 专利

馆藏范围

  • 7 篇 电子文献
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日期分布

机构

  • 3 篇 长江存储科技有限...
  • 2 篇 英业达股份有限公...
  • 2 篇 英业达科技有限公...
  • 1 篇 上海芯联芯智能科...
  • 1 篇 北京汤谷软件技术...

作者

  • 3 篇 刘顺临
  • 3 篇 徐晓东
  • 3 篇 赵祥明
  • 3 篇 陈轶
  • 2 篇 宋平
  • 1 篇 李银斯
  • 1 篇 李俊华
  • 1 篇 仲留成

语言

  • 7 篇 中文
检索条件"主题词=测试时钟引脚"
7 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
一种启动时进行引脚内建自测试的芯片
一种启动时进行引脚内建自测试的芯片
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作者: 仲留成 200120 上海市浦东新区盛夏路570号805室
本发明提供一种启动时进行引脚内建自测试的芯片,其包括:边界扫描链;测试访问端口控制器,其与测试数据输出引脚测试数据输入引脚相连;锁相环,其在芯片上电后启动,在锁相环锁定后,使得启动模式信号有效;第一多路选择器,其包... 详细信息
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提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板
提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板
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作者: 宋平 201114 上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号
本发明公开一种提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板,将测试数据输入引脚测试数据输出引脚测试时钟引脚以及测试模式选择引脚通过线路的配置、多工器以及缓冲器的组合与控制,提供扩充联合测试工作组接口与对扩充的联合测试工... 详细信息
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提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板
提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板
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作者: 宋平 201114 上海市闵行区漕河泾出口加工区浦星路789号
本发明公开一种提供扩充联合测试工作组接口的扩充电路板,将测试数据输入引脚测试数据输出引脚测试时钟引脚以及测试模式选择引脚通过线路的配置、多工器以及缓冲器的组合与控制,提供扩充联合测试工作组接口与对扩充的联合测试工... 详细信息
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采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件
采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储...
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作者: 徐晓东 赵祥明 刘顺临 陈轶 430074 湖北省武汉市东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚测试模式选择引脚测试时钟引脚测试数据引脚。所述方法包括:将隔离引脚设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态;以及在隔离引脚... 详细信息
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采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件
采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储...
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作者: 徐晓东 赵祥明 刘顺临 陈轶 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚测试模式选择引脚测试时钟引脚测试数据引脚。所述方法包括:将隔离引脚设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态;以及在隔离引脚... 详细信息
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采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储器件
采用有限数量的测试引脚测试存储器件的方法以及利用该方法的存储...
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作者: 徐晓东 赵祥明 刘顺临 陈轶 430074 湖北省武汉市东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
一种方法用于测试包括封装衬底、控制器裸片和存储器裸片的存储器件。封装衬底包括隔离引脚测试模式选择引脚测试时钟引脚测试数据引脚。所述方法包括:将隔离引脚设置为使存储器裸片与控制器裸片隔离的隔离状态;以及在隔离引脚... 详细信息
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一种原型验证平台的电路结构
一种原型验证平台的电路结构
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作者: 李俊华 李银斯 100000 北京市大兴区北京经济技术开发区科谷一街8号院6号楼4层401(北京自贸试验区高端产业片区亦庄组团)
本实用新型提供一种原型验证平台的电路结构,包括:第一FPGA芯片、闪存芯片以及第二FPGA芯片;第一FPGA芯片的测试数据串行输入引脚与所述闪存芯片的测试数据串行输出引脚连接;第二FPGA芯片的测试数据串行输出引脚与闪存芯片的测试数... 详细信息
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