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  • 1 篇 信道测量平台
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  • 1 篇 测量验证
  • 1 篇 测试模式信号

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作者

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  • 3 篇 丘泳埈
  • 3 篇 都昌镐
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  • 2 篇 李椙晛

语言

  • 124 篇 中文
检索条件"主题词=测试模式信号"
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半导体存储器件
半导体存储器件
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作者： 都昌镐 韩国京畿道
一种检测半导体存储器件中的数据传输线的缺陷的装置，包括：数据传输单元，用于在局部I/O线和全局I/O线之间传输数据；数据传输控制器，用于通过产生读出信号、写入信号和局部I/O线重置信号，来控制数据传输单元；测试模式控制器，用... 详细信息
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带有小规模电路冗余解码器的半导体存储器件
带有小规模电路冗余解码器的半导体存储器件
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作者： 越川康二 日本东京
在一个半导体存储器件中包括正规存储单元阵列、正规解码器、冗余存储单元阵列、和冗余解码器，冗余解码器包括多个冗余解码电路，每个冗余解码电路被提供测试模式信号。冗余解码电路被以不同顺序提供地址信号和互补地址信号，以便以相... 详细信息
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非易失性半导体存储装置及其存取评价方法
非易失性半导体存储装置及其存取评价方法
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作者： 小田大辅 仓盛文章 日本东京
本发明提供非易失性半导体存储装置及其存取评价方法。本发明对期待值错误图案，在包含了由于ECC的运算产生的纠正延迟的预定定时可靠地进行存取评价。非易失性存储器具有：非同步地读出存储在存储单元阵列(20)中的数据的读出单元(25、3... 详细信息
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测试控制电路、使用其的半导体存储装置和半导体系统
测试控制电路、使用其的半导体存储装置和半导体系统
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作者： 蔡行善 韩国京畿道
本发明公开了一种测试控制电路以及使用该测试控制电路的半导体存储装置和半导体系统。所述测试控制电路包括测试模式发生电路。所述测试模式发生电路可以被配置为：在快速访问模式时，基于多个模式信号中的一个所包括的信息以及快速设... 详细信息
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通道控制电路以及具有通道控制电路的半导体器件
通道控制电路以及具有通道控制电路的半导体器件
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作者： 金奇泰 韩国京畿道
根据本发明的实施例，一种具有多个通道的通道控制电路包括：通道控制信号发生模块，所述通道控制信号发生模块被配置成响应于第一测试模式信号和第二测试模式信号的组合而产生能选择性地控制通道的激活状态的通道控制信号；扫描缓冲器... 详细信息
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具有内置测试功能的处理器及其处理方法
具有内置测试功能的处理器及其处理方法
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作者： 畠山努 日本东京都
一种具有内置测试的微处理器，其中包括：寄存器，用于保存测试程序的测试地址；下一个地址产生逻辑电路，用于根据要被接着执行的一个命令的命令地址，产生被安排在下一步执行的一个命令的命令地址；第一多路复用器，用于根据测试模式... 详细信息
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非易失性半导体存储装置以及半导体装置
非易失性半导体存储装置以及半导体装置
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作者： 见谷真 渡边考太郎 日本千叶县
非易失性半导体存储装置以及半导体装置。能够在向非易失性存储元件进行数据写入之前，生成写入后的状态，提高微调的精度。具备向非易失性存储元件发送写入数据的写入数据发送电路、连接在非易失性存储元件与数据输出端子之间的第一开... 详细信息
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具有内部测试电路的半导体集成电路器件
具有内部测试电路的半导体集成电路器件
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作者： 原口嘉典 日本东京
半导体集成电路器件具有器件识别码(ID1)，以判断包信号(RQ)是否寻址到其上，和时序发生器(16)，它响应于表示器件识别码(ID1)和包信号中的输入器件识别码(ID2)一致的找到信号(IDHIT)，为数据存取起动一控制序列，其中信号接收电路(12)... 详细信息
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半导体存储装置、存储系统及其编程方法
半导体存储装置、存储系统及其编程方法
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作者： 具岐峰 韩国京畿道
本发明涉及一种半导体存储装置、一种存储系统以及一种对包括存储控制器以及具有多个半导体存储装置的存储模块的存储系统进行编程的方法。在一个示例性的实施例中，所述半导体存储装置包括：核心块，所述核心块被配置为接收并储存外部... 详细信息
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半导体器件
半导体器件
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作者： 李在仁 金溶美 韩国京畿道
一种半导体器件，包括：写入读取控制电路，用于输出响应于写入命令而被使能的写入使能信号以及测试模式信号；以及错误校正电路，适用于响应于写入使能信号而执行确定输入数据的错误信息的计算操作、然后输出包括错误信息的内部奇偶校... 详细信息
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