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  • 1 篇 测量验证
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作者

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语言

  • 124 篇 中文
检索条件"主题词=测试模式信号"
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电压调节器
电压调节器
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作者： 坂口薰 津村和宏 日本千叶县
本发明提供电压调节器，该电压调节器具有：电压输出电路，其根据输入到输入端子的外部电压，生成低于外部电压的恒定的内部电压，并输出到输出端子；感温电路，其与温度上升对应地使输出节点的输出电压下降；过热检测电路，其与感温电... 详细信息
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半导体装置、利用它的测试方法以及多芯片系统
半导体装置、利用它的测试方法以及多芯片系统
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作者： 金大石 韩国京畿道
一种半导体装置包括测试单元，所述测试单元包括：数据判断单元，所述数据判断单元被配置成接收多个数据，判断多个数据是否相同，以及将判断结果输出为压缩信号；以及输出控制单元，所述输出控制单元被配置成响应于测试模式信号和裸片... 详细信息
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具有测试接口的存储装置
具有测试接口的存储装置
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作者： S·汉纳 美国爱达荷州
本申请涉及一种具有测试接口的存储装置。一种实例系统包括：主总线，其电耦合到由测试模式信号控制的主多路复用器，以在主物理接口PHY与多个从总线中的一个从总线之间进行选择，其中每一从总线电耦合到由所述测试模式信号控制的相应... 详细信息
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用于半导体存储装置的存储单元测试电路及其方法
用于半导体存储装置的存储单元测试电路及其方法
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作者： 李昶赫 韩国京畿道
一种使用于具有多个连接至多个全局输入/输出线的存储体的一半导体存储装置中的存储单元测试电路，包括：多个存储体开关单元，用以基于一测试模式信号及多个控制时钟信号传送从多个存储体所输出的数据至多个全局输入/输出线；逻辑操作... 详细信息
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带有测试功能和冗余功能的半导体存储装置
带有测试功能和冗余功能的半导体存储装置
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作者： 前野秀史 大泽德哉 日本东京都
得到具有能早期地识别内部的被测试的存储电路的故障的有无的测试电路的半导体集成电路装置。在将移位模式信号SM定为“1”、测试模式信号TM定为“1”的第1测试模式时，如果将比较控制信号CMP定为“1”，则成为测试有效状态。而且，各... 详细信息
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一种电路测试控制方法及装置
一种电路测试控制方法及装置
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作者： 滕虓宇 张炜 马文波 于立波 100015 北京市朝阳区东直门外万红西街2号21幢B座四、五层
本发明实施例公开了一种电路测试控制方法及装置，包括，在进入测试模式后，接收第一测试口令，以及与所述第一测试口令对应的第一测试模式信号，将所述第一测试口令与预设口令进行匹配，如果匹配成功，将所述第一测试模式信号输入片上... 详细信息
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用于测试半导体存储器件的装置和方法
用于测试半导体存储器件的装置和方法
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作者： 赵诚范 韩国京畿道
提供了一种用于测试半导体存储器件的装置和方法，其中测试模式信号的频率能够选择性地被改变。所述测试装置包括主测试器、输入频率转换器和输出频率转换器。所述主测试器产生具有第一频率的第一输入测试模式信号、第一编程控制信号、... 详细信息
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半导体测试装置
半导体测试装置
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作者： 李完燮 韩国京畿道
半导体测试装置使用高速内部时钟来执行测试。半导体测试装置包括：时钟发生器，适合于在测试模式期间响应于测试模式信号而产生内部时钟；数据发生器，适合于响应于内部时钟而产生内部数据；以及数据锁存电路，适合于响应于内部时钟而... 详细信息
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半导体装置、利用它的测试方法以及多芯片系统
半导体装置、利用它的测试方法以及多芯片系统
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作者： 金大石 韩国京畿道
一种半导体装置包括测试单元，所述测试单元包括：数据判断单元，所述数据判断单元被配置成接收多个数据，判断多个数据是否相同，以及将判断结果输出为压缩信号；以及输出控制单元，所述输出控制单元被配置成响应于测试模式信号和裸片... 详细信息
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时钟发生电路及包括其的存储器件
时钟发生电路及包括其的存储器件
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作者： 金光淳 韩国京畿道
提供一种时钟发生电路及包括其的存储器件。存储器件包括：时钟发生电路，其适用于响应于读取命令，在读取数据的输出时段期间基于外部时钟信号来产生多个内部时钟信号；以及数据选通输出电路，其适用于响应于内部时钟信号而将第一数据... 详细信息
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