检索结果-内蒙古大学图书馆

作者：闵军喜中国科学院研究生院

学位级别：硕士

传统的混合信号测试,用一组相互独立的测试仪器来完成。例如:万用表,电源模组以及信号发生器等。它们相互叠加放在一起,这就早期的Rack-to-Rack测试方法。这种测试方法,使用一台计算机控制和协调各种不同的仪器。它们之间通过利用低速... 详细信息

传统的混合信号测试,用一组相互独立的测试仪器来完成。例如:万用表,电源模组以及信号发生器等。它们相互叠加放在一起,这就早期的Rack-to-Rack测试方法。这种测试方法,使用一台计算机控制和协调各种不同的仪器。它们之间通过利用低速的串行总线(RS232),虚拟仪器总线(VXI)或通用接口总线(GPIB)协议进行设备之间通信。而这Rack-to-Rack测试方法,虽然很是繁琐,但是在IC设计和初次流片阶段是一种省时,省力更是一种节省成本的验证方法。很显然芯片转规模生产后,此时的Rack-to-Rack测试环境已经不能满足生产测试需求。由于生产测试具有:测试数量大,测试便与操作,测试速度快以及测试参数性能稳定等要求。这就产生了早期的ATE测试技术。\n 本文作者查阅了大量国内外关于高速模数转换器(ADC)测试理论与方法的资料,对频域动态分析理论,相干采样理论与技术以及高速ADC的测试方法等进行了较深入的分析研究。结合国内外目前对高速ADC的测试技术与方法的现状,特别是国内测试测试方法相对起步较晚的现实,对V93000自动测试系统的软件和硬件作了详尽介绍。\n 与此同时,结合V93000自动测试系统,介绍了高速ADC的直流参数,静态参数和动态参数测试理论与方法;并结合V93000自动测试系统,对AT12110高速ADC芯片从测试需求分析,测试板的制作,测试程序开发以及其直流参数,静态参数和动态参数的测试的整个过程作了验证与说明,从而为ADC芯片参数的测试提供一种方便有效的测试方法。\n 在AT12110参数测试过程中,V93000系统自有的PPMU测试单元,便捷有效的完成了该芯片的直流参数测试;同过,通过加入斜波激励和正玄波激励,对该芯片的静态参数和动态参数做了测试。最后对测试结果作了分析,发现了不足之处,并明确了后续工作中的改进方向。

关键词：混合信号测试模数转换器数字信号处理静态参数动态参数

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一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法及系统

一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法及系统

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作者：舒淑保姜一平 518000 广东省深圳市南山区西丽街道大磡杨门工业区20号6楼

本发明基于功能测试的光学SOC芯片测试系统，包括上位机系统以及硬件测试系统，所属硬件测试系统包括通信模块以及检测模块，所述检测模块由供电单元、PMU测试单元、FPGA功能测试单元、继电器矩阵单元以及光源控制单元组成；前述各组成... 详细信息

标准号: CN111175637A

本发明基于功能测试的光学SOC芯片测试系统，包括上位机系统以及硬件测试系统，所属硬件测试系统包括通信模块以及检测模块，所述检测模块由供电单元、PMU测试单元、FPGA功能测试单元、继电器矩阵单元以及光源控制单元组成；前述各组成单元上行通过总线与上位机系统连接，下行与待测试的光学传感器SOC芯片连接，硬件测试系统主要负责直流参数测试和感光逻辑测试。一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法，采用恒定电压、电流源为被测试器件施加精确的恒定电压或恒定电流；硬件上采用模块化结构，逻辑上利用FPGA功能测试单元针对功能进行测试，实现对光学SOC芯片的物理功能性测试和感光逻辑测试，测试成本大大低于传统混合信号测试系统。

关键词：硬件测试系统功能测试单元上位机系统功能测试恒定电压检测模块逻辑测试测试感光光源控制单元混合信号测试直流参数测试被测试器件功能性测试光学传感器继电器矩阵模块化结构测试成本测试单元测试系统供电单元恒定电流通信模块组成单元电流源总线下行上行施加

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一种大电流脉冲测试的方法

一种大电流脉冲测试的方法

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作者：夏自金胡锐刘健黄丽芳马力袁兴林李平包磊张小六申林代松井文涛刘永鹏李政高鹏蒋冰桃 550018 贵州省贵阳市新添大道北段238号

一种改进的大电流脉冲测试方法，该方法是在大电流脉冲测试法的基础上进行改进，移植到STS8208混合信号测试系统上进行测试；将测试条件脉冲时间以及占空比设定为某一数值，即可覆盖现有集成电路功率器件输出电流的测试；在测试器件的... 详细信息

标准号: CN108037436A

一种改进的大电流脉冲测试方法，该方法是在大电流脉冲测试法的基础上进行改进，移植到STS8208混合信号测试系统上进行测试；将测试条件脉冲时间以及占空比设定为某一数值，即可覆盖现有集成电路功率器件输出电流的测试；在测试器件的电源端施加规定电压，在器件输入端提供设定的脉冲激励源，负载采用双路功率电压电流源提供虚地；同样在测试器件的电源端施加规定电压，在器件输入端提供设定脉冲激励源，负载采用双路功率电压电流源提供虚地。本发明从原来只能对分立器件测试拓宽到集成电路功率器件的测试，扩大了应用范围，同时解决了集成电路功率器件测试时容易烧毁器件的问题。适用于集成电路的功率器件、驱动器等输出大电流的测试。

关键词：测试集成电路功率大电流脉冲脉冲激励源测试器件功率电压电流源电源端输入端双路虚地驱动器施加混合信号测试测试条件分立器件功率器件器件测试输出电流测试法大电流占空比脉冲集成电路烧毁改进移植输出覆盖应用

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一种基于FPGA的多路数字量采集处理板卡

一种基于FPGA的多路数字量采集处理板卡

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作者：张士辉邵宝平王鹏刘鑫邹红丽 730070 甘肃省兰州市安宁区邱家湾128号

本实用新型涉及一种基于FPGA的多路数字量采集处理板卡，包括FPGA芯片、FPGA配置芯片、逻辑电平转换单元、VME总线接口单元、板级缓存单元、时钟单元和系统电源等模块构成，其中FPGA芯片AS配置模式的FPGA配置芯片使数字量采集处理板卡... 详细信息

标准号: CN206348634U

本实用新型涉及一种基于FPGA的多路数字量采集处理板卡，包括FPGA芯片、FPGA配置芯片、逻辑电平转换单元、VME总线接口单元、板级缓存单元、时钟单元和系统电源等模块构成，其中FPGA芯片AS配置模式的FPGA配置芯片使数字量采集处理板卡程序存储在FPGA配置芯片中；逻辑电平转换单元主要通过74LVTH16245集成电路完成数据总线电平转换与驱动；VME总线接口单元在FPGA芯片内部，实现VME总线数据传输格式的要求。本实用新型的一种基于FPGA的多路数字量采集处理板卡，是一款利用了VME总线优势的测试板卡，支持多路数据并行传输，可以实现高速率、高精度和大数据量传输，操作简单、易于维护，可以广泛应用于数模转换测试、信号采集分析和混合信号测试等方面。

关键词：数字量采集处理板卡逻辑电平转换本实用新型多路大数据量传输混合信号测试数据传输格式并行传输测试板卡程序存储电平转换多路数据缓存单元配置模式时钟单元数据总线数模转换系统电源信号采集板级集成电路测试驱动应用分析维护光继电器处理板卡输出信号端数字量采集输出端输入端插座电阻多路电路隔离

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计算机测量与控制 2015年第12期 26-26页

一、报道内容:国内外最新自动化测试技术、控制技术、先进总线技术及标准的发展综述与评论;先进的总线技术、人工智能诊断技术、系统集成技术以及控制理论在工业和军事中的应用研究:基于总线系统的边缘扫描测试技术、机内测试、遥测遥... 详细信息

一、报道内容:国内外最新自动化测试技术、控制技术、先进总线技术及标准的发展综述与评论;先进的总线技术、人工智能诊断技术、系统集成技术以及控制理论在工业和军事中的应用研究:基于总线系统的边缘扫描测试技术、机内测试、遥测遥控技术和自动测试系统的设计与开发;芯片级/电路板极/系统级故障诊断技术;武器装备的故障诊断与可测性技术;预测与健康管理(PHM)技术的理论、方法和应用研究;虚拟试验、混合信号测试和微系统测试技术研究;嵌入式系统软件、软件测试以及工控软件的开发与设计

关键词：边缘扫描测试技术文献类型自动化测试技术摘要总线技术混合信号测试

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消费类电子芯片的混合信号测试解决方案

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中国集成电路 2009年第3期18卷 69-72页

作者： Advantest(Suzhou)Co.,Ltd. Advantest(Suzhou)Co. Ltd.

随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高,具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域中的MODEM、CODEC和飞速发展的手机基带芯片、视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,以及各种图象处理器、网... 详细信息

随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高,具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域中的MODEM、CODEC和飞速发展的手机基带芯片、视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,以及各种图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯片,都属于这一类。针对这一类芯片的测试,我们称之为混合信号测试。本文主要讨论这类芯片的测试特点,及针对这些测试特点Advantest的新一代测试平台T2000 LSMF解决方案。

关键词：混合信号测试新一代测试平台 T2000LSMF 电子芯片

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计算机测量与控制 2014年第2期 652-652页

一、报道内容:◆国内外网络化试验和测试技术发展综述与评论;◆先进的总线技术、人工智能诊断技术、系统集成技术以及控制理论在工业领域和军事中的应用研究;◆基于总线系统的边缘扫描测试技术、机内测试、遥测遥控技术和自动测试系统... 详细信息

一、报道内容:◆国内外网络化试验和测试技术发展综述与评论;◆先进的总线技术、人工智能诊断技术、系统集成技术以及控制理论在工业领域和军事中的应用研究;◆基于总线系统的边缘扫描测试技术、机内测试、遥测遥控技术和自动测试系统的设计与开发;◆芯片级/电路板极/系统级可测试性设计与验证技术;◆武器装备可测试性设计与测试性验证技术;◆军工产品预测与健康管理(PHM)技术的研究与应用;◆网络化试验与测试故障诊断技术的研究与应用;◆虚拟测试与试验验证、混合信号测试和微系统测试技术研究;◆嵌入式系统软件、软件测试以及工控组态软件的开发与设计;◆国外先进的测试标准及应用;◆特种传感器技术研究及应用;◆基于计算机技术和总线技术的智能仪器仪表的设计与开发。

关键词：边缘扫描测试技术混合信号测试自动测试系统总线技术人工智能诊断工控组态软件军工产品兵工产品测试性验证故障诊断技术软件测试总线系统遥测遥控武器装备军械装备可测试性设计验证技术系统集成技术软件工程

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计算机测量与控制 2013年第9期 2616-2616页

一、报道内容:国内外网络化试验和测试技术发展综述与评论;先进的总线技术、人工智能诊断技术、系统集成技术以及控制理论在工业领域和军事中的应用研究:基于总线系统的边缘扫描测试技术、机内测试、遥测遥控技术和自动测试系统的设计... 详细信息

一、报道内容:国内外网络化试验和测试技术发展综述与评论;先进的总线技术、人工智能诊断技术、系统集成技术以及控制理论在工业领域和军事中的应用研究:基于总线系统的边缘扫描测试技术、机内测试、遥测遥控技术和自动测试系统的设计与开发;芯片级/电路板极/系统级可测试性设计与验证技术;武器装备可测试性设计与测试性验证技术;军工产品预测与健康管理(PHM)技术的研究与应用;网络化试验与测试故障诊断技术的研究与应用;虚拟测试与试验验证、混合信号测试和微系统测试技术研究;嵌入式系统软件、软件测试以及工控组态软件的开发与设计;国外先进的测试标准及应用

关键词：边缘扫描测试技术可测试性设计验证技术混合信号测试自动测试系统人工智能诊断工控组态软件军工产品兵工产品测试性验证故障诊断技术软件测试总线系统遥测遥控武器装备军械装备

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头脑风暴-模拟和混合信号测试的机遇和挑战(英文)

头脑风暴-模拟和混合信号测试的机遇和挑战(英文)

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第五届中国测试学术会议

作者：夏曙曾来春蒋蓁李金铁郑朝晖朱小荣冯建华 Texas Instruments at Dallas 泰瑞达(台湾)有限公司惠瑞捷半导体科技(上海)有限公司爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司创锐讯通讯技术(上海)有限公司展讯通信(上海)有限公司北京大学微电子学院

The AMS panel session invites a few experts from academy as well as the industry who are actively working in this area to have an open and free discussion on a couple of interesting and hot topics in the AMS testing *** experts will share their insights and perceptions regarding a few of the topics such as the new opportunities for analog & mixed signal testing professionals,how to reduce test & test development cost,BIST of mixed signal ICs, protocol-oriented AMS testing,DFT in nanometer era,and technology & market trends,*** the mean time,the audience will have the opportunities to ask their own questions to one or all the experts sit on the *** goal is to reveal some latest development in the industry as well as the academy,inspire the audience's participation in this area,and enhance the collaboration among different communities.

关键词：混合信号测试可测性设计机遇和挑战

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数模混合信号芯片的测试与可测性设计研究

数模混合信号芯片的测试与可测性设计研究

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作者：胡湘娟湖南大学

学位级别：硕士

随着芯片规模的不断扩大,设计和制造过程中所产生的各种问题都导致芯片测试的难度和成本越来越高,传统的测试模型和测试方法显得难以胜任,测试开销急遽增加。在模拟及混合信号电路领域,由于电路形式及处理信号的独特性,测试理论相对落后... 详细信息

随着芯片规模的不断扩大,设计和制造过程中所产生的各种问题都导致芯片测试的难度和成本越来越高,传统的测试模型和测试方法显得难以胜任,测试开销急遽增加。在模拟及混合信号电路领域,由于电路形式及处理信号的独特性,测试理论相对落后,使得测试难度更大。尤其是当前,SOC系统设计和深亚微米工艺都带来了新的问题,测试正逐渐成为设计的瓶颈,研究人员要花更多的精力在如何降低测试成本上。测试和可测性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向,它们在理论和实践中都有十分突出的价值。本文从集成电路基本测试理论和测试方法开始,逐步深入地对系统级数模混合信号芯片的可测性进行研究。首先,对系统级芯片进行可测性分析,从基本的故障模型开始,对故障的分类、故障模拟、测试向量生成及其算法等方面进行初步的分析,然后对可测性设计进行深入的研究,包括专项设计、扫描设计、边界扫描测试、内建自测试技术,并且使用FPGA芯片实现了一个BIST的例子,其包括测试向量发生器、被测内核和特征分析器。通过对被测内核注入故障,然后对正常电路和注入故障后的电路分别进行仿真来说明BIST的正确性和有效性。接着,对混合信号电路测试进行了专门的探讨,通过对模拟电路的仿真策略和混合信号的仿真策略进行比较来说明混合信号电路设计和仿真的困难性,并且对用来描述混合电路设计和仿真的VHDL-AMS语言进行介绍,指出用VHDL-AMS语言来设计的基本流程和VHDL-AMS中扩展的新概念,同时也介绍了混合信号测试总线IEEE1149.4标准在VLSI中的应用。本文最后介绍了DSP测试混合信号电路的原理,并且介绍了参与研发的基于DSP的集成电路及PCB板的智能混合信号电路与系统测试仪的软硬件设计。总之,具有低廉的测试成本、尽可能高的故障覆盖率和高度可靠的混合信号芯片的可测性设计方法将是系统级芯片进一步发展的要求。

关键词：可测性设计混合信号测试扫描测试内建自测试

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