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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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文献类型

26 篇 专利

馆藏范围

26 篇 电子文献
0 种 纸本馆藏

日期分布

机构

3 篇 上海华虹宏力半导...
3 篇 无锡中感微电子股...
3 篇 三星电子株式会社
2 篇 北京汇德信科技有...
2 篇 中芯国际集成电路...
2 篇 西安电子科技大学
2 篇 深圳美角科技有限...
2 篇 上海华力集成电路...
1 篇 无锡惠芯半导体有...
1 篇 中国电子科技集团...
1 篇 四川晶罡科技有限...
1 篇 爱思开海力士有限...
1 篇 华为技术有限公司
1 篇 宝山钢铁股份有限...
1 篇 无锡中微爱芯电子...

作者

3 篇 黄明永
3 篇 王钊
2 篇 晏颖
2 篇 杨银堂
2 篇 陈雨
2 篇 江安全
2 篇 周向前
2 篇 王勇
2 篇 陈罗平
2 篇 朱樟明
2 篇 丁瑞雪
2 篇 陈志辉
2 篇 薛婷
1 篇 金载勋
1 篇 赵桂林
1 篇 刘明峰
1 篇 杨超
1 篇 吴志玲
1 篇 陈志阳
1 篇 宋清基

语言

26 篇 中文

检索条件"主题词=编程控制信号"

共 26 条记录，以下是11-20 订阅

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详细简洁

排序：

一种基于无线通讯的大屏互动装置

一种基于无线通讯的大屏互动装置

引用

作者：王勇 518126 广东省深圳市宝安区航程街道航空路景福工业园D栋2楼2号

本实用新型公开一种基于无线通讯的大屏互动装置，灯光控制电脑与无线控制发射装置的DMX接口之间通过DMX线连接；无线控制发射装置经天线接口与无线发射天线装置连接；LED灯接收设备设有无线接收电路，通过灯光控制电脑接收DMX编程设备... 详细信息

标准号: CN208046973U

本实用新型公开一种基于无线通讯的大屏互动装置，灯光控制电脑与无线控制发射装置的DMX接口之间通过DMX线连接；无线控制发射装置经天线接口与无线发射天线装置连接；LED灯接收设备设有无线接收电路，通过灯光控制电脑接收DMX编程设备传输的DMX编程控制信号；通过MIX音频设备将获取的音频信号传输到灯光控制电脑，通过灯光控制电脑对音频信号进行处理；将处理完毕的数字音频信号通过无线控制发射装置传输到LED灯接收设备；根据数字音频信号通过DMX编程控制信号利用灯光DMX协议对LED灯接收设备进行显示控制。本实用新型达到调节现场灯光效果和增加气氛的作用，有效提高大型现场活动的门票收入，增强观众现场体验。

关键词：灯光控制无线控制发射接收设备编程控制信号数字音频信号本实用新型电脑无线发射天线无线接收电路音频信号传输传输编程设备灯光效果互动装置门票收入天线接口无线通讯显示控制现场活动音频设备音频信号装置连接线连接大屏灯光观众

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多功能可编程信号发生参数测试系统

多功能可编程信号发生参数测试系统

引用

作者：陈志辉周向前江安全 100083 北京市海淀区学院路30号天工大厦B座1408室

一种多功能可编程信号发生参数测试系统，在同一个片上系统基片上或同一块系统级封装的电路基片上设置有中央处理器、存储器、时钟发生器及可编程控制信号发生源系统、数据采集系统、数字信号处理器和功能电路实时选控模块。可编程控制... 详细信息

标准号: CN204008878U

一种多功能可编程信号发生参数测试系统，在同一个片上系统基片上或同一块系统级封装的电路基片上设置有中央处理器、存储器、时钟发生器及可编程控制信号发生源系统、数据采集系统、数字信号处理器和功能电路实时选控模块。可编程控制信号发生源系统，按照存储器内的控制指令生成设定的波形电压激励信号，功能电路实时选控模块按照中央处理器的选控指令控制其内的信号发生器模块输出激励外接被测物体的测试信号；数据采集系统，实时采集功能电路实时选控模块内的模块式组合多功能参数测试模块采集外接被测物体的应激反应模拟电信号并转换为应激反应数字信号；数字信号处理器实时快速处理数据采集系统产生的应激反应数字信号；功能电路实时选控模块实时选控组合多功能参数测试模块。本实用新型增强了测试系统在高频高速测试条件的可靠性，提高抗电磁干扰效果，实现多功能高度协同测试测量，降低成本及占地空间。

关键词：功能电路数据采集系统应激数字信号处理器编程控制信号中央处理器存储器参数测试数字信号源系统信号发生器模块参数测试系统电磁干扰效果模块式组合时钟发生器系统级封装编程信号波形电压测试系统测试信号电路基片反应模拟高速测试快速处理片上系统实时采集协同测试指令控制采集指令转换

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一种可编程电路

一种可编程电路

引用

作者：王钊 214135 江苏省无锡市无锡新区太湖国际科技园清源路530大厦A区10层

本申请提供了一种可编程电路，包括：可编程单元，其具有编程输入端，编程控制单元，其具有编程控制输入端和编程控制输出端，所述编程控制输出端与所述编程输入端相连，所述编程控制输入端接收编程控制信号，读取单元，其具有读取检测... 详细信息

标准号: CN106024055B

本申请提供了一种可编程电路，包括：可编程单元，其具有编程输入端，编程控制单元，其具有编程控制输入端和编程控制输出端，所述编程控制输出端与所述编程输入端相连，所述编程控制输入端接收编程控制信号，读取单元，其具有读取检测端，所述读取检测端与所述编程输入端相连，静电保护电路，在编程控制信号有效时，所述静电保护电路与所述编程输入端断开；在编程控制信号无效时，所述静电保护电路与所述编程输入端相连。采用本申请所提供的方案可以增强可编程电路的抗静电能力。

关键词：输入端编程编程控制编程控制信号静电保护电路读取可编程电路检测端输出端编程控制单元抗静电能力可编程单元输入端断开读取单元申请

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一种基于专用接口芯片的微控制器编程方法

一种基于专用接口芯片的微控制器编程方法

引用

作者：翁子彬刘明峰丁蔚黄坚吴志玲 214000 江苏省无锡市新吴区长江路21号信息产业科技园D3楼

本发明公开了电子控制装置技术领域的一种基于专用接口芯片的微控制器编程方法，该方法包括软件部分和硬件部分；所述软件部分包括PC上位机软件和主控模块内部固件程序；所述硬件部分包括主控模块、存储模块、显示模块、接触检测模块和... 详细信息

标准号: CN109459947A

本发明公开了电子控制装置技术领域的一种基于专用接口芯片的微控制器编程方法，该方法包括软件部分和硬件部分；所述软件部分包括PC上位机软件和主控模块内部固件程序；所述硬件部分包括主控模块、存储模块、显示模块、接触检测模块和接口模块，本发明提出了一种使用专用接口芯片，使接口电路连接MCU编程引脚的通路能够直接产生编程控制信号，对微控制器(MCU)进行编程的方法，采用专用接口电路后，使编程硬件系统能够产生多路信号，每一通路都能产生编程所需的高压信号、常压信号，并能灵活控制输入输出方向。控制信号的数量及种类不仅支持Flash型MCU的编程，对编程控制信号数量需求较多的OTP型MCU也能完好支持。

关键词：编程编程控制信号专用接口芯片微控制器主控模块电子控制装置专用接口电路编程硬件存储模块多路信号高压信号接触检测接口电路接口模块控制信号灵活控制内部固件输出方向数量需求显示模块直接产生常压引脚

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可编程全差分增益自举跨导放大器

可编程全差分增益自举跨导放大器

引用

作者：朱樟明陈雨薛婷丁瑞雪杨银堂 710071 陕西省西安市太白南路2号

本发明提供了一种可编程全差分增益自举跨导放大器，包括：前置预放大电路，放大差分输入信号，输出预放大后的差分输入信号；后级套筒式增益自举放大电路，放大所述前置预放大电路的输出信号，形成差分输出信号；带宽编程电路，用于根... 详细信息

标准号: CN104242839B

本发明提供了一种可编程全差分增益自举跨导放大器，包括：前置预放大电路，放大差分输入信号，输出预放大后的差分输入信号；后级套筒式增益自举放大电路，放大所述前置预放大电路的输出信号，形成差分输出信号；带宽编程电路，用于根据外部输入的编程控制信号，调节前置预放大电路的带宽和后级套筒式增益自举放大电路的带宽；输出共模反馈电路，用于根据所述差分输出信号，向后级套筒式增益自举放大电路输入共模反馈信号，而使得后级套筒增益自举放大器输出共模电平在预定范围内的差分输出信号；前置预放大电路的放大倍数小于后级套筒式增益自举放大电路的放大倍数。本发明可以实现带宽增大并且具有编程调控带宽大小功能。

关键词：增益自举放大电路预放大电路套筒式带宽前置差分输出信号放大差分输入信号输出增益自举放大器编程控制信号共模反馈电路跨导放大器编程电路反馈信号共模电平输出信号输入共模可编程预放大套筒向后自举编程外部调控

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熔断熔丝编程单元阵列

熔断熔丝编程单元阵列

引用

作者：晏颖 201203 上海市浦东新区康桥东路298号1幢1060室

本发明公开了一种熔断熔丝编程单元阵列，包括：第n个efuse单元第一端连接第n位线，第n个efuse单元第三端连接第n字线；第n个电源控制管漏端连接编程电源，其栅端连接第n编程控制信号,其源端连接第n位线；奇数列读控制管漏端连接奇数列... 详细信息

标准号: CN115019865A

本发明公开了一种熔断熔丝编程单元阵列，包括：第n个efuse单元第一端连接第n位线，第n个efuse单元第三端连接第n字线；第n个电源控制管漏端连接编程电源，其栅端连接第n编程控制信号,其源端连接第n位线；奇数列读控制管漏端连接奇数列位线，其栅端连接第一读控制信号，其源端连接地；偶数列读控制管漏端连接偶数列位线，其栅端连接第二读控制信号，其源端连接一个SA模块；同一efuse单元行上的奇数列上efuse单元的MOS漏端通过功能控制管连接到相邻偶数列位线，该efuse单元行上各功能控制管栅极连接该efuse单元行的控制线。本发明提高了熔断熔丝编程单元阵列的使用灵活性，并实现每个存储位都具有冗余修正功能。

关键词：漏端单元行列位线源端栅端熔断读控制信号编程单元功能控制读控制奇数列熔丝位线编程控制信号使用灵活性编程电源电源控制相邻偶数修正功能栅极连接存储位第一端管连接控制线偶数列冗余字线

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电可编程熔丝系统及其测试方法

电可编程熔丝系统及其测试方法

引用

作者：陈罗平 201203 上海市浦东新区张江路18号

一种电可编程熔丝系统及其测试方法，其中电可编程熔丝系统包括：逻辑控制模块、分别与逻辑控制模块耦接的主编程模块以及冗余编程模块；所述逻辑控制模块，适于输入编程控制信号，根据编程控制信号产生控制主编程模块操作的主输入信号... 详细信息

标准号: CN107342108B

一种电可编程熔丝系统及其测试方法，其中电可编程熔丝系统包括：逻辑控制模块、分别与逻辑控制模块耦接的主编程模块以及冗余编程模块；所述逻辑控制模块，适于输入编程控制信号，根据编程控制信号产生控制主编程模块操作的主输入信号；以及接收主编程模块反馈的主输出信号，并在检测到主编程模块编程失败时，产生控制冗余编程模块操作的冗余输入信号；所述主编程模块，适于接收主输入信号，并进入编程状态；以及向逻辑控制模块反馈主输出信号；所述冗余编程模块，适于接收冗余输入信号，并进入编程状态；以及向所述逻辑控制模块反馈冗余输出信号。本发明简化了使用者对编程控制信号的输入，提高了电可编程熔丝系统的良率。

关键词：主编程逻辑控制模块电可编程熔丝编程模块冗余编程控制信号主输出信号主输入信号编程状态冗余输入反馈冗余输出信号输入编程控制控制模块模块操作与逻辑良率耦接编程测试检测失败

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一种降低功耗的分压检测电路

一种降低功耗的分压检测电路

引用

作者：徐依然黄明永贾敏 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

本发明提出一种降低功耗的分压检测电路，包括：电阻分压电路和电容分压电路，所述电阻分压电路和电容分压电路并联连接于电荷泵，其中所述电阻分压电路连接有电压控制电路，所述电容分压电路连接有开关信号电路，所述电阻分压电路输出... 详细信息

标准号: CN107993689A

本发明提出一种降低功耗的分压检测电路，包括：电阻分压电路和电容分压电路，所述电阻分压电路和电容分压电路并联连接于电荷泵，其中所述电阻分压电路连接有电压控制电路，所述电容分压电路连接有开关信号电路，所述电阻分压电路输出第一分压电压，所述电容分压电路输出第二分压电压，通过所述开关信号电路控制给电容充电使得所述第二分压电压等于所述第一分压电压，并通过所述电容分压电路保持住第二分压电压。本发明通过利用电容分压电路维持分压，来降低编程和擦写时电荷泵电路的功耗。该分压检测电路能根据编程控制信号将电荷泵电路切换至低功耗模式，该分压检测电路通过复用，实现了编程擦写操作时产生不同的分压，进而减小面积。

关键词：电容分压电路分压电压电阻分压电路分压检测电路开关信号电路电荷泵电路分压编程编程控制信号电压控制电路低功耗模式并联连接电容充电降低功耗输出电荷泵写操作擦写复用功耗减小

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用于测试半导体存储器件的装置和方法

用于测试半导体存储器件的装置和方法

引用

作者：赵诚范韩国京畿道

提供了一种用于测试半导体存储器件的装置和方法，其中测试模式信号的频率能够选择性地被改变。所述测试装置包括主测试器、输入频率转换器和输出频率转换器。所述主测试器产生具有第一频率的第一输入测试模式信号、第一编程控制信号、... 详细信息

标准号: CN100442396C

提供了一种用于测试半导体存储器件的装置和方法，其中测试模式信号的频率能够选择性地被改变。所述测试装置包括主测试器、输入频率转换器和输出频率转换器。所述主测试器产生具有第一频率的第一输入测试模式信号、第一编程控制信号、和第二编程控制信号，接收具有第一频率的第一输出测试模式信号，并且检测半导体存储器件的操作性能。所述输入频率转换器响应于第一编程控制信号而将所述第一输入测试模式信号转换成具有第二频率的第二输入测试模式信号，并且将所述第二输入测试模式信号输出至半导体存储器件。所述输出频率转换器响应于第二编程控制信号而将从半导体存储器件接收的、具有第二频率的第二输出测试模式信号转换成所述第一输出测试模式信号，并且输出所述第一输出测试模式信号。所述测试装置和方法可以通过选择性改变测试模式信号的频率来测试具有高操作频率的半导体存储器件。

关键词：测试模式信号半导体存储器件编程控制信号频率转换器测试装置第一频率测试器测试半导体操作性能选择性地存储器响应转换检测

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用于对缺陷单元地址编程的缺陷单元地址编程电路和方法

用于对缺陷单元地址编程的缺陷单元地址编程电路和方法

引用

作者：金载勋徐东一吴孝镇韩国京畿道

一种半导体存储器件以及其中可用的缺陷单元地址编程电路。已封装的半导体存储器件包括：存储单元阵列；多个冗余存储单元，用于修复缺陷存储单元；比较器，用于比较在测试已封装的半导体存储器件的测试过程中从存储单元输出的数据，并... 详细信息

标准号: CN100421175C

一种半导体存储器件以及其中可用的缺陷单元地址编程电路。已封装的半导体存储器件包括：存储单元阵列；多个冗余存储单元，用于修复缺陷存储单元；比较器，用于比较在测试已封装的半导体存储器件的测试过程中从存储单元输出的数据，并产生比较对应信号；模式设置寄存器，用于存储外部施加的缺陷单元地址编程控制信号；地址产生电路，用于产生内部地址；缺陷单元地址编程电路，当比较一致信号指示检测到缺陷存储单元时，锁存来自地址产生电路的内部地址，并且对缺陷单元地址编程；以及缺陷单元地址解码电路，用于当从地址产生电路输出的内部地址和从缺陷单元地址编程电路输出的缺陷单元地址相对应时，产生冗余存储单元选择信号。

关键词：缺陷单元地址半导体存储器件地址产生电路编程电路内部地址冗余存储单元存储单元封装模式设置寄存器编程控制信号存储单元阵列缺陷存储单元测试过程解码电路信号指示修复缺陷比较器锁存编程存储检测外部

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