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作者

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  • 7 篇 金亚美
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  • 3 篇 甄水亮
  • 3 篇 郭丹
  • 3 篇 张丽艳

语言

  • 244 篇 中文
检索条件"主题词=置样"
244 条 记 录,以下是1-10 订阅
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超导带材微观结构置样方法
超导带材微观结构置样方法
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作者: 朱佳敏 甄水亮 陈思侃 张超 高中赫 马化韬 盛杰 吴蔚 王臻郅 丁逸珺 201207 上海市浦东新区自由贸易试验区芳春路400号1幢3层301-15室
本发明提供了一种用于超导带材微观结构置样方法,包括:步骤1:用金属层对超导带材进行封装;步骤2:分离预设长度的封装在超导带材两侧的金属层;步骤3:固定超导带材和靠近超导层一侧的金属层,分离靠近所述超导带材基带层一侧的金... 详细信息
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一种用于孔隙变形观察的置样及实验方法
一种用于孔隙变形观察的置样装置及实验方法
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作者: 俞凌杰 刘友祥 鲍芳 范明 芮晓庆 陈红宇 周圆圆 100027 北京市朝阳区朝阳门北大街22号
一种用于孔隙变形观察的置样及实验方法,包括支架、置样台和加压筒,置样台滑动连接于支架的一端,用于放置样品,加压筒包括筒体、活塞组件和压头,筒体的一端滑动连接于支架的另一端,活塞组件穿过筒体与压头相连接,压头用于向... 详细信息
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超导带材微观结构置样分析方法
超导带材微观结构置样分析方法
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作者: 朱佳敏 甄水亮 陈思侃 张超 高中赫 马化韬 盛杰 吴蔚 王臻郅 丁逸珺 201207 上海市浦东新区自由贸易试验区芳春路400号1幢3层301-15室
本发明提供了一种用于超导带材微观结构置样分析方法,包括:步骤1:用金属层对超导带材进行封装;步骤2:分离预设长度的封装在超导带材两侧的金属层;步骤3:固定超导带材和靠近超导层一侧的金属层,分离靠近所述超导带材基带层一侧... 详细信息
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一种电线电缆绝缘层厚度检测的置样
一种电线电缆绝缘层厚度检测的置样装置
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作者: 张毛毛 丁双双 商徐 226400 江苏省南通市如东县掘港镇通洋北路18号
本实用新型涉及置样领域,具体为一种电线电缆绝缘层厚度检测的置样,包括用于放绝缘层的固定安装板,所述固定安装板上固定连接有用于将绝缘层固定的固定装,所述固定安装板上固定连接有用于检测绝缘层厚度的检测装,所... 详细信息
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硅莫砖抗压强度检测试验置样
硅莫砖抗压强度检测试验置样框
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作者: 吴俊亮 吴春芳 沈驰 韩学亮 喻轶东 喻轶球 214221 江苏省无锡市宜兴市丁蜀镇
本实用新型公开了硅莫砖抗压强度检测试验置样框,包括外边框,所述的外边框为矩形的边框,包括一对长边和一对短边;外边框内均匀的设有多个转动挡板机构,多个转动挡板机构等间距的分布;所述的转动挡板机构包括挡板,挡板的中心轴线... 详细信息
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一种马弗炉置样系统
一种马弗炉置样系统
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作者: 房宏伟 李春亮 李叶静 姜俊岭 050031 河北省石家庄市长安区勘院路18号
本实用新型公开了一种马弗炉置样系统,其特征在于,其包括与马弗炉内的炉腔底面固定连接且沿其深度方向布的轨道,所述轨道上部设有可沿其表面移动的轨道车,所述轨道车顶部有托盘,所述托盘上放有用于容纳实验用品的坩埚。所述的... 详细信息
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一种应用于金刚石激光切割的负压置样
一种应用于金刚石激光切割的负压置样台
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作者: 李再强 廖佳 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙街道宝龙社区宝龙三路4号欧帝光学有限公司D栋厂房102
本实用新型公开了一种应用于金刚石激光切割的负压置样台,属于金刚石加工技术领域。包括基座;置样块;所述置样块上设品固定位,所述品固定位上设有吸孔,所述置样块的侧边还设有抽气孔,所述置样块的内部设有负压腔... 详细信息
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超导带材微观结构置样分析方法
超导带材微观结构置样分析方法
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作者: 朱佳敏 甄水亮 陈思侃 张超 高中赫 马化韬 盛杰 吴蔚 王臻郅 丁逸珺 201207 上海市浦东新区自由贸易试验区芳春路400号1幢3层301-15室
本发明提供了一种用于超导带材微观结构置样分析方法,包括:步骤1:用金属层对超导带材进行封装;步骤2:分离预设长度的封装在超导带材两侧的金属层;步骤3:固定超导带材和靠近超导层一侧的金属层,分离靠近所述超导带材基带层一侧... 详细信息
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一种用于孔隙变形观察的置样及实验方法
一种用于孔隙变形观察的置样装置及实验方法
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作者: 俞凌杰 刘友祥 鲍芳 范明 芮晓庆 陈红宇 周圆圆 100027 北京市朝阳区朝阳门北大街22号
一种用于孔隙变形观察的置样及实验方法,包括支架、置样台和加压筒,置样台滑动连接于支架的一端,用于放置样品,加压筒包括筒体、活塞组件和压头,筒体的一端滑动连接于支架的另一端,活塞组件穿过筒体与压头相连接,压头用于向... 详细信息
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一种测量素面镭射材料光栅常数的方法和装
一种测量素面镭射材料光栅常数的方法和装置
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作者: 李婵 吕伟 黄敏 李修 习永惠 518057 广东省深圳市南山区科技中二路劲嘉科技大厦
本发明涉及一种测量素面镭射材料光栅常数的方法和装。首先在置样台上放并固定素面镭射材料;选择照明点光源,将照明光源设于待测试表面的法线一侧,将光学成像镜头和CCD探测器设于待测试表面的法线方向,CCD探测器和光学... 详细信息
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