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文献类型

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  • 64 篇 电子文献
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主题

  • 2 篇 自动测试模式
  • 1 篇 布尔可满足性
  • 1 篇 拓扑结构
  • 1 篇 baxter输液泵
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  • 1 篇 辅助维修
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  • 1 篇 bdd学习

机构

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  • 2 篇 美商新思科技有限...
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  • 1 篇 华中科技大学
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作者

  • 6 篇 张立明
  • 6 篇 欧阳丹彤
  • 5 篇 马俊
  • 5 篇 詹文法
  • 4 篇 田乃予
  • 4 篇 拉贾马尼·塞瑟拉姆...
  • 4 篇 韩建华
  • 4 篇 卡里姆·阿拉比
  • 3 篇 程一飞
  • 3 篇 m·r·斯皮卡
  • 3 篇 吴海峰
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  • 2 篇 刘敏
  • 2 篇 陈晓艳
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  • 2 篇 李西峰
  • 2 篇 孟乾坤
  • 2 篇 张小杰
  • 2 篇 石冰

语言

  • 64 篇 中文
检索条件"主题词=自动测试模式"
64 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
自动测试模式生成中的BDD学习方法
自动测试模式生成中的BDD学习方法
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第十六届全国测控、计量、仪器仪表学术年会
作者: 刘歆 熊有伦 湖北工业大学电气与电子工程学院 武汉市430068 华中科技大学 武汉市430074
本文提出了基于TRL的BDD学习方法,它有效地结合了SAT、BDD和结构等方法各自的优点,可以有效地解决局部信号赋值之间的关联性.其具体的做法就是首先分析电路的拓扑结构,收集局部信号的关联信息,构造局部电路结构的BDD图,之后则从该图中... 详细信息
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利用Baxter输液泵内置的自动测试模式辅助维修
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中国医疗器械杂志 2000年 第4期24卷 243-244页
作者: 黄忠宇 夏红林 宋辉煌 第一军医大学南方医院仪器科 广东广州510515 国防科技大学政治学院教育技术中心
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片上多电源域系统中的自动测试模式生成电路装置
片上多电源域系统中的自动测试模式生成电路装置
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作者: V·N·斯里尼瓦桑 M·沙玛 T·古普塔 瑞士日内瓦
本公开的各实施例总体上涉及片上多电源域系统中的自动测试模式生成电路装置。本文中描述了具有测试电路装置的集成电路芯片,该测试电路装置被设计为使得可以使用相同的扫描链压缩器解压缩器电路来执行不同电源域的独立可选择测试。本... 详细信息
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针对参数故障的自动测试模式生成(ATPG)
针对参数故障的自动测试模式生成(ATPG)
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作者: P·江 M·巴特查亚 C·P·A·范 美国加利福尼亚州
描述了用于针对参数故障的自动测试模式生成(ATPG)的系统和方法。模型可以被构建,以基于随机变量的随机样本来预测集成电路(IC)设计的测量结果裕度。可以使用该模型为IC设计确定故障事件的集合,其中每个故障事件可以对应于随机变量的... 详细信息
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分布式测试模式生成和同步
分布式测试模式生成和同步
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作者: P·沃尔 K·阿布德尔-哈菲兹 M·D·德索扎 美国加利福尼亚州
提供了分布式测试模式生成和同步。公开了用于执行有效的自动测试模式生成(ATPG)技术。ATPG由ATPG工作器执行,ATPG工作器的故障状态由ATPG管理器来同步。由ATPG工作器进行的测试模式生成以生成和故障仿真间隔之间的最小空闲时间被执行... 详细信息
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一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法
一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法
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作者: 周慧思 张立明 欧阳丹彤 130012 吉林省长春市前进大街2699号
本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法,属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合;然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集,通... 详细信息
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一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法
一种结合PMS技术约简集成电路测试模式集的方法
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作者: 周慧思 张立明 欧阳丹彤 130012 吉林省长春市前进大街2699号
本发明涉及一种用Partial MaxSAT求解器约简集成电路测试模式集的方法,属于数字电路测试技术领域。本方法首先利用Tetra MAX自动测试模式生成工具生成测试模式集合;然后对测试模式集合中的每个测试模式得到其可以检测到的故障集,通... 详细信息
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一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法
一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法
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作者: 陈晓艳 张立明 欧阳丹彤 郭江姗 刘杨 刘梦 田乃予 130012 吉林省长春市前进大街2699号
本发明涉及一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法,属于数字电路测试技术领域。本方法首先对特定的电路利用自动测试模式生成工具生成测试模式集合;然后对测试模式集合中的每个元素(测试模式)得到其可以检测到的故障集合,并... 详细信息
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一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法
一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法
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作者: 陈晓艳 张立明 欧阳丹彤 郭江姗 刘杨 刘梦 田乃予 130012 吉林省长春市前进大街2699号
本发明涉及一种结合极小碰集约简集成电路测试模式集的方法,属于数字电路测试技术领域。本方法首先对特定的电路利用自动测试模式生成工具生成测试模式集合;然后对测试模式集合中的每个元素(测试模式)得到其可以检测到的故障集合,并... 详细信息
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基于逐次逼近法的编码压缩方法
基于逐次逼近法的编码压缩方法
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作者: 吴海峰 苏本跃 程一飞 詹文法 刘桂江 246000 安徽省安庆市菱湖南路128号安庆师范学院计算机与信息学院
本发明提供了一种基于逐次逼近法的编码压缩方法,包括下述步骤:采用自动测试模式生成工具,生成确定的完全测试集;将所有测试向量级联,即将一个向量的尾部接另一个向量的首部;取测试集的前n位,按照4位一组转换成16进制,在第1位... 详细信息
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