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  • 77 篇 中文
检索条件"主题词=芯片测试结果"
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芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法
芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法
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作者： 陈燕萍 吴彩平 娄建和 201306 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区飞渡路66号6幢
本发明公开一种芯片测试结果数据的自动抓取与分析方法，选择测试服务器的测试结果数据所要存储的路径；确定测试报告表的关键属性，测报程序根据关键属性信息，自动地从大批量测试结果数据中，采用一定的算法，获得所要的测试数据；根... 详细信息
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芯片测试结果的处理方法和装置
芯片测试结果的处理方法和装置
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作者： 舒柏钦 宦承永 孙文锦 郭家宏 陈广世 518000 广东省深圳市南山区高新南一道015号国微研发大厦六层A
本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试结果的处理方法，方法包括：获取多个测试结果文件，一个测试结果文件包括一颗芯片的测试结果，每个测试结果文件包括多项测试数据；在多个测试结果文件中，确定第一测试结果文件，第... 详细信息
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芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法
芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法
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作者： 肖思文 郑朝生 郑挺 肖小波 容承昌 袁俊 卢旭坤 辜诗涛 张亦锋 523000 广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号
本发明公开一种芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法，分类系统包括进料区、分料区及出料区。进料区设有第一读码器，第一读码器读取进料盘上的标识码，标识码记录有进料盘中各芯片的BIN项信息及坐标。分料区设有多个料槽及机械手臂... 详细信息
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芯片测试结果的展示方法、系统、装置及存储介质
芯片测试结果的展示方法、系统、装置及存储介质
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作者： 梁倍豪 518048 广东省深圳市福田区福保街道福保社区桃花路1-3号达升大楼2层FB区
本发明公开了一种芯片测试结果的展示方法、系统、装置及存储介质。该方法包括：创建第一链表，第一链表用于记录串口顺序；显示芯片测试的主界面，主界面设置有功能选取区域、串口工作区域和属性标识区域；在功能选取区域上接收到对串... 详细信息
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芯片测试结果的展示方法、系统、装置及存储介质
芯片测试结果的展示方法、系统、装置及存储介质
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作者： 梁倍豪 518048 广东省深圳市福田区福保街道福保社区桃花路1-3号达升大楼2层FB区
本发明公开了一种芯片测试结果的展示方法、系统、装置及存储介质。该方法包括：创建第一链表，第一链表用于记录串口顺序；显示芯片测试的主界面，主界面设置有功能选取区域、串口工作区域和属性标识区域；在功能选取区域上接收到对串... 详细信息
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芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统
芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统
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作者： 不公告发明人 230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
本发明提供一种芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统，方法包括获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；对获取的原始数据进行数据解析，以获得各个测试方法对应的测试结果；在图形用户界面的模式选择区域显示各个待... 详细信息
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一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备
一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备
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作者： 刘祥 雷龙 骆劼行 201210 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易实验区碧波路177号503E、503F、503G、503H、503I、503J室
本公开提供了一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备，通过根据预设的测试结果展示需求，配置定义有多种基础测试参数字段及对应键值类型的第一格式模板；获取待转换测试结果文件，确定所述待转换测试结果文件中表头信息以及... 详细信息
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一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备
一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备
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作者： 刘祥 雷龙 骆劼行 201210 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易实验区碧波路177号503E、503F、503G、503H、503I、503J室
本公开提供了一种芯片测试结果的格式转换方法、装置及电子设备，通过根据预设的测试结果展示需求，配置定义有多种基础测试参数字段及对应键值类型的第一格式模板；获取待转换测试结果文件，确定所述待转换测试结果文件中表头信息以及... 详细信息
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芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法
芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法
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作者： 肖思文 郑朝生 郑挺 肖小波 容承昌 袁俊 卢旭坤 辜诗涛 张亦锋 523000 广东省东莞市万江街道莫屋新丰东二路2号
本发明公开一种芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法，分类系统包括进料区、分料区及出料区。进料区设有第一读码器，第一读码器读取进料盘上的标识码，标识码记录有进料盘中各芯片的BIN项信息及坐标。分料区设有多个料槽及机械手臂... 详细信息
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一种芯片测试结果的分析方法、系统及装置
一种芯片测试结果的分析方法、系统及装置
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作者： 张晓晖 215100 江苏省苏州市吴中区吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
本发明公开了一种芯片测试结果的分析方法、系统及装置，预先将用于在芯片测试Fail时生成测试日志的逻辑程序，写入芯片的任一测试项目的测试脚本中；在执行测试脚本后得到Fail测试结果时，从测试日志中自动提取出Fail信息；将Fail信息... 详细信息
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