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T=题名（书名、题名），A=作者（责任者），K=主题词，P=出版物名称，PU=出版社名称，O=机构（作者单位、学位授予单位、专利申请人），L=中图分类号，C=学科分类号，U=全部字段，Y=年（出版发行年、学位年度、标准发布年）

检索规则说明：

AND代表“并且”；OR代表“或者”；NOT代表“不包含”；(注意必须大写,运算符两边需空一格)

检索范例：

范例一：(K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 AND Y=1982-2016
范例二：P=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT K=Visual AND Y=2011-2016

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15 篇 专利

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15 篇 电子文献
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机构

2 篇 南京信息工程大学
2 篇 江门长青藤智能科...
2 篇 杭州群核信息技术...
2 篇 河海大学
2 篇 北京华宜信科技有...
2 篇 内蒙古科技大学
1 篇 合肥埃科光电科技...
1 篇 合肥欣奕华智能机...
1 篇 合肥埃科光电科技...

作者

2 篇 陈晓
2 篇 张微
2 篇 汤卓超
2 篇 沈孟贤
2 篇 王志春
2 篇 曹桂平
2 篇 张晓浩
2 篇 曹兆楼
2 篇 杨明珠
2 篇 李志男
2 篇 习强
2 篇 唐睿
2 篇 王雪
2 篇 董宁
2 篇 裴世鑫
2 篇 徐文志
2 篇 叶井飞
2 篇 叶青
2 篇 咸冯林
2 篇 张琦翔

语言

15 篇 中文

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一种模型轮廓图生成方法、装置和系统

一种模型轮廓图生成方法、装置和系统

引用

作者：唐睿叶青 310000 浙江省杭州市江干区九环路9号3幢2楼208室

本发明公开了一种模型轮廓图生成方法、装置和系统，属于图形处理技术领域，具体包括：渲染三维模型的特征信息，将特征信息映射到二维渲染图以得到特征图，所述特征信息包括表面法向信息、表面位置信息、深度信息、模型分组信息；综合... 详细信息

标准号: CN111932566B

本发明公开了一种模型轮廓图生成方法、装置和系统，属于图形处理技术领域，具体包括：渲染三维模型的特征信息，将特征信息映射到二维渲染图以得到特征图，所述特征信息包括表面法向信息、表面位置信息、深度信息、模型分组信息；综合每种特征信息对应特征图中为轮廓点的像素点，得到二值化轮廓图；对所述二值化轮廓图进行连通域分析、腐蚀、膨胀操作以获得模型轮廓图。该模型轮廓图生成方法、装置和系统综合渲染和图像处理技术，能够生成高质量的三维模型轮廓图，在保留所有关键轮廓信息的同时不产生多余的瑕疵。

关键词：特征信息模型轮廓轮廓图三维模型渲染二值化特征图图生成表面位置信息图像处理技术图形处理技术连通域分析分组信息轮廓信息深度信息系统综合表面法轮廓点像素点映射二维瑕疵腐蚀膨胀保留

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一种基于Helmholtz方程的任意三维图形表面重构方法

一种基于Helmholtz方程的任意三维图形表面重构方法

引用

作者：傅卓佳汤卓超习强徐文志 211100 江苏省南京市江宁区佛城西路8号

本发明公开了一种基于Helmholtz方程的任意三维图形表面重构方法，包括以下步骤：S10、对三维图形目标体进行扫描从而获得目标体表面附近数据点，得到这些数据点的坐标信息；S20、获取目标体表面部分点的实际坐标信息，为这些表面已知... 详细信息

标准号: CN109389685A

本发明公开了一种基于Helmholtz方程的任意三维图形表面重构方法，包括以下步骤：S10、对三维图形目标体进行扫描从而获得目标体表面附近数据点，得到这些数据点的坐标信息；S20、获取目标体表面部分点的实际坐标信息，为这些表面已知点的实际坐标信息赋予一个无量纲值u，作为Helmholtz方程求解的边界条件；S30、将步骤S10中获取的所有数据点坐标信息导入径向基函数插值公式，通过边界点插值技术求解出所有数据点的无量纲值S40、以步骤S20中的无量纲值u为分类标准，筛选出的数据点为三维体表面点，从而达到表面重构的目的。本发明首次将边界节点插值技术应用于三维图形表面重构，仅利用边界表面部分点坐标信息即可重构图形表面，精确高效地获得目标体表面位置信息。

关键词：表面重构三维图形目标体数据点无量纲实际坐标坐标信息表面位置信息径向基函数边界表面边界节点边界条件方程求解分类标准获取目标技术应用体表面部图形表面信息赋予边界点点坐标已知点求解重构三维扫描筛选

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一种暖桌安全温度保证方法、系统及暖桌

一种暖桌安全温度保证方法、系统及暖桌

引用

作者：沈阁 529799 广东省江门市鹤山市工业城C区

本发明公开了一种暖桌安全温度保证方法、系统及暖桌，涉及取暖家电温度控制技术领域。包括获取暖桌热源信息，所述热源信息包括热源位置信息、热源功率和当前温度、辐射范围；获取受热物信息，所述受热物信息包括，受热物表面位置信息... 详细信息

标准号: CN117873219A

本发明公开了一种暖桌安全温度保证方法、系统及暖桌，涉及取暖家电温度控制技术领域。包括获取暖桌热源信息，所述热源信息包括热源位置信息、热源功率和当前温度、辐射范围；获取受热物信息，所述受热物信息包括，受热物表面位置信息、受热物表面温度信息。本发明在进行多辐射型热源的温度控制中，能够通过检查暖桌覆盖区域内的受热物位置进行单个或者多个热源的共同控制，同时出现受热物太靠近热源时通过掩体判断模型进行安全性判断，从而让单独热源进行其表面温度的独立控制，进而避免其表面温度升温过快出现安全问题。

关键词：受热物热源暖桌表面位置信息表面温度信息温度控制技术安全性判断安全问题独立控制覆盖区域热源功率热源位置辐射型取暖桌掩体取暖家电辐射检查安全保证

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一种暖桌安全温度保证方法、系统及暖桌

一种暖桌安全温度保证方法、系统及暖桌

引用

作者：沈阁 529799 广东省江门市鹤山市工业城C区

标准号: CN117873219B

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一种模型轮廓图生成方法、装置和系统

一种模型轮廓图生成方法、装置和系统

引用

作者：唐睿叶青 310000 浙江省杭州市江干区九环路9号3幢2楼208室

标准号: CN111932566A

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一种连铸结晶器内保护渣厚度测量装置及方法

一种连铸结晶器内保护渣厚度测量装置及方法

引用

作者：王志春张琦翔 014010 内蒙古自治区包头市昆区阿尔丁大街7号

本发明公开了一种连铸结晶器内保护渣厚度测量装置及方法，属于连铸结晶器控制技术领域。装置包括安装支架、线性调频连续波雷达，所述线性调频连续波雷达包括发射天线、接收天线、回波信号处理系统，通过安装支架安装在连铸结晶器保护... 详细信息

标准号: CN113000802B

本发明公开了一种连铸结晶器内保护渣厚度测量装置及方法，属于连铸结晶器控制技术领域。装置包括安装支架、线性调频连续波雷达，所述线性调频连续波雷达包括发射天线、接收天线、回波信号处理系统，通过安装支架安装在连铸结晶器保护渣的上方，线性调频连续波雷达用于经发射天线发出电磁波信号，回波信号经过回波信号处理系统进行混频、放大、滤波后转换成包含距离信息的差频信号，差频信号经过回波信号处理系统处理后得到粉渣层的厚度以及粉渣层表面位置信息。方法通过装置实现。本发明实现了精准地测量保护渣的厚度。同时精准掌握保护渣厚度还能节省保护渣，降低成本。

关键词：保护渣线性调频连续波雷达信号处理系统回波连铸结晶器安装支架差频信号发射天线粉渣层连铸结晶器保护渣表面位置信息厚度测量装置控制技术领域电磁波信号回波信号接收天线距离信息通过装置混频滤波放大测量转换

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一种基于Helmholtz方程的任意三维图形表面重构方法

一种基于Helmholtz方程的任意三维图形表面重构方法

引用

作者：傅卓佳汤卓超习强徐文志 211100 江苏省南京市江宁区佛城西路8号

标准号: CN109389685B

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一种差动光谱共焦传感器

一种差动光谱共焦传感器

引用

作者：董宁曹桂平王雪 230088 安徽省合肥市高新区燕子河路388号亿智科技产业园1号楼

本发明的一种差动光谱共焦传感器，包括宽谱光源经过Y型光纤分成光强相等的两束光，分别进入一个光纤环形器；出光口C1和出光口C2出射的光源分别经过一个偏振片后，二者偏振方向相互垂直，再经过半透半反棱镜后合束照射到同一个色散镜... 详细信息

标准号: CN113108697A

本发明的一种差动光谱共焦传感器，包括宽谱光源经过Y型光纤分成光强相等的两束光，分别进入一个光纤环形器；出光口C1和出光口C2出射的光源分别经过一个偏振片后，二者偏振方向相互垂直，再经过半透半反棱镜后合束照射到同一个色散镜头上；从被测物表面反射的光再经过半透半反棱镜后分别进入两个光纤环形器的出光口，再分别从光纤环形器的出口输出，输出光分别由光谱仪接收。本发明利用两路轴向相互错位的光谱共聚焦传感器同时测量，两个传感器共用一个色散镜头，将两个光谱曲线相减求零点对应的波长，以此计算被测表面位置信息，使用差动方法求零点对应的波长，能够消除被测物本身颜色导致光谱反射率对峰值计算的影响，提高测量精度。

关键词：光纤环形器出光口半透半反棱镜传感器波长光谱色散测量表面位置信息被测物表面共焦传感器光谱反射率光谱仪接收峰值计算光谱曲线宽谱光源镜头被测物共聚焦偏振片输出光差动出射光强合束两路偏振相减轴向反射光源相等照射错位垂直输出出口

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一种差动光谱共焦传感器

一种差动光谱共焦传感器

引用

作者：董宁曹桂平王雪 230088 安徽省合肥市高新区燕子河路388号亿智科技产业园1号楼

标准号: CN113108697B

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一种坩埚系统

一种坩埚系统

引用

作者：鲁俊瑞褚蓉蓉 230013 安徽省合肥市新站区龙子湖路与荆山路交口西南

本发明涉及蒸镀设备技术领域，公开一种坩埚系统，该坩埚系统，包括：坩埚；蒸镀材料表面位置检测单元，用于检测坩埚中的蒸镀材料的表面位置；两个加热单元，其中，一个加热单元用于自坩埚外侧进行加热，另一个加热单元用于自坩埚内侧... 详细信息

标准号: CN112853272A

本发明涉及蒸镀设备技术领域，公开一种坩埚系统，该坩埚系统，包括：坩埚；蒸镀材料表面位置检测单元，用于检测坩埚中的蒸镀材料的表面位置；两个加热单元，其中，一个加热单元用于自坩埚外侧进行加热，另一个加热单元用于自坩埚内侧进行加热；两个加热单元中的至少一个可相对于坩埚沿坩埚的轴线方向移动的安装于坩埚；用于驱动可相对于坩埚移动的加热单元动作的驱动组件；控制单元，控制单元与蒸镀材料表面位置检测单元以及驱动组件信号连接，用于根据蒸镀材料表面位置检测单元检测的蒸镀材料的表面位置信息控制驱动组件动作。从而，确保坩埚中蒸镀材料表面始终均匀受热，从而使蒸镀材料均匀挥发，保证蒸镀的膜层的均匀性。

关键词：坩埚加热单元蒸镀材料表面位置检测单元蒸镀材料驱动组件坩埚系统加热表面位置信息控制驱动组件轴线方向移动表面位置均匀受热信号连接蒸镀设备均匀性检测挥发膜层蒸镀驱动移动保证

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