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作者

  • 38 篇 桥本雄一郎
  • 28 篇 杉山益之
  • 22 篇 长谷川英树
  • 14 篇 诸熊秀俊
  • 13 篇 安田博幸
  • 10 篇 山田益义
  • 9 篇 山口真一
  • 8 篇 野上真
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  • 7 篇 石黑浩二
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  • 277 篇 中文
检索条件"主题词=质量分析装置"
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质量分析装置的控制方法、质量分析系统和电压控制装置
质量分析装置的控制方法、质量分析系统和电压控制装置
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作者: 杉山益之 长谷川英树 长屋勇辉 桥本雄一郎 安田博幸 日本东京都
为了进行高效率的质量分析,特征在于,具有质量分析装置质量分析装置包括:离子源、离子导向器、四极杆质量过滤器和配置在四极杆质量过滤器的后级的检测器,并且包括DC电源和RF电源、以及通过控制电源来控制直流电压即加速电压的电... 详细信息
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质量分析装置以及质量分析方法
质量分析装置以及质量分析方法
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作者: 田川雄介 石川勇树 日本国京都府
本发明提供一种质量分析装置,为了使离子源(31)中的对离子化效率造成影响的N种(其中N为2以上的整数)参数最优化而具备:测量控制部(41),对各部进行控制,以在使N种参数中的各参数的值、或者M种(其中M为小于N的整数)参数集中而得到的... 详细信息
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质量分析装置
质量分析装置
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作者: 三浦宏之 出水秀明 日本国京都府
本发明提供一种质量分析装置,能够抑制由冷却气体引起的离子检测强度降低。质量分析装置具备:真空容器,具有各自内部被真空排气的第1室、第2室及开口;离子阱,具备配置在第1室内的多个电极,具有将离子导入的离子导入口及将离子释... 详细信息
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质量分析装置
质量分析装置
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作者: 工藤朋也 日本国京都府
本发明涉及质量分析装置,第1喷雾部(201)使第1试样带电的同时将其喷雾至第1空间(20)内。第2喷雾部(202)使第2试样带电的同时将其喷雾至第1空间(20)内或与第1空间(20)连通的第2空间(21)内。判定部(62)判定有无来自第2喷雾部(202)的第2... 详细信息
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质量分析装置
质量分析装置
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作者: 上野良弘 日本国京都府
本发明涉及一种质量分析装置,是具备使试样气体中所包含的成分离子化的离子源的质量分析装置,该离子源(3)具备:离子化室(30),具有离子射出口(301),在其内部形成与外部大致划分的空间;热电子供给部(32),向离子化室的内部供给热电... 详细信息
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质量分析装置
质量分析装置
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作者: 上田学 中野智仁 田中雄树 日本国京都府
本发明涉及质量分析装置,是搭载了基于ES I法的离子源的单一型的四极型质量分析装置,并且是具备排气速度相对较小的真空泵的小型装置。将用于将离子从离子化室(2)导入第1中间真空室(3)的去溶剂管(11)的内径设为作为小型质量分析装置... 详细信息
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质量分析装置以及分析条件的设定方法
质量分析装置以及分析条件的设定方法
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作者: 松下知义 日本京都府京都市中京区西之京桑原町1番地
本发明的质量分析装置以及分析条件的设定方法能够提高目标离子的检测灵敏度。ICP‑MS包括控制装置、设在等离子体的光轴上的碰撞池及第一电极与设在检测轴上的第二电极、质量分离装置及检测器。控制装置对于施加至第一电极及第二电极的... 详细信息
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质量分析装置
质量分析装置
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作者: 石黑浩二 日本东京都
本公开公开了不仅降低环境温度的影响,还降低环境湿度的影响,防止构成质量分析装置的电源的电气元件的寿命变短的技术。因此,本公开提出了一种质量分析装置,参照图3,该质量分析装置具备:电路基板,其配置有电气元件;气体供给部... 详细信息
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质量分析装置
质量分析装置
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作者: 西口克 日本国京都府
本发明涉及质量分析装置,其在大气压气氛中生成源自试样成分的离子的离子源(11、2)与配置有质量分离器(7)的真空室(14)间具有一个以上的中间真空室(12、13),该质量分析装置具备:离子输送部(3),在离子源的下一级的第1中间真空室(12)... 详细信息
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质量分析装置
质量分析装置
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作者: 石黑浩二 吉成清美 日本东京
本发明的目的是提供一种能够防止试料长时间残留在离子源容器内部的质量分析装置。本发明的质量分析装置中,在离子源容器的内部除了供给离子源进行电离所用的第一气体之外,还供给沿着离子源容器的内壁朝向排气部流动的第二气体。
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