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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

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  • 1 篇 电子文献
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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 测试响应压缩
  • 1 篇 未知位掩盖
  • 1 篇 soc测试
  • 1 篇 错误位混淆率
  • 1 篇 卷积码

机构

  • 1 篇 中国科学院计算技...
  • 1 篇 中国科学院研究生...
  • 1 篇 synopsys inc 700...

作者

  • 1 篇 李华伟
  • 1 篇 韩银和
  • 1 篇 李晓维
  • 1 篇 anshumanchandra

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=错误位混淆率"
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排序:
基于卷积编码的SOC测试响应压缩研究
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中国科学(E辑) 2006年 第6期36卷 686-697页
作者: 韩银和 李华伟 李晓维 AnshumanChandra 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 北京100080 中国科学院研究生院 北京100039 Synopsys Inc 700 E Middlefield Rd Mountain View CA 94043 USA
提出一种单输出压缩方法.首先提出了码为n/(n?1)、距离为3的卷积码的设计规则,利用这些规则可得到卷积码的校验矩阵,该校验矩阵的实现电路即是能够提供单输出压缩的响应压缩电路.所设计的压缩电路可避免2个和任意奇数个错误混淆... 详细信息
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