检索结果-内蒙古大学图书馆

built-in-self-testing techniques for programmable capacitor arrays

JOURNAL OF ELECTRONIC testing-THEORY AND APPLICATIONS 2006年第4-6期22卷 449-462页

作者： Laknaur, Amit Durbha, Sai Raghuram Wang, Haibo So Illinois Univ Dept Elect & Comp Engn Carbondale IL 62901 USA

This paper presents efficient built-in-self-testing (BIST) techniques for programmable capacitor arrays (PCAs) on field programmable analog array (FPAA) platforms. The proposed BIST circuits consist of switched-capacitor (SC) integrators and analog window comparators. Taking advantage of FPAA programmable resources, the proposed PCA BIST circuits can be implemented with very small hardware overhead. Also the impact of comparator threshold variations as well as other circuit parasitic effects on the efficiency of the proposed testing method is investigated. Effective circuit techniques along with new comparator designs are presented to minimize the adverse effect of comparator threshold variations. Finally, procedures for using the proposed BIST method to systematically test all PCAs on an FPAA platform are described and experimental results are presented.

关键词： built-in-self-testing field programmable analog array programmable capacitor array analog testing

来源：评论

学校读者我要写书评

暂无评论

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：