检索结果-内蒙古大学图书馆

红外与激光工程 2024年第2期53卷 120-133页

作者：徐瑞书罗笑南沈瑶琼郭创为张文涛管钰晴傅云霞雷李华上海市计量测试技术研究院上海201203 上海在线检测与控制技术重点实验室上海201203 桂林电子科技大学计算机与信息安全学院广西桂林541004

提出了一种结合深度学习的空间相位解包裹方法,采用基于改进U-Net网络的编码器-解码器架构,同时加入包含双向长短期记忆网络(BILSTM)的CBiLSTM模块,并且结合注意力机制,避免了典型卷积神经网络学习全局空间依赖关系的固有缺陷的同时增... 详细信息

提出了一种结合深度学习的空间相位解包裹方法,采用基于改进U-Net网络的编码器-解码器架构,同时加入包含双向长短期记忆网络(BILSTM)的CBiLSTM模块,并且结合注意力机制,避免了典型卷积神经网络学习全局空间依赖关系的固有缺陷的同时增强了深度学习模型对相位解包裹任务中的关键信息的关注能力。通过大量的模拟数据,验证了文中方法在严重噪声(SNR=0)、不连续条件和混叠条件下的鲁棒性,在以上三种情况下,同其他深度学习网络模型进行对比,文中所提出的网络模型的归一化均方根误差(NRMSE)分别为0.75%、1.81%和1.68%;结构相似性指数(SSIM)分别为0.98、0.92和0.94;峰值信噪比(PSNR)分别为40.87、32.56、37.38;同时计算时间显著减少,适合应用到需要快速准确的空间相位解包裹任务中去。通过实际测量数据,验证了文中提出网络模型的可行性。该研究将双向长短期记忆网络(BILSTM)和注意力机制同时引入光学相位解包裹问题中,为解决复杂相位场的解包裹提供了新的思路和方案。

关键词：相位解包裹深度学习注意力机制长短期记忆网络卷积神经网络

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基于AHP的ABC分类模型的实验室耗材库存分类管理

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实验室研究与探索 2022年第9期41卷 269-272页

作者：齐钰明新国商易安孟娇然谢若龑上海市计量测试技术研究院化学与电离辐射计量技术研究上海201203 上海市计量测试技术研究院科技信息处上海201203 上海交通大学机械与动力工程学院上海200240

有效的耗材库存管理对维持实验室稳定运行具有非常重要的实际价值,合理分类是库存管理的基础。由于传统ABC分类法具有评价指标单一的局限性,容易导致实验室耗材分类不合理,将层次分析法(AHP)与ABC分类法相结合,从关键性、易得性和经济性... 详细信息

有效的耗材库存管理对维持实验室稳定运行具有非常重要的实际价值,合理分类是库存管理的基础。由于传统ABC分类法具有评价指标单一的局限性,容易导致实验室耗材分类不合理,将层次分析法(AHP)与ABC分类法相结合,从关键性、易得性和经济性3个维度对实验室耗材进行了评价和分类,并给出了应用案例。通过应用该方法,可对耗材进行快速合理的分类,便于实验室人员更为准确地找出管理重点,使实验室耗材库存管理更具针对性和有效性,提升了管理效率和管理水平。

关键词：实验室管理耗材分类层次分析法 ABC分类法库存管理

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一种AML语言性能验证系统

一种AML语言性能验证系统

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作者：陈曦肖天雷王裴劼翟玉铭王磊 201203 上海市浦东新区张衡路1500号

本发明提出了一种AML语言性能验证系统，包括：工程信息存储中心；人机界面，通过所述人机界面获取网络拓扑结构下所有联机设备的状态信息，查看设备的运行状态，实现对工厂设备信息采集的模拟；通过所述人机界面查看所有设备存储在所... 详细信息

标准号: CN111796998B

本发明提出了一种AML语言性能验证系统，包括：工程信息存储中心；人机界面，通过所述人机界面获取网络拓扑结构下所有联机设备的状态信息，查看设备的运行状态，实现对工厂设备信息采集的模拟；通过所述人机界面查看所有设备存储在所述工程信息存储中心的历史运行信息，从而追踪单个设备的运行状态；控制总机，所述控制总机控制场景，负责终端上报数据、下发给指定的多台终端，能够实现网络环境下的工程数据交换从而实现对工厂设备间信息通信的模拟；设备，通过所述设备发出错误的AML数据，所述控制总机能够识别错误数据，并反馈到所述人机界面。

关键词：人机界面总机存储中心工厂设备工程信息运行状态网络拓扑结构错误数据单个设备工程数据联机设备网络环境信息采集信息通信性能验证终端上报存储终端追踪场景反馈语言交换

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一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置及测量方法

一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置及测量方法

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作者：吴俊杰蔡潇雨魏佳斯李源周勇孙恺欣 200040 上海市静安区长乐路1226号

本发明涉及一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置及方法，通过采用两台共聚焦显微镜直接定位量块的两个测量面，实现量块长度的测量，无需借助辅助面，避免了采用其他原理单方向测量时存在的量块与辅助面研合间隙造成的测量误差，结果更... 详细信息

标准号: CN116625193A

本发明涉及一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置及方法，通过采用两台共聚焦显微镜直接定位量块的两个测量面，实现量块长度的测量，无需借助辅助面，避免了采用其他原理单方向测量时存在的量块与辅助面研合间隙造成的测量误差，结果更为准确可靠。本发明涉及的一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置采用两台共聚焦显微镜对顶测量的方式，通过定位量块两个测量面实现测量，无需进行全范围扫描，仅需在量块的测量面附近进行慢速扫描，其余位置均可快速移动，在测量长度较长的量块时，可有效提升测量效率。

关键词：量块共聚焦显微镜测量测量面量块测量辅助面测量效率定位量块范围扫描方向测量快速移动直接定位慢速扫描

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基于探针干涉的三维微接触测头

基于探针干涉的三维微接触测头

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作者：吴俊杰魏佳斯蔡潇雨李源孙恺欣周勇 200031 上海市静安区长乐路1226号

本发明提供一种基于探针干涉的三维微接触测头，包括探测组件、悬挂组件和传感单元，探测组件的下端形成测球，测球用于与样品表面相接触；悬挂组件将探测组件悬挂在空中；测球不受外力时，悬挂组件使探测组件的水平基准面保持水平；测... 详细信息

标准号: CN117629067A

本发明提供一种基于探针干涉的三维微接触测头，包括探测组件、悬挂组件和传感单元，探测组件的下端形成测球，测球用于与样品表面相接触；悬挂组件将探测组件悬挂在空中；测球不受外力时，悬挂组件使探测组件的水平基准面保持水平；测球受外力时，悬挂组件限制探测组件只能沿中心轴线的方向上下移动或以转动中心为中心转动。上述三维微接触测头，可实现兼顾高精度、高动态特性的三维传感测量；通过优化设计，可实现三轴分辨力及刚度各向同性；传感单元和探测组件的分离式设计，使测头具备探测组件的互换性，可根据被测对象灵活更换具有不同尺寸和型号的测针的探测单元。

关键词：探测组件悬挂组件测球测头三维传感单元微接触分离式设计高动态特性水平基准面被测对象上下移动探测单元样品表面优化设计中心轴线中心转动转动中心互换性测针传感三轴探针下端分辨测量悬挂干涉灵活

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一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置

一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置

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作者：吴俊杰蔡潇雨魏佳斯李源周勇孙恺欣 200040 上海市静安区长乐路1226号

本实用新型涉及一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置，通过采用两台共聚焦显微镜直接定位量块的两个测量面，实现量块长度的测量，无需借助辅助面，避免了采用其他原理单方向测量时存在的量块与辅助面研合间隙造成的测量误差，结果更为... 详细信息

标准号: CN220398407U

本实用新型涉及一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置，通过采用两台共聚焦显微镜直接定位量块的两个测量面，实现量块长度的测量，无需借助辅助面，避免了采用其他原理单方向测量时存在的量块与辅助面研合间隙造成的测量误差，结果更为准确可靠。本实用新型涉及的一种基于共聚焦显微镜的量块测量装置采用两台共聚焦显微镜对顶测量的方式，通过定位量块两个测量面实现测量，无需进行全范围扫描，仅需在量块的测量面附近进行慢速扫描，其余位置均可快速移动，在测量长度较长的量块时，可有效提升测量效率。

关键词：量块共聚焦显微镜测量测量面本实用新型量块测量辅助面测量效率定位量块范围扫描方向测量快速移动直接定位慢速扫描

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基于探针干涉的三维微接触测头

基于探针干涉的三维微接触测头

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作者：吴俊杰魏佳斯蔡潇雨李源孙恺欣周勇 200031 上海市静安区长乐路1226号

本实用新型提供一种基于探针干涉的三维微接触测头，包括探测组件、悬挂组件和传感单元，探测组件的下端形成测球，测球用于与样品表面相接触；悬挂组件将探测组件悬挂在空中；测球不受外力时，悬挂组件使探测组件的水平基准面保持水平... 详细信息

标准号: CN221223684U

本实用新型提供一种基于探针干涉的三维微接触测头，包括探测组件、悬挂组件和传感单元，探测组件的下端形成测球，测球用于与样品表面相接触；悬挂组件将探测组件悬挂在空中；测球不受外力时，悬挂组件使探测组件的水平基准面保持水平；测球受外力时，悬挂组件限制探测组件只能沿中心轴线的方向上下移动或以转动中心为中心转动。上述三维微接触测头，可实现兼顾高精度、高动态特性的三维传感测量；通过优化设计，可实现三轴分辨力及刚度各向同性；传感单元和探测组件的分离式设计，使测头具备探测组件的互换性，可根据被测对象灵活更换具有不同尺寸和型号的测针的探测单元。

关键词：探测组件悬挂组件测球测头三维传感单元微接触本实用新型分离式设计高动态特性水平基准面被测对象上下移动探测单元样品表面优化设计中心轴线中心转动转动中心互换性测针传感三轴探针下端分辨测量悬挂干涉灵活

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白光干涉测量控制系统的集成化设计

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半导体技术 2021年第9期46卷 739-743页

作者：周勇蔡潇雨魏佳斯上海计测信息科技有限公司上海200234 上海市计量测试技术研究院上海201203

微纳技术的发展带动了微纳米检测计量仪器的发展,微纳米测量仪器的智能化、集成化和小型化是仪器研发中的共性问题。在白光干涉测量系统中,设计了基于STM32处理器的控制系统,该系统将原本分立的光源控制、相机控制和样品台控制等控制模... 详细信息

微纳技术的发展带动了微纳米检测计量仪器的发展,微纳米测量仪器的智能化、集成化和小型化是仪器研发中的共性问题。在白光干涉测量系统中,设计了基于STM32处理器的控制系统,该系统将原本分立的光源控制、相机控制和样品台控制等控制模块集成构建于一台控制器。针对白光干涉测量系统的控制需求设计开发了驱动电路、通信电路、光源控制电路和相机触发电路等。设计优化了信号同步、光源控制策略,从而提高了扫描同步性和测量稳定性。控制系统的集成化设计有效提高了光学三维轮廓仪的小型化和集成性,降低了仪器的制造和维护成本。

关键词：白光干涉法控制系统集成化设计 STM32处理器微纳测量

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白光干涉测量系统的测量不确定度评定

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计量学报 2021年第6期42卷 731-737页

作者：蔡潇雨魏佳斯孙恺欣刘娜张学典庄松林上海理工大学光电信息与计算机工程学院上海200093 上海市计量测试技术研究院上海201203 上海计测信息科技有限公司上海200234

白光干涉测量系统(white-light interference system,WLIS)广泛用于微纳米表面形貌的精密测量,其测量不确定度评定是研究白光干涉测量系统计量特性的一项重要工作。基于微纳米线间隔和台阶,建立了WLIS测量表面形貌时的测量模型,明确了... 详细信息

白光干涉测量系统(white-light interference system,WLIS)广泛用于微纳米表面形貌的精密测量,其测量不确定度评定是研究白光干涉测量系统计量特性的一项重要工作。基于微纳米线间隔和台阶,建立了WLIS测量表面形貌时的测量模型,明确了测量不确定度来源;以5000 nm的线间隔和180 nm的台阶高度为例,利用WLIS进行了测量,并分析WLIS的测量重复性、光学组件特性、传感器特性、运动模块性能、测试方法及环境等因素产生的不确定度分量,最终评定该WLIS测量线间隔和台阶高度的合成测量不确定度分别为21 nm和0.4 nm。对WLIS的不确定度评定确保了其测量结果的准确性、溯源性,并提出了提高系统整体计量特性的途径。

关键词：计量学表面形貌测量微纳米测量白光干涉线间隔台阶高度不确定度

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计量助力中国式现代化

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中国计量 2023年第5期 6-45页

作者：方向周自力缪寅宵杨永军刘民闫华锋杨立宏邓育红罗翥无施劲松何虹赵风勇谢晋王五一张丽虹吴安平李万升张遥奇胡良勇林永强尹慧琼邢波喻维纲何欣张鹏中国计量科学研究院中国航空研究院北京航天计量测试技术研究所北京长城计量测试技术研究所北京东方计量测试研究所中国航天科技集团公司国家高电压计量站中国电力科学研究院有限公司国家大容量第一计量站国家重大技术装备几何量计量站四川省产业计量测试研究院国家道路与桥梁检测设备计量站北京市市场监督管理局江苏省市场监督管理局计量处浙江省市场监督管理局计量处山东省市场监督管理局计量处湖北省市场监督管理局计量处山西省检验检测中心(山西省标准计量技术研究院)党委上海市计量测试技术研究院安徽省计量科学研究院山东省计量科学研究院湖南省计量检测研究院广州能源检测研究院国家高速列车产业计量测试中心(筹) 潍柴动力股份有限公司国家内燃机产业计量测试中心(筹) 国家磨料磨具产业计量测试中心(筹) 湘潭钢铁集团有限公司北京康斯特仪表科技股份有限公司深圳市中图仪器股份有限公司

全面提升计量科技水平推进中国式现代化进程习近平总书记强调:“以中国式现代化全面推进中华民族伟大复兴。”作为国家科技创新体系的重要组成部分,计量是构建一体化国家战略体系和能力的重要支撑,是国家质量基础设施的核心。计量发展... 详细信息

全面提升计量科技水平推进中国式现代化进程习近平总书记强调:“以中国式现代化全面推进中华民族伟大复兴。”作为国家科技创新体系的重要组成部分,计量是构建一体化国家战略体系和能力的重要支撑,是国家质量基础设施的核心。计量发展水平不仅关乎科技创新和经济发展,更关乎国家安全和国际竞争。因此,充分认识计量在国家发展中的重要战略地位,对于实现中国式现代化,实现民族复兴的宏伟目标,具有至关重要的意义。

关键词：中国式现代化国家科技创新体系重要战略地位计量科技国际竞争计量发展国家质量基础一体化

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