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    • 10 篇 教育学
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作者

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  • 1,045 篇 中文
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检索条件"机构=北京清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室"
1047 条 记 录,以下是771-780 订阅
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双镜式立体环形谐振腔的像散
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清华大学学报(自然科学版) 2006年 第11期46卷 1851-1853页
作者: 于江 杨利峰 毛文炜 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
双镜式立体环形谐振腔是一个典型的非对称统,为研究其像散特性,进行统等效处理,得到4×4的统光线变换矩阵,并利用分块矩阵的特征值性质求解得出统像散,得到了在不同结构参数情况下的像散曲线。计算结果表明,该统不是无像... 详细信息
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一种测量旋转轴线位置的高分辨率光纤传感器
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光电子.激光 2006年 第3期17卷 306-310页
作者: 褚渊 徐峰 陈书剑 丁天怀 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
研制了一种用于旋转轴线位置测量的高分辨率反射型强度调制(RI M)光纤传感器。在旋转部件端面刻划漫反射图谱,利用该图谱对反射光的强度调制,来获取旋转轴线位置偏移的大小和方向。该传感器制作工艺简单,分辨率可以达到0.1μm,灵敏度可... 详细信息
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光存储RS译码器设计与译码速度分析
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光电子.激光 2006年 第7期17卷 779-782页
作者: 张金 熊剑平 马骋 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
比较了reed-solomon(RS)译码的Berlekamp-Massey(BM)算法和Euclidean算法的运行速度,并选择BM算法设计了满足36 Mbps数据传输率(DTR)的RS译码器。针对现有几种光盘的DTR,进一步分析了光存储中RS译码速度的要求,并对译码中的有限域乘法... 详细信息
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多模光纤用于激光线宽零拍测量法的原理和实验研究
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光学技术 2006年 第3期32卷 346-348,352页
作者: 刘川 刘阳 孙利群 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
从理论上对零拍测量法测量激光线宽统的分辨率进行了计算,并在理论和实验结果中证明多模光纤也可用于光纤延时零拍统。实验建立起了1064nm、窄线宽、单纵模激光二极管泵浦Nd∶YVO4激光器的延时零拍多模光纤线宽测量统,并通过这一... 详细信息
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径向基粒子滤波状态跟踪测量算法
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机械工程学报 2006年 第12期42卷 21-25页
作者: 王雪 王晟 马俊杰 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
状态跟踪测量的过程噪声降低了目标信噪比,增加了自适应滤波跟踪的难度。当误差较大时,基本粒子滤波算法的预测累积误差效应将导致统发散。无迹粒子滤波算法利用无迹卡尔曼滤波提高重要性函数估计精度,减少后验概率密度分布误差,但同... 详细信息
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TL16C550在一种新型光纤陀螺中的应用
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光学技术 2006年 第1期32卷 95-97页
作者: 毛献辉 孙利群 田芊 滕云鹤 章燕申 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
再入式光纤陀螺使相互干涉的两路光在干涉之前循环进入Sagnac光纤敏感环。介绍了这一新型光纤陀螺的原理,采用专门的异步串行通信芯片TL16C550扩展DSP串口,实现陀螺与导航计算机的通讯。结果表明陀螺的数据输出可以达到1kHz,能实现陀螺... 详细信息
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基于iSCSI的存储设备性能测试与分析
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计算机工程 2006年 第16期32卷 264-266页
作者: 张继征 李栋 郭劲 贾惠波 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
利用国际上流行的评测工具对可能影响iSCSI存储设备性能的因素进行了测试分析。阐述了iSCSI与另外一种同样基于IP的网络存储技术NAS的本质区别,并在相同的软硬件环境下对iSCSI协议与NAS中所应用的NFS(Linux)/CIFS(Windows)协议的性能作... 详细信息
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基于强度干涉原理的双光路动态测量方法
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光学技术 2006年 第4期32卷 618-620页
作者: 王亮 李庆祥 李玉和 陈张玮 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
在近场光存储方案中,头盘间距动态测控技术是近场光存储理论和技术的实用化。根据近场光学头的飞行特点,提出了一种基于光强干涉原理的测量统,重点介绍了其测量原理和标定方法。采用双光路结构来提高测量分辨率,利用光偏振特性来消除... 详细信息
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硅微电阻电热式推进器的加热电阻的设计制作和试验研究
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机械工程学报 2006年 第2期42卷 105-109页
作者: 唐飞 王晓浩 叶雄英 周兆英 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
在电阻电热式微推进器中,用体硅设计制作了立柱状结构的加热电阻。典型的加热电阻柱横断面积为240μm ×60μm,高度为150μm,沟槽的宽度为50 μm。采用ICP(诱导耦合等离子)工艺制作。利用杂质半导体材料的电阻率随温度的变化特性,... 详细信息
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台阶高度测量方法研究现状进展
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光学技术 2006年 第1期32卷 111-114页
作者: 蒋天罡 李岩 张书练 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室 北京100084
台阶高度测量是目前新提出的国际计量比对项目之一,当前的趋势是向纳米量级精度发展并尽量扩大测量范围。在分析现状和背景的基础上,大致归类了测量台阶高度的几种光学方法,着重介绍了其中绝对干涉方案的最新进展,从测量原理、测量精度... 详细信息
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