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主题

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机构

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作者

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语言

  • 1,457 篇 中文
检索条件"机构=复旦大学专用集成电路与系统重点实验室"
1457 条 记 录,以下是1451-1460 订阅
排序:
可测性设计技术的进展
收藏 引用
半导体技术 1994年 第6期10卷 1-4页
作者: 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
叙述了可测性设计技术的发展及已取得的可行的可测性设计方法,并指出了今后的研究方向。
来源: 评论
JUGFET结构及其特性
收藏 引用
半导体技术 1994年 第5期10卷 25-27,30页
作者: 叶波 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
本文叙述了JUGFET的基本原理,介绍了它的器件结构和伏安特性,在此基础上提出了它的互补结构,分析了它的输出特性,同时简单介绍了它在集成电路中的应用。
来源: 评论
具有误差补偿的高分辨率A/D转换器设计
收藏 引用
微电子学 1994年 第6期24卷 22-26页
作者: 李清 复旦大学专用集成电路与系统重点实验室
本文介绍了一种误差补偿方法,并根据这种方法设计了高分辨率A/D转换器。该电路采用BiCMOS设计和开关电容电路,根据误差补偿原理设计了误差补偿电路,有效地抑制了由于电容不匹配所引起的误差,并通过高增益和高共模抑制比的... 详细信息
来源: 评论
实用BiCMOS电路可测性设计
收藏 引用
微电子学 1994年 第6期24卷 1-3页
作者: 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
本文提出了BiCMOS电路的实用可测性设计方案,该方案与传统方法相比,可测性高,硬件花费小,仅需额外添加两个MOS管和控制端,就可有效地用单个测试码测出BiCMOS电路的开路故障和短路故障,减少了测试生成时间,可广泛... 详细信息
来源: 评论
BiCMOS电路开路故障可测性设计
BiCMOS电路开路故障可测性设计
收藏 引用
全国第八届CAD/CG学术年会
作者: 叶波 郑增钰 复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
来源: 评论
CCD及其在象感领域的应用
收藏 引用
光电子技术 1994年 第4期14卷 254-261页
作者: 张万鹏 复旦大学电子工程系专用集成电路与系统国家重点实验室 上海200433
介绍 CCD 的基本工作原理,并详细介绍 CCD 结构的发展,以及它在象感领域中的作用。
来源: 评论
JUGFET及其应用
收藏 引用
微电子学 1994年 第3期24卷 23-26页
作者: 叶波 复旦大学电子工程系专用集成电路与系统国家重点实验室
本文叙述了JUGFET的基本原理,介绍了它的器件结构和伏安特性,在此基础上提出了它的互补结构,分析了它的输出特性,同时简单介绍了它在集成电路中的应用。
来源: 评论