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  • 106 篇 期刊文献
  • 11 篇 会议

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  • 117 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

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学科分类号

  • 80 篇 工学
    • 26 篇 电子科学与技术(可...
    • 15 篇 材料科学与工程(可...
    • 9 篇 机械工程
    • 7 篇 电气工程
    • 5 篇 兵器科学与技术
    • 4 篇 光学工程
    • 4 篇 仪器科学与技术
    • 4 篇 航空宇航科学与技...
    • 3 篇 控制科学与工程
    • 3 篇 计算机科学与技术...
    • 2 篇 信息与通信工程
    • 2 篇 化学工程与技术
    • 2 篇 交通运输工程
    • 2 篇 环境科学与工程(可...
    • 2 篇 安全科学与工程
    • 1 篇 动力工程及工程热...
    • 1 篇 石油与天然气工程
    • 1 篇 核科学与技术
    • 1 篇 软件工程
    • 1 篇 公安技术
  • 39 篇 理学
    • 35 篇 数学
    • 1 篇 物理学
    • 1 篇 化学
    • 1 篇 大气科学
    • 1 篇 系统科学
    • 1 篇 统计学(可授理学、...
  • 8 篇 管理学
    • 3 篇 管理科学与工程(可...
    • 3 篇 工商管理
    • 2 篇 公共管理
  • 1 篇 经济学
    • 1 篇 应用经济学

主题

  • 10 篇 失效分析
  • 9 篇 可靠性
  • 6 篇 环境试验
  • 6 篇 标准
  • 5 篇 失效案例
  • 5 篇 建议
  • 5 篇 失效机理
  • 4 篇 环境适应性
  • 3 篇 加速寿命试验
  • 3 篇 失效模式
  • 3 篇 测试性
  • 3 篇 印制电路板
  • 2 篇 引脚断裂
  • 2 篇 单粒子翻转
  • 2 篇 焊点
  • 2 篇 性能退化模型
  • 2 篇 石墨烯
  • 2 篇 故障处理
  • 2 篇 软错误
  • 2 篇 加速试验

机构

  • 80 篇 工业和信息化部电...
  • 61 篇 广东省电子信息产...
  • 35 篇 电子信息产品可靠...
  • 31 篇 电子信息产品可靠...
  • 24 篇 工业和信息化部电...
  • 17 篇 工业和信息化部电...
  • 12 篇 工业和信息化部电...
  • 10 篇 工业和信息化部电...
  • 9 篇 广东省电子信息产...
  • 6 篇 华南理工大学
  • 5 篇 广东省工业机器人...
  • 4 篇 泰州赛宝工业技术...
  • 3 篇 电子信息产品可靠...
  • 3 篇 广州市电子信息产...
  • 3 篇 空军装备部驻广州...
  • 3 篇 工业和信息化部电...
  • 3 篇 广东智能无人系统...
  • 3 篇 智能产品质量评价...
  • 2 篇 工业和信息化部电...
  • 2 篇 工业和信息化部电...

作者

  • 7 篇 徐焕翔
  • 6 篇 蔡颖颖
  • 6 篇 张钟文
  • 6 篇 张洪彬
  • 6 篇 王春辉
  • 5 篇 王毅
  • 5 篇 高春雨
  • 5 篇 zhang rui
  • 5 篇 zhang hong-bin
  • 5 篇 唐庆云
  • 5 篇 huang duojia
  • 5 篇 黄铎佳
  • 5 篇 gao chunyu
  • 5 篇 wang yi
  • 5 篇 张蕊
  • 5 篇 杨少华
  • 5 篇 唐雁煌
  • 5 篇 胡湘洪
  • 4 篇 peng bo
  • 4 篇 恩云飞

语言

  • 117 篇 中文
检索条件"机构=工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心"
117 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
非单调IG过程运算放大器剩余寿命预测
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探测与控制学报 2025年 第2期47卷 127-134页
作者: 殷如心 锁斌 杨少华 西南交通大学数学学院 四川成都610031 西南科技大学复杂环境装备可靠性研究中心 四川绵阳621900 工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室 广东广州511370
针对运算放大器退数据不满足单调递增情况下的剩余寿命预测问题,提出一种结合倒挂数据处理和IG过程(逆高斯过程)的寿命预测新方法。首先利用Bayes后验期望对倒挂退数据进行修正,然后建立每个样本的IG过程退轨迹,利用加速模型实现... 详细信息
来源: 评论
聚合物/石墨烯复合材料制备与研究进展
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中国塑料 2022年 第4期36卷 190-197页
作者: 彭博 肖运彬 顾家宝 陈梓钧 唐雁煌 朱刚 徐焕翔 工业和信息化部电子第五研究所 元器件可靠性分析中心广州510610
首先综述了聚合物/石墨烯复合材料的制备方法,重点介绍了两种近些年新开发的制备方法;之后综述了聚合物/石墨烯复合材料的结构设计与能;最后对聚合物/石墨烯复合材料的研究前景进行了展望。
来源: 评论
石墨烯制备与改研究进展
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塑料科技 2020年 第11期48卷 123-128页
作者: 彭博 陈梓钧 唐雁煌 张旭辉 徐焕翔 朱刚 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心 广东广州510610
石墨烯具有优异的光学、电学和力学特,在材料科学、超级电容器、能源、传感器、纳米器件和锂离子电池等领域具有巨大的应用前景,石墨烯的制备及改是石墨烯应用的前提。介绍了石墨烯的主要制备方法和还原方法,然后从改原理出发,分... 详细信息
来源: 评论
高温时效下Sn/SnPb混装焊点的微观组织研究
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华南理工大学学报(自然科学版) 2016年 第5期44卷 8-14页
作者: 周斌 李勋平 恩云飞 卢桃 何小琦 姚若河 华南理工大学电子与信息学院 广东广州510640 工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室 广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所可靠性研究分析中心 广东广州510610
针对Sn/Sn Pb混合组装焊点在工艺兼容和长期可靠性方面存在的问题,设计了带菊花链结构的板级电路,采用回流焊接工艺对无铅方形扁平封装(QFP)器件和Sn Pb焊料实现混合组装,对组装样品进行1500 h的高温老实验。通过对高温老前后混... 详细信息
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杂质诱导磷锗锌晶体光学薄膜激光损伤的研究
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中国激光 2015年 第6期42卷 216-223页
作者: 郝明明 路国光 汪丽娜 秦莉 朱洪波 刘夏 工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室 广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所可靠性研究分析中心 广东广州510610 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所发光学及应用国家重点实验室 吉林长春130033
对磷锗锌晶体光学薄膜激光损伤的机理进行了实验和理论研究。将同一批生长的磷锗锌晶体切割为6块,并利用相同的工艺对这些晶体进行抛光;对其中4只样品镀制双波段多层增透膜,利用扫描电子显微镜观察这4只样品的光学薄膜形貌,发现薄膜的... 详细信息
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聚碳酸亚丙酯生物降解能的表征、评价及研究进展
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塑料工业 2023年 第3期51卷 19-25页
作者: 郑智康 陈家伟 王湫 陈征广 时文超 彭博 张旭辉 东为富 江南大学化学与材料工程学院 江苏无锡214122 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心 广东广州510610
由于白色污染、全球变暖等环境问题越来越严重,二氧碳基生物降解材料聚碳酸亚丙酯(PPC)受到了高度关注。但是,目前关于PPC的综述主要集中在PPC合成和PPC改(针对耐热、力学能等),聚焦于PPC生物降解能的测试、评价及研究进展的... 详细信息
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纳米级静态随机存取存储器的α粒子软错误机理研究
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物理学报 2020年 第13期69卷 201-209页
作者: 张战刚 叶兵 姬庆刚 郭金龙 习凯 雷志锋 黄云 彭超 何玉娟 刘杰 杜广华 工业和信息化部电子第五研究所 电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室广州510610 中国科学院近代物理研究所 材料研究中心兰州730000 中国科学院微电子研究所 北京100029
本文使用镅-241作为α粒子放射源,开展65和90 nm静态随机存取存储器软错误机理研究,结合反向分析、TRIM和CREME-MC蒙特卡罗仿真揭示α粒子在器件中的能量输运过程、沉积能量谱和截面特.结果表明, 65 nm器件的软错误敏感远高于90 nm... 详细信息
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多层瓷介电容器失效模式和机理
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电子元件与材料 2011年 第7期30卷 72-75,80页
作者: 刘欣 李萍 蔡伟 工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点试验室 广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所可靠性研究分析中心 广东广州510610
系统介绍了开路、短路和电参数漂移这三种主要的MLCC失效模式,以及介质层内空洞和电极结瘤、介质层分层、热应力和机械应力引起介质层裂纹、其他微观机理等种主要的失效机理。针对MLCC的失效分析技术,从生产工艺和使用设计上提出了预... 详细信息
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基于模糊综合评判和层次分析法的中子管故障风险评估
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原子能科学技术 2019年 第11期53卷 2247-2256页
作者: 雷柏茂 李江燕 梁佩博 杨林森 孙强 工业和信息化部电子第五研究所 广东广州510610 广东省电子信息产品可靠性技术重点实验室 广东广州510610 电子信息产品可靠性分析与测试技术国家地方联合工程中心 广东广州510610 北京信成科技集团 北京100038
中子管是一种用途广泛的关键件,然而目前国产中子管的可靠性水平与国外相比还有一定差距,难以满足各行业的使用需求。本文分析了中子管的主要故障模式,采用模糊综合评判和层次分析法对中子管故障进行了多级模糊综合评判,并对中子管故... 详细信息
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电连接器烧损失效案例研究
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电子产品可靠性与环境试验 2021年 第1期39卷 19-26页
作者: 何骁 蒋武 周亮 袁光华 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心 广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所
谓电连接器烧损失效,指的是电连接器在使用过程中出现熔融、打火和燃烧等现象,是电连接器众多失效模式中危害最为严重的一种。基于近年来对电连接器烧损失效案例的统计,选取了2个典型的烧损失效案例(漏液烧损和压接不良烧损)进行研究... 详细信息
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