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  • 117 篇 电子文献
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  • 8 篇 管理学
    • 3 篇 管理科学与工程(可...
    • 3 篇 工商管理
    • 2 篇 公共管理
  • 1 篇 经济学
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主题

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  • 6 篇 标准
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  • 5 篇 失效机理
  • 4 篇 环境适应性
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  • 3 篇 失效模式
  • 3 篇 测试性
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  • 2 篇 焊点
  • 2 篇 性能退化模型
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  • 2 篇 故障处理
  • 2 篇 软错误
  • 2 篇 加速试验

机构

  • 80 篇 工业和信息化部电...
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  • 35 篇 电子信息产品可靠...
  • 31 篇 电子信息产品可靠...
  • 24 篇 工业和信息化部电...
  • 17 篇 工业和信息化部电...
  • 12 篇 工业和信息化部电...
  • 10 篇 工业和信息化部电...
  • 9 篇 广东省电子信息产...
  • 6 篇 华南理工大学
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  • 3 篇 电子信息产品可靠...
  • 3 篇 广州市电子信息产...
  • 3 篇 空军装备部驻广州...
  • 3 篇 工业和信息化部电...
  • 3 篇 广东智能无人系统...
  • 3 篇 智能产品质量评价...
  • 2 篇 工业和信息化部电...
  • 2 篇 工业和信息化部电...

作者

  • 7 篇 徐焕翔
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  • 5 篇 唐雁煌
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  • 4 篇 何骁
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  • 4 篇 刘子莲

语言

  • 117 篇 中文
检索条件"机构=工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心"
117 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
聚合物/石墨烯复合材料制备与研究进展
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中国塑料 2022年 第4期36卷 190-197页
作者: 彭博 肖运彬 顾家宝 陈梓钧 唐雁煌 朱刚 徐焕翔 工业和信息化部电子第五研究所 元器件可靠性分析中心广州510610
首先综述了聚合物/石墨烯复合材料的制备方法,重点介绍了两种近些年新开发的制备方法;之后综述了聚合物/石墨烯复合材料的结构设计与能;最后对聚合物/石墨烯复合材料的研究前景进行了展望。
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聚碳酸亚丙酯生物降解能的表征、评价及研究进展
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塑料工业 2023年 第3期51卷 19-25页
作者: 郑智康 陈家伟 王湫 陈征广 时文超 彭博 张旭辉 东为富 江南大学化学与材料工程学院 江苏无锡214122 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心 广东广州510610
由于白色污染、全球变暖等环境问题越来越严重,二氧碳基生物降解材料聚碳酸亚丙酯(PPC)受到了高度关注。但是,目前关于PPC的综述主要集中在PPC合成和PPC改(针对耐热、力学能等),聚焦于PPC生物降解能的测试、评价及研究进展的... 详细信息
来源: 评论
基于Transformer模型的3D NAND闪存剩余寿命预测方法
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电子 2024年
作者: 石颖 杨少华 周斌 吴福根 胡湘洪 广东工业大学材料与能源学院 工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室 广东工业大学省部共建精密电子制造技术与装备国家重点实验室 电子信息产品可靠性分析与测试技术国家地方联合工程研究中心
为了预测3D NAND闪存的剩余使用寿命以及提高数据存储的可靠性,本文设计了3D NAND闪存的高温和温度循环实验,分析了各项操作时间和原始错误比特数的变趋势。同时建立了一种改进的Transformer模型,以预处理后的寿命特征数据为输入,... 详细信息
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二极管应用失效研究
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电子产品可靠性与环境试验 2022年 第S01期40卷 41-44页
作者: 谢振锋 范思绮 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心 广东广州511370
针对二极管在整流电路中应用时的失效问题,通过I-V曲线测试、X射线透视检查、制样镜检、机械开封、电子显微镜观察与能谱分析等手段开展失效分析,确定失效是由于二极管的芯片焊接工艺缺陷导致,并提出了该缺陷的识别方法。
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关于电能表加速寿命试验标准的分析与探讨
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电子产品可靠性与环境试验 2022年 第S02期40卷 77-81页
作者: 余思达 郑曾雄 张乔木 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心 广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所 广东广州511370
GB/T 17215.9311—2017等同采用了IEC 62059—31—1:2008,为国内的电能表寿命评估工作引入了目前理论上较完备的试验技术标准。首先,介绍了GB/T 17215.9311整体工作框架和关键技术要点;然后,分析探讨了GB/T 17215.9311在分工作方法及... 详细信息
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印制板组件中氯离子腐蚀失效案例分析
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电子产品可靠性与环境试验 2022年 第4期40卷 35-40页
作者: 张培强 甘吉松 唐雁煌 张莹洁 朱刚 刘子莲 工业和信息化部电子第五研究所 广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性研究分析中心 广东广州511370
在印制板组件众多的失效中,氯离子引发的腐蚀、电迁移等是最为常见的失效模式。深度剖析了两个由氯离子引起电路板失效的典型案例,阐述了案例背景、分析过程、失效原因和失效机理,并提出了实际可行的解决方法与改善建议,对提高产品可... 详细信息
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气密封元器件气氛分析方法发展研究
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电子产品可靠性与环境试验 2022年 第3期40卷 92-94页
作者: 赵昊 彭泽亚 陈选龙 赖灿雄 周斌 工业和信息化部电子第五研究所可靠性分析中心 广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所 广东广州511370
近十余年,内气氛分析方法的研究进展很大,主要体现在分析对象的扩展和分析方法的简两个方面。研究了上述进步的深层次原因,并论述了MIL-STD-883K—2016和GJB 548B—2005中的相关内容。通过研究发现,MIL-STD-883K—2016中已对相关内... 详细信息
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基于加速模型的光耦寿命评估技术研究
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电子产品可靠性与环境试验 2022年 第S02期40卷 19-22页
作者: 刘树强 何继夫 赵鹏飞 韩立帅 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心 广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所装备与整机研究部 广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所 广东广州511370
光耦作为电网中的关键控制件,其使用寿命直接决定了电网的质量与传输效率,因此,如何评估其使用寿命及技术显得非常重要。以国外某公司的光耦为例,通过分析导致其退的敏感应力,设计了4组基于湿热的加速寿命试验,并通过数学建模对试... 详细信息
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气氛对元器件可靠性影响的机理研究
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电子产品可靠性与环境试验 2022年 第5期40卷 85-88页
作者: 赵昊 刘沛江 彭泽亚 赵振博 工业和信息化部电子第五研究所可靠性分析中心 广东广州511370 工业和信息化部电子第五研究所 广东广州511370
气氛含量过高容易导致元器件的失效。首先,介绍了内气氛引起元器件失效的4种类型;然后,分析和总结了造成元器件失效的机理;最后,提出了应对内气氛引起失效的相关建议,对于降低相关失效率,提高产品可靠性具有一定的指导意义。
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电连接器烧损失效案例研究
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电子产品可靠性与环境试验 2021年 第1期39卷 19-26页
作者: 何骁 蒋武 周亮 袁光华 工业和信息化部电子第五研究所元器件可靠性分析中心 广东广州510610 工业和信息化部电子第五研究所
谓电连接器烧损失效,指的是电连接器在使用过程中出现熔融、打火和燃烧等现象,是电连接器众多失效模式中危害最为严重的一种。基于近年来对电连接器烧损失效案例的统计,选取了2个典型的烧损失效案例(漏液烧损和压接不良烧损)进行研究... 详细信息
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