检索结果-内蒙古大学图书馆

物理学报 2006年第12期55卷 6701-6707页

作者：林子扬付哲刘立新胡涛屈军乐郭宝平牛憨笨深圳大学光电子学研究所光电子器件与系统教育部重点实验室广东省光电子器件与系统重点实验室深圳518060

五维同时荧光信息显微成像方法是一种新的荧光信息获取技术,它采用了双光子阵列点激发方式.这一方法可同时获取激发阵列点每点荧光的位置信息、荧光光谱信息和荧光寿命信息,弥补了现有荧光检测技术的不同功能信息不具有同时性的缺陷.给... 详细信息

五维同时荧光信息显微成像方法是一种新的荧光信息获取技术,它采用了双光子阵列点激发方式.这一方法可同时获取激发阵列点每点荧光的位置信息、荧光光谱信息和荧光寿命信息,弥补了现有荧光检测技术的不同功能信息不具有同时性的缺陷.给出了从这种技术的复合信息中提取复合光谱几何强度结构图像、不同光谱几何强度结构图像、不同光谱寿命图像的方法.提出了一种激发荧光强度修正系数矩阵方法,消除阵列点激发光强不均匀对激发荧光强弱产生的不利影响,取得明显效果.实验对实际样品做了数据采集和处理,给出图像结果,表明处理的效果良好.对存在的问题也作了讨论.

关键词：荧光信息处理双光子荧光光谱荧光寿命

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双随机相位编码光学加密系统的唯密文攻击

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物理学报 2007年第5期56卷 2629-2636页

作者：彭翔汤红乔田劲东深圳大学光电子学研究所光电子器件与系统教育部重点实验室深圳518060

针对双随机相位编码光学加密系统的安全性分析表明,该系统属于线性对称分组密码系统,其线性性质为安全性留下极大隐患.在唯密文攻击下,仅根据密文估计出物面波函数的“支撑”(support),然后利用迭代相位恢复算法获得物面波函数(其振幅... 详细信息

针对双随机相位编码光学加密系统的安全性分析表明,该系统属于线性对称分组密码系统,其线性性质为安全性留下极大隐患.在唯密文攻击下,仅根据密文估计出物面波函数的“支撑”(support),然后利用迭代相位恢复算法获得物面波函数(其振幅是明文信息),再根据物面波函数与频域密文的关系可推导出频谱平面的解密密钥.由于估计出来的物面波函数的“支撑”相对于真实的物面波函数的“支撑”有一定的平移,使得恢复的物面波函数与真实的物面波函数之间无论在振幅上还是相位上都存在平移,导致用推导出来的解密密钥去解密其他密文时所获得的明文与原始明文之间存在明显平移.然而,可依照这一先验信息,将估计出来的物面波函数的“支撑”在物面内遍历,从而找到逼近真实解密密钥的解.利用此解密密钥去解密其他密文时获得更好的解密效果.

关键词：光学信息安全双随机相位编码唯密文攻击函数支撑

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基于级联相位恢复算法的光学图像加密

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光学学报 2005年第7期25卷 881-884页

作者：于斌彭翔深圳大学光电子学研究所光电子器件与系统教育部重点实验室

在虚拟光学数据加密理论模型的基础上,提出了一种光学图像加密的可视化密码构造算法。该加密算法基于自由空间传播的光学系统,利用级联迭代角谱相位恢复算法把待加密图像分别编码到两块相位模板之中,从而实现图像的加密。该加密技术不... 详细信息

在虚拟光学数据加密理论模型的基础上,提出了一种光学图像加密的可视化密码构造算法。该加密算法基于自由空间传播的光学系统,利用级联迭代角谱相位恢复算法把待加密图像分别编码到两块相位模板之中,从而实现图像的加密。该加密技术不但可通过同时调整两块相位模板的相位分布的搜索策略来扩大搜索空间,提高安全强度,而且扩大了系统密钥空间,使系统获得更高的安全性,且能通过简单的数值运算或光学实验装置得到质量非常高的解密图像,还从理论上分析了该算法的时间复杂度。计算机模拟结果表明,该加密算法的收敛速度快,能迅速找到非常好的近似解,解密图像质量高且系统安全性良好。

关键词：信息光学光学加密信息安全级联相位恢复算法

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一种实现显微荧光寿命图的测量方法

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光学技术 2005年第3期31卷 326-329页

作者：林子扬牛憨笨郭宝平屈军乐彭文达田劲东深圳大学光电子学研究所光电子器件与系统教育部重点实验室深圳518060

将脉宽120fs、重复率76MHz激光引入激光扫描显微镜的激发光路,利用其扫描系统对荧光标记样品激发扫描,将激发出的荧光从荧光探测光路引入备用的外部探测口;在探测口接一快速光电倍增管,将光电倍增管的信号送给时间相关单光子计数器,获... 详细信息

将脉宽120fs、重复率76MHz激光引入激光扫描显微镜的激发光路,利用其扫描系统对荧光标记样品激发扫描,将激发出的荧光从荧光探测光路引入备用的外部探测口;在探测口接一快速光电倍增管,将光电倍增管的信号送给时间相关单光子计数器,获得时间相关的荧光强度图;最后通过计算机处理获得荧光寿命图。应用此系统对青色荧光蛋白(CFP)、黄色荧光蛋白(YFP)荧光寿命进行了测量,并应用CFP、YFP实现荧光共振能量转移的测量。通过实验看出利用已有的激光扫描显微镜,配合较先进的寿命测量方法,可以很好地实现显微荧光寿命图的测量。

关键词：荧光寿命寿命测量荧光标记寿命图

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半色调编码计算全息图的数字水印方法

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光学学报 2007年第6期27卷 1011-1017页

作者：彭翔白伟东田劲东深圳大学光电子学研究所教育部光电子器件与系统重点实验室深圳518060

提出一种新的基于信息光学的数字水印方法。该方法将水印信息隐藏于半色调编码的计算全息图之中。通过相位复原技术将需隐藏的水印信息编码为相位函数嵌入在复波前中,其振幅定义为宿主图像,通过计算全息记录复波前并对全息图进行半色调... 详细信息

提出一种新的基于信息光学的数字水印方法。该方法将水印信息隐藏于半色调编码的计算全息图之中。通过相位复原技术将需隐藏的水印信息编码为相位函数嵌入在复波前中,其振幅定义为宿主图像,通过计算全息记录复波前并对全息图进行半色调编码完成水印信息的嵌入。水印的提取过程只需对含有水印信息的半色调图像进行光学或数字的傅里叶变换即可完成。并给出了算法有效性的理论分析和仿真实验结果。结果证明这种水印技术对于各种数字图像处理操作具有很高的稳健性,且半色调编码图的二值特性使嵌入水印具有很强的抗打印、抗复印、抗扫描的能力。

关键词：信息光学信息隐藏数字水印计算全息半色调编码

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大动态范围长狭缝条纹相机系统

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强激光与粒子束 2008年第9期20卷 1558-1562页

作者：廖华杨勤劳张劲松郭宝平周军兰牛丽红深圳大学光电子学研究所光电子器件与系统教育部重点实验室广东深圳518060

为了满足ICF实验等离子体诊断需要,研制了一种大动态范围长狭缝软X射线条纹相机系统。该系统在保证30 mm的长狭缝的情况下,通过设计一种短聚焦区高压电子光学系统大大缩短电子的渡越时间、提高阳极工作电压至16.5 kV、弃用MCP内增强器... 详细信息

为了满足ICF实验等离子体诊断需要,研制了一种大动态范围长狭缝软X射线条纹相机系统。该系统在保证30 mm的长狭缝的情况下,通过设计一种短聚焦区高压电子光学系统大大缩短电子的渡越时间、提高阳极工作电压至16.5 kV、弃用MCP内增强器、采用光纤面板耦合和使用制冷CCD等一系列措施,达到改善扫描变像管条纹相机动态范围的目的,同时保证具有较高的时间分辨力。动态测试表明,该系统动态空间分辨力为15 lp/mm,时间分辨力优于31 ps,动态范围大于922。

关键词： X射线诊断变像管条纹相机动态范围时间分辨率

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高重复频率触发模式皮秒扫描相机

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光子学报 2005年第3期34卷 442-444页

作者：郭宝平 B.Cunin 牛憨笨深圳大学光电子学研究所广东省光电子器件与系统重点实验室光电子器件与系统教育部重点实验室

讨论了高重复频率扫描电路的研制,利用此扫描电路研制了扫描相机,使用掺钛兰宝石激光器进行了时间分辨率的标定,使用半导体激光器作为光源进行了脉冲宽度的测试最高工作频率为1MHz,时间分辨率为1.

关键词：高重复频率扫描相机 MOS晶体管扫描电路

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直流磁控反应溅射制备(002)择优取向AlN薄膜

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人工晶体学报 2006年第5期35卷 1113-1117页

作者：王质武刘文杨清斗卫静婷深圳大学光电子学研究所光电子器件与系统教育部重点实验室深圳518060

采用直流磁控溅射法,A l靶直径75mm,靶基距9 cm,本底真空3×10-5Pa,气体分压N2/Ar=1/3,工作气压0.2Pa,溅射功率72W,溅射时间1h,溅射过程不加热,使其自然升温,在S i(100)衬底上制备A lN薄膜。结合椭圆偏振仪、X射线衍射(XRD)、X射线... 详细信息

采用直流磁控溅射法,A l靶直径75mm,靶基距9 cm,本底真空3×10-5Pa,气体分压N2/Ar=1/3,工作气压0.2Pa,溅射功率72W,溅射时间1h,溅射过程不加热,使其自然升温,在S i(100)衬底上制备A lN薄膜。结合椭圆偏振仪、X射线衍射(XRD)、X射线光电子能谱(XPS)、扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)等测试手段研究了薄膜特性。结果表明,所制备的多晶A lN薄膜厚度为715nm,具有良好的(002)择优取向,其衍射峰半高宽(FWHM)为0.24°。XPS剥蚀260m in后O的原子浓度降为6.24%,A l和N化学剂量比非常接近1:1。A lN薄膜晶粒大小均匀,平均尺寸为35nm左右。表面粗糙度为0.37nm,表面均方根粗糙度为0.49nm,Z轴方向最高突起约3.13nm。

关键词：氮化铝薄膜直流磁控溅射择优取向

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铝基板上沉积氮化铝薄膜的制备及特性分析

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材料热处理学报 2008年第4期29卷 157-160页

作者：刘文杨清斗李华平王质武深圳大学光电子学研究所；广东省光电子器件与系统重点实验室；光电子器件与系统教育部重点实验室广东深圳518060

采用直流反应磁控溅射方法,在铝基板上制备了AlN薄膜。利用X射线衍射仪、带能量色散谱仪的扫描电子显微镜、阻抗特性测试仪、椭圆偏振光谱仪、大荷载划痕仪等对薄膜特性进行测试,分析了不同溅射工艺条件对生长薄膜的影响。结果表明,获... 详细信息

采用直流反应磁控溅射方法,在铝基板上制备了AlN薄膜。利用X射线衍射仪、带能量色散谱仪的扫描电子显微镜、阻抗特性测试仪、椭圆偏振光谱仪、大荷载划痕仪等对薄膜特性进行测试,分析了不同溅射工艺条件对生长薄膜的影响。结果表明,获得了化学计量比一致、结合力良好、击穿场强达112V/μm的(100)多晶择优取向AlN薄膜。

关键词：氮化铝反应磁控溅射 X射线衍射化学计量比击穿场强结合力

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硅基氮化铝薄膜的AFM和XPS分析

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压电与声光 2007年第6期29卷 723-725页

作者：刘文王质武杨清斗卫静婷深圳大学光电子学研究所广东省光电子器件与系统重点实验室光电子器件与系统教育部重点实验室广东深圳518060

在Si(111)基底上利用直流磁控溅射系统沉积氮化铝(AlN)薄膜,X-射线衍射分析薄膜结构和取向,原子力显微镜分析薄膜表面形貌,X-射线光电子能谱分析薄膜的元素化学价态和组分。结果表明,生长的AlN薄膜具有良好的(100)择优取向,其半峰宽为0.... 详细信息

在Si(111)基底上利用直流磁控溅射系统沉积氮化铝(AlN)薄膜,X-射线衍射分析薄膜结构和取向,原子力显微镜分析薄膜表面形貌,X-射线光电子能谱分析薄膜的元素化学价态和组分。结果表明,生长的AlN薄膜具有良好的(100)择优取向,其半峰宽为0.3°。薄膜表面粗糙度为0.23 nm,表面均方根粗糙度为0.30 nm,z轴方向最高突起约3.25 nm。薄膜表面组分为Al、N、O、C元素,其中C、O主要以物理吸附方式存在于薄膜表面,而Al、N元素的存在方式主要是Al—N化合物,深度剥蚀分析表明获得的AlN薄膜接近其化学计量比。

关键词：氮化铝直流磁控溅射原子力显微镜 X射线光电子能谱化学计量比

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