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    • 11 篇 教育学
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机构

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作者

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语言

  • 1,357 篇 中文
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检索条件"机构=清华大学精密仪器系精密测试与仪器国家重点实验室"
1359 条 记 录,以下是1281-1290 订阅
排序:
产生均匀焦斑的组合式衍射光学阵列器件
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中国激光 1999年 第9期26卷 803-807页
作者: 谭峭峰 严瑛白 金国藩 邬敏贤 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室 北京100084
提出并设计了一种不同尺寸的方形单元组成的衍射光学陈列器件,其外形逼近于圆形,以产生平顶、陡边、小劳瓣的焦班光强分布。对输入圆形光束有较大的填充因子,充分利用了光能。在设计上将二维简化为一维,且加工简单。基于爬山法和模... 详细信息
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体全息子波相关统并行性的研究
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光子学报 1999年 第5期28卷 414-419页
作者: 冯文毅 严瑛白 金国藩 邬敏贤 何庆声 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
基于体全息关联存储和子波变换的相关识别统,具有瞬间多通道并行处理的独特优点.本文从几何角度分析了决定统并行性的几个重要因素,得出提高统一次并行输出相关通道数目的主要途径.文中对构建的体全息子波相关统可实现的通... 详细信息
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铁路桥梁动挠度惯性测量方法
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仪器仪表学报 1999年 第1期20卷 20-22,40页
作者: 谢毅 严普强 毛乐山 清华大学精密仪器与机械学系精密测试技术与仪器国家重点实验室
铁路桥梁动挠度测量一直是困扰工程界的难题。传统的相对式测量方法需要在测量现场找到静止不动的基准点,难以实现。用地震式传感器测量动挠度,传感器的有限低频效应导致输出信号的畸变。本文提出一种结合信号恢复处理,用地震式低频... 详细信息
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CCD直接细分光栅位移传感器的研究
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光学技术 1999年 第3期25卷 1-3,7页
作者: 何树荣 肖宗扬 清华大学精密仪器系精密测试技术与仪器国家重点实验室
介绍一种采用CCD为测量元件的光栅位移传感器的设计方法。该方法利用CCD分辨率高、像素均匀的特点,对光栅刻线的像的移动进行精确定位和直接数字化,改变了以往对莫尔条纹进行位相细分的方法。该方法将细分和数字化在测量信号处... 详细信息
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折射混合望远物镜的设计、制作及实验
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光学技术 1999年 第3期25卷 28-31页
作者: 赵丽萍 赵子英 邬敏贤 金国藩 严瑛白 清华大学精密仪器系精密测试技术与仪器国家重点实验室
介绍了用以取代传统双胶合望远镜的混合单透镜的设计方法,结合设计实例详细介绍了折衍混合单透镜的制作过程及实验结果,并对实际成像效果进行了分析。首次给出了反映折衍混合统成像性能的图片。
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鼓形AT-切石英谐振器的力频特性
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压电与声光 1999年 第6期21卷 433-438页
作者: 王喆垚 朱惠忠 董永贵 冯冠平 清华大学精密仪器与机械学系 精密测试技术及仪器国家重点实验室北京100084
讨论了鼓形AT-切石英谐振器的力频特性。理论基础是初始有限变形上叠加弹性增量变形,并且使用了Mindlin所提出的把应变应力展开成板厚的级数的方法。在把三维运动方程简化为二维运动方程后。推导了带有电极的AT-切石英谐... 详细信息
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利用不确定性提高击中击不中变换的抗畸变能力
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光学学报 1999年 第2期19卷 155-162页
作者: 成罡 金国藩 邬敏贤 何庆生 刘海松 严瑛白 清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室
对用于目标识别技术的形态学击中击不中变换进行了分析,引入不确定点和模式的概念使得容易受到畸变干扰的像素点对判别结果的作用降低,得到联合排序多值击中击不中变换,从而在不损失图像信息的前提下,提高了目标识别的抗畸变能力,... 详细信息
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表面微观形貌测量中光探针大小对测量结果的影响
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光电工程 1999年 第2期26卷 30-34页
作者: 梁嵘 李达成 曹芒 赵洋 清华大学精密仪器系精密测试技术及仪器国家重点实验室
以AFM测量的表面微观形貌为基础,采用数值仿真技术,定量地分析光探针直径对表面微观形貌测量的影响。结果表明:评定参数Ra,Rq,Ry,Rz,Rku以及平均轮廓斜率和最大轮廓斜率都随光探针直径的增加而减小,Rsm随光探... 详细信息
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一种提高光学相关模式识别准确性的后处理方法
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光学学报 1999年 第7期19卷 924-928页
作者: 刘海松 邬敏贤 金国藩 成罡 何庆声 清华大学精密测试技术与仪器国家重点实验室
将基于绝对差算法的最小距离度量方法用于光学相关器产生的相关结果灰度图像的相似性度量,并以此为依据给出待识别图像与参考图像之间的相似性结论;避免了传统的以相关峰取阈为判决依据引起的误判现象,提高了判决准确率,甚至可以对... 详细信息
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用于扫描近场光学显微镜的一种新型非光学样品-探针间距测控方法
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电子显微学报 1999年 第1期18卷 119-123页
作者: 刘秀梅 洪涛 王佳 李达成 精密测试技术及仪器国家重点实验室 清华大学精密仪器系
扫描近场光学显微镜SNOM(scanningnear-fieldopticalmicroscope)自八十年代中期以来获得了迅速的发展,并具有超衍射极限光学分辨率。作为SNOM的关键技术之一,样品与探针间距的控制十分... 详细信息
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