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语言

  • 52 篇 中文
检索条件"机构=美国加州大学伯克利分校劳伦斯伯克利实验室"
52 条 记 录,以下是51-60 订阅
排序:
超纯半导体的高分辨率光热电离光谱
收藏 引用
科学通报 1990年 第3期35卷 173-176页
作者: 俞志毅 黄叶肖 朱景兵 陆卫 沈学础 Eugene E.Haller 中国科学院上海技术物理研究所红外物理开放研究实验室 上海200081 美国加州大学伯克利分校劳伦斯伯克利实验室
一、引言 超纯半导体不仅在核辐射及红外辐射探测等方面有重要应用,而且对半导体浅杂质态研究亦具有积极意义。由于超纯半导体中浅杂质含量极微,所有传统的杂质检测方法已难以探测和识别,因此很有必要发展相应的高灵敏度检测手段。
来源: 评论
半导体中浅杂质的傅里叶变换光热电离光谱
收藏 引用
物理学报 1989年 第11期38卷 1869-1873页
作者: 俞志毅 黄叶肖 陈建湘 叶红娟 沈学础 E.E.Haller 中国科学院上海技术物理研究所红外物理开放研究实验室 美国加州大学伯克利分校劳伦斯伯克利实验室
本文报道与快扫描傅里叶变换红外光谱仪相结合的光热电离光谱实验装置和测量系统。采用该系统高分辨率、高灵敏度地研究和测量高纯锗和高纯硅中的剩余浅杂质获得成功。在P型超纯Ge中发现浓度低达10~8cm^(-3)的硼受主杂质的光热电离谱线... 详细信息
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