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作者

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  • 344 篇 中文
检索条件"机构=西安电子科技大学微电子学所宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室"
344 条 记 录,以下是191-200 订阅
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硅基双极低噪声放大器的能量注入损伤与机理
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Journal of Semiconductors 2008年 第12期29卷 2403-2407页
作者: 柴常春 杨银堂 张冰 冷鹏 杨杨 饶伟 西安电子科技大学微电子学院教育部宽禁带半导体材料与器件重点实验室 西安710071
针对Si基双极型低噪声放大器(LNA),用脉冲调制150MHz射频信号在其输入端进行了能量注入实验,研究结果表明Si基LNA的噪声系数和增益特性都是注入能量的敏感参数.样品解剖和电路仿真显示能量作用使LNA内晶体管出现基极/发射极金属化损伤... 详细信息
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Band Edge Model of (101)-Biaxial Strained Si
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2008年 第9期29卷 1670-1673页
作者: 宋建军 张鹤鸣 戴显英 胡辉勇 宣荣喜 西安电子科技大学微电子学院 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室西安710071
A band edge model in (101)-biaxial strained Si on relaxed Si1-x Gex alloy,or monoclinic Si (m-Si),is presented using the k · p perturbation method coupled with deformation potential theory. Results show that ... 详细信息
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异质栅非对称Halo SOI MOSFET亚阈值电流模型
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半导体 2008年 第4期29卷 746-750页
作者: 栾苏珍 刘红侠 贾仁需 王瑾 西安电子科技大学微电子学院 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室西安710071
在沟道源端一侧引入高掺杂Halo结构的异质栅SOI MOSFET,可以有效降低亚阈值电流.通过求解二维泊松方程,为该器件建立了亚阈值条件下的表面势模型.利用常规漂移.扩散理论,在表面势模型的基础上,推导出新结构器件的亚阈值电流模型.为了求... 详细信息
来源: 评论
A Low-Voltage,High Efficiency Power Generation Structure for UHF RFID
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2008年 第2期29卷 293-297页
作者: 庞则桂 庄奕琪 李小明 李俊 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
This paper presents a new power generation structure that can provide DC energy for passive UHF RFID with high sensitivity and high efficiency. The structure is designed with 0.18μm standard CMOS technology, includin... 详细信息
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异质外延GaN中穿透位错对材料发光效率的影响
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Journal of Semiconductors 2008年 第3期29卷 521-525页
作者: 高志远 郝跃 李培咸 张进城 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
用阴极射线致发光(CL)法、透射电子显微镜(TEM)和X射线衍射(XRD)法研究了异质外延GaN材料的发光性质与结构特性的关系.结果表明,GaN外延层中的穿透位错是材料有效的非辐射复合中心,但GaN的CL带边峰强度并不随位错密度的增加而减少.两步... 详细信息
来源: 评论
Ohmic Contact Property of Ti/Al/Ni/Au on AlGaN/GaN Heterostructures for Application in Ultraviolet Detectors
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2008年 第11期29卷 2187-2191页
作者: 张军琴 杨银堂 柴常春 李跃进 贾护军 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
Ohmic contacts of Ti/Al/Ni/Au multi-layer metal on A10.27 Ga0.73N/GaN heterostructures were fabricated. Specific contact resistivities were measured by the linear transmission line method (LTLM) and the circular tra... 详细信息
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A Compensation Mechanism for Semi-Insulating 6H-SiC Doped with Vanadium
收藏 引用
Journal of Semiconductors 2008年 第2期29卷 206-209页
作者: 王超 张义门 张玉明 王悦湖 徐大庆 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
A model is presented to describe a compensation mechanism for semi-insulating 6H-SiC grown with the intentional doping of vanadium. Because we found nitrogen to be the principal shallow donor impurity in SiC by second... 详细信息
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一种基于CMOS工艺的新型结构ESD保护电路
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Journal of Semiconductors 2008年 第9期29卷 1808-1812页
作者: 张冰 柴常春 杨银堂 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 西安710071
根据全芯片静电放电(ESD)损伤防护理论,设计了一种新型结构保护电路,采用0.6μm标准CMOSp阱工艺进行了新型保护电路的多项目晶圆(MPW)投片验证.通过对同一MPW中的新型结构ESD保护电路和具有同样长比的传统栅极接地MOS(GG-nMOS)保护电... 详细信息
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一种基于准浮栅技术的12位D/A转换器
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电路与系统 2008年 第5期13卷 44-47页
作者: 杨银堂 张宝君 张海军 西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 陕西西安710071
提出了基于准浮栅技术的1.2V全差分运算放大器。由该准浮栅全差分运算放大器实现了一个12位并行结构的电容定标数模转换器(DAC)。设计的DAC通过按比例缩放方法由两个6位并行DAC组合构成,在提高其分辨率的同时减少了DAC需的芯片面积... 详细信息
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KOH热湿腐蚀法准确估算GaN的位错密度(英文)
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功能材料器件 2008年 第4期14卷 742-750页
作者: 高志远 郝跃 张进城 张金凤 倪金玉 宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室微电子学院西安电子科技大学 西安710071
实验目的在于解决GaN外延层中六方形腐蚀坑起源问题存在的分歧,并利用腐蚀法准确地估计GaN的位错密度。大量对熔融KOH腐蚀GaN过程中表面形貌的演化以及温度和时间对腐蚀结果影响的实验结果表明,位错类型与腐蚀坑三维形状相对应,而与腐... 详细信息
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